[發(fā)明專利]大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)中基于線長(zhǎng)最短優(yōu)化的繞障布線方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410036947.8 | 申請(qǐng)日: | 2014-01-26 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103984789B | 公開(公告)日: | 2017-01-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張浩;葉東毅;陳羽中;余春艷;張棟;楊晶菁 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 福州大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G06F17/50 | 分類號(hào): | G06F17/50 |
| 代理公司: | 福州元?jiǎng)?chuàng)專利商標(biāo)代理有限公司35100 | 代理人: | 蔡學(xué)俊 |
| 地址: | 350108 福建省福州市*** | 國(guó)省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 大規(guī)模 集成電路設(shè)計(jì) 基于 線長(zhǎng)最短 優(yōu)化 布線 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及大規(guī)模集成電路物理設(shè)計(jì)技術(shù)領(lǐng)域,特別是一種大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)中基于線長(zhǎng)最短優(yōu)化的繞障布線方法。
背景技術(shù)
大規(guī)模集成電路物理設(shè)計(jì)中,在曼哈頓模型下,基于線長(zhǎng)最短優(yōu)化的布線方法是物理設(shè)計(jì)中總體布線和詳細(xì)布線最重要的基礎(chǔ)工作。隨著集成電路技術(shù)的迅速發(fā)展,現(xiàn)代集成電路設(shè)計(jì)中大量引入了宏單元、IP模塊、預(yù)布線線網(wǎng)等,使得布線芯片上的出現(xiàn)了大量的矩形障礙且個(gè)數(shù)仍在不斷增加。同時(shí),需要互聯(lián)的引腳個(gè)數(shù)也在不斷的增加,使得布線難度也增大。在布線過(guò)程中,需要將同屬于一個(gè)線網(wǎng)的所有引腳通過(guò)一個(gè)直角斯坦納樹連通起來(lái),且不穿過(guò)任何的矩形障礙。所得到的直角斯坦納樹的總線長(zhǎng)是該問(wèn)題的一個(gè)重要指標(biāo)。因此,設(shè)計(jì)一個(gè)基于線長(zhǎng)最短優(yōu)化的繞障布線方法顯得尤為重要。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)中基于線長(zhǎng)最短優(yōu)化的繞障布線方法,該方法布線布局合理,所得線長(zhǎng)短,布線效果好。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:一種大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)中基于線長(zhǎng)最短優(yōu)化的繞障布線方法,首先根據(jù)逃逸圖理論構(gòu)建布線問(wèn)題布線圖,然后采用多源并發(fā)探索方法選擇頂點(diǎn)標(biāo)記為必經(jīng)點(diǎn),再基于必經(jīng)點(diǎn)集合構(gòu)建一個(gè)可行解Steiner樹,最后優(yōu)化可行解。
在本發(fā)明一實(shí)施例中,該方法具體包括以下步驟:
步驟(1)?初始化,輸入布線問(wèn)題的線網(wǎng)信息和障礙信息;
步驟(2)?根據(jù)線網(wǎng)信息和障礙信息,構(gòu)造逃逸圖G=(V,E,T,ω);所述逃逸圖為帶權(quán)無(wú)向圖,E表示邊集合,V?表示頂點(diǎn)集合,引腳對(duì)應(yīng)的頂點(diǎn)稱為端點(diǎn),T表示端點(diǎn)集合,???????????????????????????????????????????????表示邊的權(quán)重映射函數(shù),邊的權(quán)重對(duì)應(yīng)邊在布線區(qū)域的實(shí)際線長(zhǎng);
步驟(3)?采用多源并發(fā)探索方法標(biāo)記必經(jīng)點(diǎn),得到必經(jīng)點(diǎn)集合PV;
步驟(4)?將必經(jīng)點(diǎn)集合和端點(diǎn)集合的并集PV∪T中頂點(diǎn)都看成端點(diǎn),使用Steiner樹構(gòu)造方法構(gòu)建一個(gè)可行解ST;
步驟(5)?優(yōu)化可行解ST。
在本發(fā)明一實(shí)施例中,所述步驟(3)中,所述必經(jīng)點(diǎn)是指期望在構(gòu)造可行解時(shí)經(jīng)過(guò)這些頂點(diǎn),所述多源并發(fā)探索方法包括以下步驟:
步驟(3.1)?初始化過(guò)程:用端點(diǎn)集合中各個(gè)端點(diǎn)分別構(gòu)成一個(gè)頂點(diǎn)集,并分別作為泰森圖種子也即源點(diǎn),每個(gè)泰森圖種子設(shè)置為未標(biāo)記狀態(tài);
步驟(3.2)?擴(kuò)展過(guò)程:從多個(gè)未標(biāo)記的泰森圖種子出發(fā)構(gòu)建泰森圖,記錄遍歷過(guò)程中得到的橋邊,每輪擴(kuò)展過(guò)程頂點(diǎn)遍歷范圍為當(dāng)前找到橋邊的最小跨度Range,即對(duì)當(dāng)前遍歷頂點(diǎn)u有u.dist?≤?Range,否則進(jìn)入回溯過(guò)程;
步驟(3.3)?回溯過(guò)程:從所有遍歷到的橋邊中選出跨度最小且相應(yīng)泰森圖種子Si和Sj都未標(biāo)記的一組主橋邊MBs(Si,Sj),以每個(gè)主橋邊上的每個(gè)頂點(diǎn)為當(dāng)前點(diǎn),采用回溯法遍歷Si和Sj之間的所有最短路徑,每條最短路徑的兩端頂點(diǎn)都添加到必經(jīng)點(diǎn)集合PV中,該些最短路徑上的所有頂點(diǎn)構(gòu)成頂點(diǎn)集SPSij,進(jìn)入更新過(guò)程;
步驟(3.4)?更新過(guò)程:頂點(diǎn)集Si、Sj和SPSij中所有頂點(diǎn)構(gòu)成一個(gè)新的泰森圖種子Sn,使用Sn替代Si和Sj,Sn設(shè)置為標(biāo)記狀態(tài),繼續(xù)執(zhí)行回溯過(guò)程,直到所有的泰森圖種子都為標(biāo)記狀態(tài);
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