[發明專利]一種用于無源光網絡測試的ONU狀態測試儀

無效

• 申請號: 201410029895.1
• 申請日: 2014-01-22
• 公開（公告）號: CN103763023A
• 公開（公告）日: 2014-04-30
• 發明（設計）人: 黃鳳玲;趙奎;拱息發;于競雄;肖丹誼
• 申請（專利權）人: 桂林聚聯科技有限公司
• 主分類號: H04B10/071
• 分類號: H04B10/071
• 代理公司: 桂林市華杰專利商標事務所有限責任公司 45112
• 代理人: 劉梅芳

技術領域

本發明涉及光通信測試儀，特別涉及一種用于無源光網絡測試的ONU狀態測試儀。

背景技術

隨著光纖到戶的普及，無源光網絡維護的工作量越來越大，無源光網絡中最難維護的是最后一公里部分。無源光網絡中，ONU常常被放置在用戶家中，很多情況下，維護人員卻不方便入戶進行對ONU進行測試和巡檢。

目前維護無源光網絡的常用儀器為PON光功率計和光時域反射儀。PON光功率計可以測試來自OLT方向的1490nm信號光功率和來自ONU方向的1310nm突發信號光功率；光時域反射儀可以測試光纖線路的工作狀態。

目前PON光功率計和光時域反射儀是兩臺獨立的儀器，而且它們不能直接準確給出ONU的工作狀態。比如：當使用PON光功率計測試到沒有來自1310nm信號光功率時，維護人員不能判斷出究竟是因為光纖斷了還是因為ONU掉電，或者是因為ONU未連接到光纖上。使用光時域反射儀可以測試出光纖線路是否正常，但不能直接區分出ONU處于掉電狀態還是處于未連接到光纖線路的狀態，光時域反射儀也不能判斷ONU是否存在故障。

目前測量1310nm突發信號光功率時，采用的方法如公開號為CN1833384“用于測試光網絡的方法和裝置”、CN201409137“測試無源光網絡的光功率計”中所述，需要使用寬帶寬放大器放大信號后測量脈沖光信號的脈沖峰值幅度，電路設計較為復雜。

發明內容

本發明的目的是針對現有技術的不足，而提供一種無需進入用戶家里的情況下，就可以測試出無源光網絡ONU的連接狀態和工作狀態，維護效率較高的用于無源光網絡測試的ONU狀態測試儀。

本發明的目的是通過下述的技術方案來實現的：

一種用于無源光網絡測試的ONU狀態測試儀，由2×2光分路器、光功率測量模塊、光時域反射儀和突發信號光功率測量模塊、以及綜合處理單元模塊組成；

2×2光分路器的端口S3連接到光功率測量模塊，將OLT方向來的光信號輸到光功率測量模塊中；2×2光分路器的端口S4連接到光時域反射儀和突發信號光功率測量模塊，將ONU方向來的光信號輸出到光時域反射儀和突發信號光功率測量模塊中；綜合處理單元模塊與光功率測量模塊、光時域反射儀和突發信號光功率測量模塊連接。

所述的光時域反射儀和突發信號光功率測量模塊由1×2光分路器、激光二極管、脈沖發生器、光電探測器、互阻放大器、模/數轉換器和控制器組成，

1×2光分路器的公共端為本模塊的光信號輸入/輸出端口，1×2光分路器的其中一個分路端口連接到光電探測器，光電探測器與互阻放大器、模/數轉換器、控制器、脈沖發生器、激光二極管順序連接，激光二極管與1×2光分路器的另一個分路端口連接；

光電探測器輸出的光電流被互阻放大器放大后送給模/數轉換器進行模/數轉換，1×2光分路器的另一個分路端口連接到激光二極管，脈沖發生器受控制器控制并驅動激光二極管。

所述2×2光分路器的分光比為30：70。

所述的光功率測量模塊由1490nm濾波器和一個平均光功率測量模塊組成。

所述光時域反射儀和突發信號光功率測量模塊中的突發信號光功率測量模塊為1310nm突發信號光功率測量模塊。

所述互阻放大器的帶寬為25MHz。

所述模/數轉換器的取樣頻率為50MHz。

本測試儀通過2×2光分路器，以串聯到無源光網絡的光線路中的方式進行測量。

它通過1490nm光功率測量模塊，測量來自OLT方向的1490nm信號光功率。該模塊包含一個1490nm光信號濾波器，濾除1490nm光信號以外的光信號，以測量平均光功率方式測量來自OLT方向的1490nm信號光功率。

它通過光時域反射儀和1310nm突發信號光功率測量模塊測量來自ONU方向的1310nm突發信號光功率。

當測量到1310nm突發信號光功率低于-40dBm時，啟動OTDR測量ONU方向的光纖線路，根據光纖線路末端點的回波損耗值，判斷該末端點的類型：光纖線路斷點或ONU端點；如果是光纖線路斷點，報告斷點位置；如果是ONU端點，報告ONU的狀態：掉電或未連接到光纖線路。

在光時域反射儀和1310nm突發信號光功率測量模塊中，共用接收電路（由一個1×2光分路器、一個光電探測器、一個互阻放大器、一個模/數轉換器、一個控制器組成）進行1310nm突發信號光功率測量和光時域反射儀測量，以分時方式進行不同的測量。