[發明專利]攝像裝置及使用該攝像裝置的蒸鍍裝置

有效

• 申請號: 201410026211.2
• 申請日: 2014-01-21
• 公開（公告）號: CN103945096B
• 公開（公告）日: 2018-05-18
• 發明（設計）人: 上野克將;中村和彥
• 申請（專利權）人: 株式會社日立國際電氣
• 主分類號: H04N5/225
• 分類號: H04N5/225
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜;郭鳳麟

本發明提供攝像裝置及使用該攝像裝置的蒸鍍裝置。目的在于控制使用焦闌鏡頭或真空用鏡頭的攝像裝置的調制度降低的修正和超調量的粗細。在包含輪廓修正功能的影像信號處理電路的攝像裝置中，具有8個以上行存儲器，從延遲了整數水平周期量的多個影像信號的各影像信號發生強調頻率寬并且強調中心頻率可變的垂直輪廓修正信號，具有8個以上像素延遲功能，從延遲了整數像素量的多個影像信號的各影像信號發生強調頻率寬并且強調中心頻率可變的水平輪廓修正信號，在影像信號上加上所述垂直輪廓修正信號和所述水平輪廓修正信號，在確認時設為使所述垂直輪廓修正信號和所述水平輪廓修正信號的強調中心頻率低，擴展到多個像素的輪廓強調。

技術領域

本發明涉及使用固體攝像元件的攝像裝置及使用該攝像裝置的蒸鍍裝置的改進。

背景技術

內置有從由CCD(Charge Coupled Device：電荷耦合器件)攝像元件輸出的信號中去除噪音的CDS(Correlated Double Sampling：相關雙采樣)、暗電流修正和增益可變放大電路(Automatic Gain Control以下稱為AGC)、變換為數字影像信號Vi的ADC(AnalogDigital Converter：模數轉換器)的AFE(Analog Front End：模擬前端)已經普及，AFE的ADC灰度以往為10比特，但12比特或14比特已經普遍。而且，合并驅動電路或讀取電路并能夠高速讀取的CMOS(Complementary Metal Oxicide Semiconductor：互補金屬氧化物半導體)攝像元件的改進也取得了進展。

而且，數字信號處理電路的集成化進步，存儲多行的輸出信號并進行算術處理不僅能夠通過影像專用的存儲器集成DSP實現，也能夠通過廉價的通用FPGA(FieldProgrammable Gate Array：現場可編程門陣列)來容易地實現。使用了像素數為數百萬以上的百萬像素攝像機、HDTV(High Definition Television：高清電視)攝像機、高速攝像HDTV攝像機、帶記錄部的HDTV攝像機、帶Internet Protocol(以下稱為IP)傳輸部的HDTV攝像機、更高精度的2K×4K攝像機、4K×8K攝像機、HDD(Hard Disk Drive：硬盤驅動器)的非壓縮的記錄裝置也被產品化。

平面影像顯示裝置也在更高精度的2K×4K、4K×8K的顯示、高速顯示或超薄化方面取得進步。并且，將利用了有機電致發光(Organic Electro-luminescence：OEL、有機EL)的發光現象的有機發光二極管(Organic Light-emitting diode：OLED)或被稱為發光聚合物(Light Emitting Polymer：LEP)的發光元件作為各像素的高速顯示、超薄化的平面影像顯示裝置也開始了產品化。該平面影像顯示裝置也被稱為有機EL顯示器或OLED顯示器，一般簡稱為有機EL或OLED。使用了有機EL發光元件的照明設備也在開發中。有機EL元件(EL面板)的薄膜制造的一般方法是在真空的室內加熱原料化合物使其蒸發，使化合物薄薄地(數nm－數百nm)蒸鍍在薄膜透明的玻璃基板或塑料基板上。室內有時不是真空而填充惰性氣體。

輪廓修正的超調量或欠調量成為位置檢測或尺寸測量的誤差，因此，一般在位置檢測或尺寸測量的攝像裝置中不實施輪廓修正。

因為是真空用鏡頭，所以在空氣中由于真空和空氣的折射率的差，調制度降低。在大氣壓的惰性氣體中，折射率與原子量成比例地增大，調制度也降低。0℃1氣壓的折射率，He氦為1.000035，Ne氖為1.00008，氬為1.00028，空氣為1.000292。

使用在孔徑比F12.5左右、光學理論邊界(理想的鏡頭的)調制度降低，但是在焦點前后像的大小不改變的焦闌鏡頭(參照非專利文獻1)。