[發明專利]基于原子力顯微鏡的單粒子或單分子示蹤裝置及示蹤方法有效
| 申請號： | 201410029607.2 | 申請日： | 2014-01-22 |
| 公開（公告）號： | CN103792393A | 公開（公告）日： | 2014-05-14 |
| 發明（設計）人： | 王宏達;潘延剛;徐海嬌;蔡明軍;單玉萍;蔣俊光 | 申請（專利權）人： | 中國科學院長春應用化學研究所 |
| 主分類號： | G01Q60/24 | 分類號： | G01Q60/24 |
| 代理公司： | 長春菁華專利商標代理事務所 22210 | 代理人： | 南小平 |
| 地址： | 130022 吉林*** | 國省代碼： | 吉林;22 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 原子 顯微鏡 粒子 分子 裝置 方法 | ||
【權利要求書】：
1.基于原子力顯微鏡的單粒子或單分子示蹤裝置，其特征在于，包括：
控制器、掃描器、微懸臂、原子力顯微鏡探針及激光檢測器；
所述掃描器可在所述控制器的控制下按照特定方向伸縮；所述微懸臂的一端安裝在所述掃描器上，另一端安裝有所述原子力顯微鏡探針。
2.權利要求1所述的基于原子力顯微鏡的單粒子或單分子示蹤裝置的示蹤方法，其特征在于，包括以下步驟：
步驟一、在進行單粒子或單分子示蹤測量前對原子力顯微鏡探針針尖進行檢測物的修飾；示蹤測量過程中，原子力顯微鏡探針以恒定的力與被測物表面接觸；當檢測物與被測物有相互作用時微懸臂發生偏轉，掃描器的壓電陶瓷的伸縮距離發生變化；
步驟二、利用數據采集卡采集微懸臂偏轉隨時間變化的關系以及壓電陶瓷的伸縮距離隨時間變化關系，實現對于單粒子或單分子的示蹤。
3.根據權利要求2所述的示蹤方法，其特征在于，
檢測物包括：單個單分子、多個單分子、單個病毒或單個納米粒子。
4.根據權利要求2所述的示蹤方法，其特征在于，
被測物包括：細胞膜、人工磷脂膜、人工納米孔、能內吞或轉運單個分子及顆粒的體系。
5.根據權利要求2所述的示蹤方法，其特征在于，原子力顯微鏡探針與被測物表面以小于10pN恒定的力接觸。
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院長春應用化學研究所，未經中國科學院長春應用化學研究所許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410029607.2/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
