[發明專利]一種太陽能電池的鈍化層及其制備工藝無效
| 申請號: | 201410031420.6 | 申請日: | 2014-01-23 |
| 公開(公告)號: | CN103746009A | 公開(公告)日: | 2014-04-23 |
| 發明(設計)人: | 羅偉;劉吉人;萬資仁;唐維泰;余欽章;李文艷;李愛麗;潘若宏;張志紅 | 申請(專利權)人: | 通用光伏能源(煙臺)有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/0216 | 分類號: | H01L31/0216;H01L31/18 |
| 代理公司: | 煙臺雙聯專利事務所(普通合伙) 37225 | 代理人: | 梁翠榮 |
| 地址: | 265500 山東*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 太陽能電池 鈍化 及其 制備 工藝 | ||
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技術領域
????本發明屬于半導體領域,尤其涉及光電類材料的應用領域,具體涉及一種太陽能電池的鈍化層及其制備工藝。
背景技術
目前的太陽能技術中,降低晶體硅成本是日益競爭的光伏產業追求的目標之一,為降低硅原料成本,最普遍采用的方法是降低硅片的厚度,不斷的降低硅片厚度,使得光生載流子很容易擴散到表面而復合,表面的復合速率對太陽能電池的性能影響很大,而通過制備鈍化層可以極大的降低表面復合速率,從而提高太陽能電池的性能。
發明內容
本發明的目的在于提供一種太陽能電池的鈍化層,該鈍化層采用新的鈍化材料,用于取代傳統的Al2O3鈍化材料,能有效提高鈍化層與硅的晶格匹配度,從而提高鈍化效果。本發明同時提供該鈍化層的制備工藝。
為實現本發明的上述目的所采用的技術方案是:一種太陽能電池的鈍化層,其特征是該鈍化層是由稀土氮化物(REN)構成,所述的稀土氮化物為氮化鑭(LnN)、氮化鐠(PrN)、氮化銣(NdN)、氮化钷(PmN)、氮化釤(SmN)、氮化銪(EuN)、氮化鋱(TbN)、氮化鏑(DyN)、氮化鈥(HoN)、氮化銩(TmN)、氮化鐿(YbN)、氮化镥(LuN)、氮化鈧(ScN)、氮化釔(YN)、氮化釓(GdN)、氮化鈰(CeN2)、氮化鉺(ErN))?中的一種。
本發明的鈍化層可應用于單晶硅、多晶硅太陽能電池的鈍化工藝中。
上述太陽能電池的稀土氮化物鈍化層的制備工藝為:當P型晶體硅完成沉積減反射膜工序后,先采用有機化學氣相沉積方法(MOCVD)在P型晶體硅襯底的P型一側沉積稀土氮化物鈍化層,然后在同一腔室內,在稀土氮化物鈍化層上沉積鋁保護膜,完成鈍化層的制備。
所沉積的稀土氮化物鈍化層的最佳厚度為1~10nm。
在稀土氮化物的MOCVD沉積方法中,稀土元素的前驅體為該稀土元素的有機金屬化合物,氮的提供者為氮氣,腔室的反應溫度為500~900℃,壓力為1~5mbar,蒸發溫度為100~140℃,沉積時間為10~60s。在鋁保護膜的沉積過程中,鋁的前驅體為(三甲基鋁)TMAl,載氣為H2?,沉積溫度為400~600℃,蒸發溫度為80~120℃,厚度為10~100nm。
本發明的上述技術方案中,在P型晶體硅的制作過程中,當P型晶體硅完成襯底清洗、制絨、擴散磷、邊緣刻蝕、HF酸清洗、沉積減反射膜工序后,采用有機化學氣相沉積(MOCVD)方法在晶體硅片背部(背光面)沉積稀土氮化物鈍化層和鋁保護膜,最后制備柵線電極和鋁背場,完成晶體硅電池的制備。
稀土氮化物(REN)常溫下與Si一樣,都呈立方相結構,與傳統的鈍化材料Al2O3相比,與Si的晶格匹配常數更為接近(a(Al2O3)=7.91;?a(REN)≈5A;a(Si)=5.4A),晶格失配率很低,可以在Si上生長出高質量的薄膜,是制備鈍化層的理想材料。本發明將稀土氮化物做為制備太陽能電池鈍化層的鈍化材料,在太陽能電池的制作中,在P型晶體硅的背面沉積稀土氮化物鈍化層和鋁保護膜,因采用稀土氮化物制作晶硅電池的鈍化層,晶格匹配良好,且具有場效應鈍化和化學鈍化的雙重作用,所以鈍化效果良好。稀土氮化物鈍化層由MOCVD方法制備,獲得的鈍化層晶體結構完整,缺陷密度低,與晶硅襯底晶格匹配性好,保證了電池的鈍化效果。
附圖說明
圖1為含有稀土氮化物鈍化層的晶體硅太陽能電池的結構示意圖;
圖2為含有稀土氮化物鈍化層的晶體硅太陽能電池制備流程圖。
具體實施方式
下面結合附圖和具體實施的例子對本發明做進一步詳細的描述,然而所述的實施例不應以限制的方式解釋。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





