[發(fā)明專利]用于半導(dǎo)體封裝的銀合金焊接導(dǎo)線有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410041997.5 | 申請日: | 2014-01-27 |
| 公開(公告)號: | CN104009015B | 公開(公告)日: | 2018-07-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 黃威智;彭政展;洪子翔;鄭惠文 | 申請(專利權(quán))人: | 光洋應(yīng)用材料科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L23/49 | 分類號: | H01L23/49;H01B1/02 |
| 代理公司: | 上海一平知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31266 | 代理人: | 須一平 |
| 地址: | 中國臺灣臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 半導(dǎo)體 封裝 合金 焊接 導(dǎo)線 | ||
一種用于半導(dǎo)體封裝的銀合金焊接導(dǎo)線,包含一銀合金組份,包括銀、鈀、一第一添加劑,及一第二添加劑,基于該銀合金組份的重量百分比為100wt%計,鈀的重量百分比大于0且小于2wt%,該第一添加劑的重量百分比不小于0.001wt%,且不大于2wt%,該第二添加劑的重量百分比不小于0.001wt%,且不大于2wt%,該第一添加劑選自銦、鎵、錫、磷,及其中一組合,該第二添加劑選自鉑、金、釔,及其中一組合。本發(fā)明的銀合金焊接導(dǎo)線不需高濃度的鈀含量,仍在焊合于一鋁墊片后具備優(yōu)良的可靠度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種焊接導(dǎo)線,特別是涉及一種用于半導(dǎo)體封裝的銀合金焊接導(dǎo)線。
背景技術(shù)
引線鍵合(wire bonding)工藝(又稱焊接導(dǎo)線工藝)是半導(dǎo)體封裝工藝技術(shù)領(lǐng)域中重要的一環(huán),其主要是利用引線鍵合的方式,使得一焊接導(dǎo)線焊合于一半導(dǎo)體芯片的一金屬墊片(pad)表面,特別是一鋁墊片表面。
然而,當該焊接導(dǎo)線是以銀為主體的銀合金焊接導(dǎo)線時,焊合于該半導(dǎo)體芯片的鋁墊片表面的焊接導(dǎo)線與鋁間的界面處易形成一層鋁銀介金屬化合物(Ag2Al)而該鋁銀介金屬化合物在潮濕且含水氣的環(huán)境易使焊接導(dǎo)線的銀發(fā)生伽凡尼腐蝕(Galvaniccorrosion),導(dǎo)致該焊接導(dǎo)線形成于鋁墊片后的封裝成品的可靠度降低。
針對此問題,中國臺灣第201233817號專利公開案所揭示的內(nèi)容主要利用整體焊接導(dǎo)線中含有高濃度的鈀,配合添加鈣、鑭、銪,或鈹?shù)仍貜娀y合金焊接導(dǎo)線的可靠性,其原理在于高濃度的鈀在焊接于該鋁墊片上時,將形成鈀濃化層,可抑制銀與氧化鋁受腐蝕的程度。然而,該銀合金焊接導(dǎo)線中仍需含有4%以上的金,及至少2%以上的高濃度的鈀,才能在焊接于鋁墊片上時能通過基本的可靠性測量項目;該專利公開案也揭示,鈀的含量低于2wt%時,便無法抑制鋁銀介金屬化合物的生成而使得可靠度低,且金與鈀本身為貴重且價格高昂的金屬,所以該專利公開案所揭示的銀合金焊接導(dǎo)線的成本非常高。
發(fā)明內(nèi)容
因此,發(fā)明人潛心研究低鈀含量及低金含量的銀合金焊接導(dǎo)線。
本發(fā)明的目的在于提供一種低鈀含量的用于半導(dǎo)體封裝的銀合金焊接導(dǎo)線。
本發(fā)明用于半導(dǎo)體封裝的銀合金焊接導(dǎo)線,包含銀合金組份,該銀合金組份包括銀、鈀、一第一添加劑,及一第二添加劑,基于該銀合金組份的重量百分比為100wt%計,鈀的重量百分比大于0且小于2%,該第一添加劑的重量百分比不小于0.001wt%,且不大于2wt%,該第二添加劑的重量百分比不小于0.001wt%,且不大于2wt%,該第一添加劑選自銦、鎵、錫、磷,及其中一組合,該第二添加劑選自鉑、金、釔,及其中一組合。
本發(fā)明的用于半導(dǎo)體封裝的銀合金焊接導(dǎo)線,鈀的重量百分比不大于1.5wt%。
本發(fā)明的用于半導(dǎo)體封裝的銀合金焊接導(dǎo)線,該第一添加劑選自鎵、銦,及其組合。
本發(fā)明的用于半導(dǎo)體封裝的銀合金焊接導(dǎo)線,該第二添加劑選自鉑、金、及其組合。
本發(fā)明的用于半導(dǎo)體封裝的銀合金焊接導(dǎo)線,該第一添加劑為鎵及銦,該第二添加劑為金。
本發(fā)明的有益效果在于:銀合金焊接導(dǎo)線整體的鈀濃度小于2wt%,仍可通過銀、鈀、該第一添加劑,及該第二添加劑間的配合,除了降低銀原子接近鋁墊片的機會,并進一步增加焊合于該鋁墊片后鄰近該鋁墊片的區(qū)域的鈀濃度,進而有效阻擋易發(fā)生腐蝕的鋁銀介金屬化合物的生成機率,并使銀合金焊接導(dǎo)線焊合于該鋁墊片時仍具有高可靠度。
具體實施方式
有關(guān)本發(fā)明的前述及其他技術(shù)內(nèi)容、特點與功效,在以下一個較佳實施例的詳細說明中,將可清楚的呈現(xiàn)。
本發(fā)明用于半導(dǎo)體封裝的銀合金焊接導(dǎo)線主要是電連接半導(dǎo)體芯片的一鋁墊片及一印刷電路板的導(dǎo)電線路的一鋁墊片,本發(fā)明銀合金焊接導(dǎo)線是通過焊接的方式焊合于該鋁墊片表面。
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