[發明專利]一種基于混響室條件下的織物材料屏蔽效能測試方法有效
| 申請號: | 201410036868.7 | 申請日: | 2014-01-24 |
| 公開(公告)號: | CN103777099A | 公開(公告)日: | 2014-05-07 |
| 發明(設計)人: | 劉逸飛;程二威;陳永光;王慶國;趙敏;曲兆明;王研 | 申請(專利權)人: | 中國人民解放軍軍械工程學院 |
| 主分類號: | G01R31/00 | 分類號: | G01R31/00 |
| 代理公司: | 石家莊新世紀專利商標事務所有限公司 13100 | 代理人: | 楊欽祥;張素靜 |
| 地址: | 050003 *** | 國省代碼: | 河北;13 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 混響室 條件下 織物 材料 屏蔽 效能 測試 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種基于混響室條件下的織物材料屏蔽效能測試方法,尤其適用于混響室內織物材料的屏蔽效能的檢測。
背景技術
隨著電子信息技術的飛速發展,電磁環境日益惡化,隨之而來的電磁干擾問題日趨凸顯,紗線混紡等織物材料在導電織物袋、防電磁輻射服等領域得到廣泛應用,因此正確評價此類材料的電磁屏蔽能力變得尤為重要。然而傳統材料屏蔽效能測試方法逐漸暴露出某些不足,并不能全面、客觀的反映其真實的電磁屏蔽能力。例如我國的GJB6190-2008中規定的屏蔽室法與法蘭同軸法普遍采用單一平面波垂直輻照受試材料,而材料實際面對的電磁環境往往比這要復雜的多,這些測試方法顯然無法準確評估材料在復雜電磁環境下的屏蔽能力。
混響室作為一種新興的電磁兼容性測試場地,能夠提供電磁波傳播方向多樣、極化方式隨機的電磁環境。由于混響室電磁環境與材料在實際使用中遇到的電磁環境情況更為接近,因此混響室條件下的材料屏蔽效能測試結果更加貼近實際,成為未來評價材料屏蔽能力的技術發展趨勢。為此,國際電工委員會提出將開有測試窗口的一個小混響室放置于混響室內,并在測試窗口加載受試材料,通過對比大、小混響室內的平均功率值來計算材料的屏蔽效能。然而該方法無法消除測試窗口對結果的影響,其中最顯著的一個問題就是在未加載受試材料時,因測試窗口的孔徑耦合效應,得到的屏蔽效能值并不為零。
針對上述問題,需要提出一種新的材料屏蔽效能測試方法,消除測試窗口等因素對結果的影響,準確表征材料在復雜電磁環境下的屏蔽能力。
發明內容
本發明要解決的技術問題是提供一種混響室條件下的織物材料電磁屏蔽效能的測試方法,評估織物材料在復雜電磁環境下的電磁屏蔽能力。
為解決上述問題,本發明采用如下技術方案:
本發明的步驟如下:
步驟1:利用被測織物電磁屏蔽材料構建一個小型機械攪拌混響室:
首先通過非導電桿橫縱交叉構造三維框架,然后將被測織物電磁屏蔽材料制成同樣大小的三維腔體;所述三維腔體的一面安裝有拉鏈;打開拉鏈,用非導電桿制成的三維框架將所述被測織物電磁屏蔽材料撐起,形成一個各壁面由被測織物電磁屏蔽材料包覆的三維腔體,在三維腔體內部放置一個由步進電機與扇葉組成的第一攪拌器,而后拉緊拉鏈,構成一個密閉的小型機械攪拌混響室;
步驟2:將所述小型機械攪拌混響室放置于大混響室的測試區域內,形成一個嵌套混響室;
步驟3:設置信號源的頻率并通過發射天線向大混響室輻射電磁波,啟動置于小型機械攪拌混響室外部、大混響室內部的第二攪拌器使得電磁波從各個方向輻照小混響室,同時啟動所述第一攪拌器;
步驟4:分別測量大混響室和小型機械攪拌混響室內在一個攪拌周期內的2個以上的電場值,并分別計算其電場平均值Eout和Ein;
步驟5:依照如下公式(1)計算被測織物電磁屏蔽材料的屏蔽效能:
SE=20*log???????????????????????????????????????????????????????????????????????(1)
其中,SE為被測織物電磁屏蔽材料的屏蔽效能;
步驟6:判斷所需測試頻點是否測試完畢,若未測試完畢,則返回步驟4重復上述步驟;若所需測試頻點測試完畢,則結束測試。
所述非導電桿為塑料桿或PVC管。
本發明的有益效果為:(1)利用被測織物屏蔽材料構建矩形腔體,并接收各個方向電磁波的輻照,避免了以往測試窗口的孔縫耦合效應對測試結果的影響,測試結果更加精確。(2)本方法采用大、小混響室嵌套,使被測織物材料的屏蔽效能在入射方向、極化方向任意的電磁環境下即可測得,利用了電磁場“統計均勻”的特性,較傳統單一平面波垂直輻照受試材料的測試結果更加貼近實際,能夠更好地評估材料在實際使用中的電磁屏蔽能力。(3)大、小混響室內的電場檢測探頭測試位置可任意放置,測試結果重復性好,不同人員在不同混響室內測試得到的結果具有可比性。
附圖說明
附圖1為本發明的測試流程圖。
附圖2為由被測被測織物電磁屏蔽材料構建的小型機械攪拌混響室透視結構圖。
附圖3為本發明使用的測試系統的結構原理圖。
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