[發明專利]一種微裂紋鑒定古陶瓷的方法

在審

• 申請號: 201410033023.2
• 申請日: 2014-01-24
• 公開（公告）號: CN103868927A
• 公開（公告）日: 2014-06-18
• 發明（設計）人: 陳毅俠;蔚建璽
• 申請（專利權）人: 陳毅俠;蔚建璽
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種微裂紋鑒定古陶瓷的方法。

背景技術

傳統的古陶瓷鑒定，是基于專業人員的個人經驗和知識積累作為古陶瓷鑒定的方法和依據，也就是古陶瓷鑒定的“眼學”手段。傳統的知識經驗和眼學，對于古陶瓷的判斷，有賴于從業者的個人經驗和能力，存在不可避免的人為主觀因素，沒有準確的參照標準和嚴格的量化手段。這種眼學手段對于古陶瓷判斷的準確性、可靠性，完全取決于從業者個人的綜合判斷能力和主觀判斷；傳統眼學在古陶瓷鑒定的實際運用中既難于做到客觀、理性、準確；并具有很大的主觀性、隨機性；也無法規范、量化，無法復制，難于推廣普及。

近年來古陶瓷鑒定的科學手段有《熱釋光絕對斷代法》、《X熒光能譜儀成分分析法》，《脫玻化鑒定法》等。

《熱釋光絕對斷代法》是通過一種測量方法來完成的，測量方法是先用輻射同位素(如以Sr-90作為β源；以Am-241作為α源)放出定量輻射劑量照射陶瓷樣品，計算出能夠引發同量的天然熱釋光所需的輻射劑量，此劑量就是天然熱釋光的「輻射當量」。將測得的陶瓷每年接受的輻射劑量代入下列簡單公式中就能計算出它的年齡。《熱釋光絕對斷年法》局限于設備的昂貴，檢測成本昂貴，對于大多數收藏者來說，缺乏廣泛的實用性。同時，對于測定器物，在人為輻射干擾下，嚴重影響測定的結果，從而失去對人為輻射干擾器物正確的判斷。同時要對檢測器物產生損害和破壞，對于珍貴品種和精小器物，就是不可取的。

《X熒光能譜儀成分分析法》是通過測定被檢測樣品的胎釉成分和參照標本的數據對完成古陶瓷的胎釉對比和歸納來做出判斷的。其局限于設備成本大、檢測成本高、參照標本的原始數據庫來源是否可靠和全面，因而未能被古陶瓷收藏者和機構廣泛推廣和采用。

發明內容

本發明的目的是提供一種微裂紋鑒定古陶瓷的方法，簡單實用。

本發明的目的是通過以下技術方案來實現：

一種微裂紋鑒定古陶瓷的方法，其特征在于，其包括以下步驟，

步驟一：在待鑒定陶瓷標本上隨即選取五個檢測點，并將各個檢測點釉層表面的附著物用濕棉布擦拭干凈；

步驟二：將擦拭干凈后的待檢測點分別通過調焦顯微鏡觀測，檢測出各個檢測點釉層的微裂紋晶像，并拍攝成像；

步驟三：將拍攝成像的微裂紋晶像圖片與已知真品的各個朝代的古陶瓷微裂紋晶像圖片進行對比，初步確定該待鑒定陶瓷的年份；

步驟四：根據待鑒定陶瓷的款識、紋飾、工藝和材料，與步驟三初步確定年份內陶瓷的款識、紋飾、工藝和材料進行對比，得出待鑒定陶瓷的具體年份，鑒定完畢。

進一步的，所述調焦顯微鏡為自帶成像系統的100X-400X可調焦光學數碼顯微鏡或可連接顯示器便的攜式100X--400X電子數碼顯微鏡。

本發明的有益效果為：本方法簡單實用，而且易學，通過簡易的設備即可鑒定，判斷準確可靠。

具體實施方式

實施例1：

選取一年代不詳的玉壺春瓶作為待鑒定陶瓷，首先觀察該玉壺春瓶，發現該器物完整，無破損顯現，這是一件完整的釉面沒有附著物的干凈瓷器。因此無需清洗處理，即可上機檢測；然后對該玉壺春瓶選擇五個檢測點，分別位于該玉壺春瓶的文字和不同紋飾部位；由于釉層有0.2-1.2mm的厚度，微裂紋會生長于不同的層面和空間，因此使用自帶成像系統的100X-400X可調焦光學數碼顯微鏡對五個檢測點進行觀察，并檢測出各不同深度的微裂紋晶相，并拍攝成像。

然后對得到的五張檢測后的圖像進行分析，發現五張檢測后的圖像中的釉層微裂紋晶相具有以下共同特點：一是出現有規律的微裂紋晶相，二是五個檢測點均有微裂紋分布，三是微裂紋晶相為立體幾何形狀的菊花狀、云霧裝和霧凇狀，四是微裂紋在同一檢測點的不同釉層深度均有分布。因此初步分析該玉壺春瓶釉下呈紅色，有流動狀熔融現象，可確定為銅紅釉品種，而且釉層微裂紋晶相呈立體，且具有多層次晶相，經與已知真品的微裂紋晶像圖片對比分析，該器物為元末明初時期產品。

隨后在觀察該玉壺春瓶的款識、紋飾、工藝和材料，發現該玉壺春瓶沒有款識，從紋飾和造型工藝特征分析，其蓮瓣紋分開不借邊，底足修胎工藝較為粗糙，且接胎痕跡明顯，與元代產品特征符合，所以該玉壺春瓶的鑒定結果為元代中晚期釉里紅詩文玉壺春瓶。

本發明不局限于上述最佳實施方式，任何人在本發明的啟示下都可得出其他各種形式的產品，但不論在其形狀或結構上作任何變化，凡是具有與本申請相同或相近似的技術方案，均落在本發明的保護范圍之內。