[發明專利]基于線掃描局部峰值分析的手機隔板砂粒檢測方法

有效

• 申請號: 201410029594.9
• 申請日: 2014-01-22
• 公開（公告）號: CN103745476A
• 公開（公告）日: 2014-04-23
• 發明（設計）人: 張東波;劉霞;宋迪;張瑩;張東暉
• 申請（專利權）人: 湘潭大學
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00
• 代理公司: 湘潭市匯智專利事務所 43108
• 代理人: 顏昌偉

1.一種基于線掃描局部峰值分析的手機隔板砂粒檢測方法，包括以下步驟：

（1）對待檢測手機隔板圖像進行掩膜操作得到待檢測區域圖像；

（2）采用兩種不同尺寸的圓盤結構元素分別對步驟（1）得到的待檢測區域圖像進行頂帽變換，首先選擇一個尺寸大于砂粒點的結構元素對原圖像進行頂帽變換，然后再選擇一個尺寸小于砂粒點的結構元素對原圖再進行一次頂帽變換，然后以兩次頂帽變換的差值作為預處理增強的輸出圖像；

（3）設計長度為l的線段按等角度θ逆時針旋轉掃描步驟（2）得到的預處理圖像，根據圖像旋轉公式計算旋轉α角度后掃描線段上各鄰域點的坐標，以掃描線段終點的像素灰度值為閾值對其掃描線上的鄰域點進行二值編碼，以此二進制數值作為該點的線掃描響應值同時利用砂粒在相對反方向上灰度變化呈近似對稱的特性，計算相反方向上的掃描響應值得到掃描響應圖；

（4）根據砂粒點在理想峰值掃描值r_op定義在α方向上該點為峰值點的可能性從而計算該點屬于局部峰值的可能性測度最終得到局部峰值評價圖；

（5）結合灰度信息和局部峰值可能性測度，計算待檢測點屬于砂粒的匹配分數S^t(x,y)，得到分數映射圖，同時采用雙閾值處理技術，實現手機隔板殘留砂粒的提取與分割。

2.根據權利要求1所述的基于線掃描局部峰值分析的手機隔板砂粒檢測方法，其特征在于：所述兩種不同尺寸的頂帽變換操作分別采用的是半徑為5和1的圓盤結構元素。

3.根據權利要求1所述的基于線掃描局部峰值分析的手機隔板砂粒檢測方法，所述步驟（3）的具體步驟為：

①設計長度為l的線段，l略大于砂粒點半徑，通過旋轉掃描步驟（2）得到的預處理增強圖像，掃描線的起始點o位于待檢測像素點上，然后以o點為原點按等角度θ逆時針旋轉，旋轉方向α選取公式：

α∈Φ={ψ₁,ψ₂...}:0°≤ψ_i<360°∧ψ_i+1-ψ_i=θ???（5）

②設置初始掃描線上各點坐標為：

L0l=xxxx......xyy+1y+2y+3......y+l]]>

根據式（6）計算旋轉角度α后掃描線段上各鄰域點的坐標，

Lαl=cos(a)-sin(α)sin(α)cos(α)*L0l]]>

如果掃描線旋轉后的鄰域點坐標不是整數，則通過雙線性插值法計算得到該位置的圖像灰度值；

③以原點o為起始點，令掃描線上各點的編號為p=0,1,...,l，而是α方向第p個鄰域點的圖像灰度值，以作為基準，比較與的值，對該掃描線上的鄰域點進行二值編碼，如果小于或等于那么該鄰域像素點位置就被標記為0，否則標記為1，編碼原理如式（7）所示，

BM^l_α={s[g(L^l_α[0])-g(L^l_α[l])],...,s[g(L^l_α[l])-g(L^l_α[l])]}???（7）

其中s為符號函數，s(z)=1,z>00,z≤0;]]>

將二進制編碼依序從起始點到端點分別與對應鄰域點權值2^l-p進行加權求和，得到線掃描響應值

rαl=Σp=0lBMαl(p)*2l-p---(8)]]>

④根據同樣的原理計算相反方向上的掃描響應值計算和時，均以端點為閾值，對掃描線上各點進行二值化。