[發(fā)明專利]頻率檢測裝置及頻率檢測方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410029576.0 | 申請日: | 2014-01-22 |
| 公開(公告)號: | CN104730336B | 公開(公告)日: | 2017-09-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 何宗憲 | 申請(專利權(quán))人: | 財團(tuán)法人資訊工業(yè)策進(jìn)會 |
| 主分類號: | G01R23/02 | 分類號: | G01R23/02 |
| 代理公司: | 北京律誠同業(yè)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11006 | 代理人: | 徐金國 |
| 地址: | 中國臺灣臺北市*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 頻率 檢測 裝置 方法 | ||
1.一種頻率檢測裝置,其特征在于,包括:
一濾波器,用以接收一輸入信號,并用以濾波該輸入信號,以產(chǎn)生一待測信號;
一偵測模塊,其中該偵測模塊用以利用一二階微分器偵測該待測信號的多個波峰或多個波谷,以產(chǎn)生多個偵測信號,其中所述偵測信號分別對應(yīng)所述波峰或所述波谷,且所述偵測模塊包括:
一偵測單元,其中該偵測單元用以偵測該待測信號的所述波峰及所述波谷,以產(chǎn)生多個極值信號,并用以利用該二階微分器二階微分該待測信號以產(chǎn)生該待測信號的一二階微分信號,其中所述極值信號分別對應(yīng)所述波峰及所述波谷;以及
一判斷單元,用以根據(jù)所述極值信號以及該待測信號的該二階微分信號,產(chǎn)生所述偵測信號;以及
一計算模塊,用以接收所述偵測信號,并用以根據(jù)所述偵測信號計算該待測信號的一頻率。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的頻率檢測裝置,其特征在于,該偵測單元包括:
一第一微分器,用以微分該待測信號,以產(chǎn)生該待測信號的一一階微分信號;
一第二微分器,用以微分該待測信號的該一階微分信號,以產(chǎn)生該待測信號的該二階微分信號;以及
一零點偵測器,用以于該待測信號的該一階微分信號為零的多個時間點分別產(chǎn)生所述極值信號。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的頻率檢測裝置,其特征在于,該判斷單元用以于接收到所述極值信號且該待測信號的該二階微分信號的數(shù)值為正數(shù)或為負(fù)數(shù)的多個時間點,分別產(chǎn)生所述偵測信號。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的頻率檢測裝置,其特征在于,該計算模塊還用以計算接收到所述偵測信號中相鄰兩者之間的時間差,作為該待測信號的一周期。
5.一種頻率檢測方法,其特征在于,包括:
濾波一輸入信號,以產(chǎn)生一待測信號;
利用一二階微分器,偵測該待測信號的多個波峰或多個波谷,以產(chǎn)生多個偵測信號,其中所述偵測信號分別對應(yīng)所述波峰或所述波谷;以及
根據(jù)所述偵測信號計算該待測信號的一頻率,
其中偵測該待測信號的所述波峰或所述波谷,以產(chǎn)生所述偵測信號的步驟包括:
偵測該待測信號的所述波峰及所述波谷,以產(chǎn)生多個極值信號,其中所述極值信號分別對應(yīng)所述波峰及所述波谷;
二階微分該待測信號以產(chǎn)生該待測信號的一二階微分信號;以及
根據(jù)所述極值信號以及該待測信號的該二階微分信號,產(chǎn)生所述偵測信號。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的頻率檢測方法,其特征在于,偵測該待測信號的所述波峰及所述波谷,以產(chǎn)生所述極值信號的步驟包括:
微分該待測信號,以產(chǎn)生該待測信號的一一階微分信號;
于該待測信號的該一階微分信號為零的多個時間點分別產(chǎn)生所述極值信號。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的頻率檢測方法,其特征在于,根據(jù)所述極值信號以及該待測信號的該二階微分信號,產(chǎn)生所述偵測信號的步驟包括:
于所述極值信號產(chǎn)生且該待測信號的該二階微分信號的數(shù)值為正數(shù)或為負(fù)數(shù)的多個時間點,分別產(chǎn)生所述偵測信號。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的頻率檢測方法,其中根據(jù)所述偵測信號計算該待測信號的該頻率的步驟包括:
計算產(chǎn)生所述偵測信號中相鄰兩者之間的時間差,作為該待測信號的一周期。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于財團(tuán)法人資訊工業(yè)策進(jìn)會,未經(jīng)財團(tuán)法人資訊工業(yè)策進(jìn)會許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410029576.0/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種具有按摩器的輻射檢測器
- 下一篇:十一階交流電壓試電筆





