[發明專利]基于五芯光纖光柵的三維微尺度測量裝置及方法

有效

• 申請號: 201410030740.X
• 申請日: 2014-01-17
• 公開（公告）號: CN103759653A
• 公開（公告）日: 2014-04-30
• 發明（設計）人: 崔繼文;馮昆鵬;譚久彬
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工業大學
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種基于五芯光纖光柵的三維微尺度測量裝置，包括寬頻光源(1)、光譜分析儀(2)、光環型器(3)、控制計算機(4)、多路光開關(5)和外部參考光柵(7)，所述寬頻光源(1)和光譜分析儀(2)分別與光環型器(3)連接，光環形器(3)與多路光開關(5)、多路光開關(5)與控制計算機(4)、控制計算機(4)與光譜分析儀(2)、多路光開關(5)與外部參考光柵(7)連接形成通路，其特征在于五根單模光纖(6)分別將多路光開關(5)與五芯光纖扇出器(8)連通，五芯光纖(9)的一端連接在五芯光纖扇出器(8)上，在五芯光纖(9)的另一端部上通過探針夾持器(10)固裝五芯光纖光柵探針(11)，所述的五芯光纖(9)與五芯光纖光柵探針(11)連接形成通路。

2.一種基于五芯光纖光柵的三維微尺度測量方法，其特征在于測量過程中，多路光開關(5)在控制計算機(4)的控制下切換不同的光路，使用光譜分析儀(2)分別測量五芯光纖光柵探針(11)內部的五根光纖光柵和外部參考光柵(7)的反射光譜，數據處理中，對五芯光纖光柵探針(11)中心外正交的兩組光纖光柵反射光譜中心波長做差分數據處理，可以解耦二維徑向觸測位移和溫漂，對五芯光纖光柵探針(11)中心的光纖光柵和外部參考光柵(7)反射光譜中心波長做差分數據處理，可以獲得無徑向觸測位移和溫漂耦合的軸向觸測位移，實現無溫度耦合的三維微尺度測量。