[發明專利]一種元素分析的測定方法和裝置

無效

• 申請號: 201410031971.2
• 申請日: 2014-01-23
• 公開（公告）號: CN103792223A
• 公開（公告）日: 2014-05-14
• 發明（設計）人: 段旭川
• 申請（專利權）人: 天津師范大學
• 主分類號: G01N21/71
• 分類號: G01N21/71;G01N1/44
• 代理公司: 天津市杰盈專利代理有限公司 12207
• 代理人: 朱紅星

1.一種元素分析的測定方法，其特征在于通過向待測樣品中加入裂解時可釋放氫的無機化合物并使其與樣品混合均勻，然后使該混合物在450℃-980℃溫度下進行裂解，使元素形成揮發物被原子光譜儀測定；所述的裂解釋放氫的無機化合物指的是：硫氫化鈉、硫氫化鉀、硫化銨、硫化氫氨、碘化銨、硫化氫或碘化氫；其中加入無機化合物的重量為樣品重量的0.2-100倍。

2.權利要求1所述元素分析的測定方法，其中加入無機化合物的重量為樣品重量的0.5—50倍。

3.權利要求1所述元素分析的測定方法，其中所測的元素指的是：砷、汞、銻、鉍、硒、鍺、錫、鉛和碲。

4.一種用于元素分析測定的居里點裂解器，其特征在于該裂解器包括感應加熱線圈（1），石英反應襯管（2）、反應腔（3）、反應管密封塞及樣品托一體化裝置（4）、載氣入口（5）、載氣出口（6），樣品坩堝或箔（7），樣品坩堝或箔承載用的托（8）、坩堝或箔承載用的支架（9），樣品坩堝或箔受到來自感應線圈的磁場作用，產生渦流使坩堝或箔快速升溫到居里點溫度，在此溫度下，樣品中的元素和釋氫試劑反應生成元素揮發物被測定,其中坩堝或箔承載用的支架與密封塞連接桿。

5.根據權利要求4所述的居里點裂解器，其特征在于待測元素樣品間接裝載在居里點坩堝或包裹折疊的箔內時，坩堝或箔接觸樣品的表面噴涂或襯有一層高分子聚合物或對元素揮發物無分解作用的非金屬氧化物涂層；其中非金屬氧化物涂層指的是二氧化硅、二氧化鈦、三氧化二鋁或氧化鋯。

6.根據權利要求4所述的居里點裂解器，其特征在于所述的坩堝或箔壁的厚度為0.05-1毫米。

7.根據權利要求4所述的居里點裂解器，其特征在于樣品坩堝或箔（7）由居里點溫度在450℃-980℃的居里點材料組成，樣品受居里點材料加熱后從室溫升到居里點溫度所需要的時間小于1秒。

8.根據權利要求4所述的居里點裂解器，其特征在于樣品坩堝或箔（7）由居里點溫度500℃-800℃的居里點材料組成，樣品受居里點材料加熱后從室溫升到居里點溫度所需要的時間小于500毫秒。

9.根據權利要求4所述的居里點裂解器，其特征在于載氣進入襯管和從襯管中被輸出時的開口位置首選開在襯管兩端的側面，樣品入口密封塞為硅橡膠密封塞。

10.根據權利要求4所述的居里點裂解器，其特征在于該居里點裂解器用于含氫材料的裂解，通過裂解產生的氫與樣品中的待測元素反應，生成元素揮發物被原子光譜儀測定。