[發明專利]一種開機過程中對內存信號進行邊緣測試的設計方法

在審

• 申請號: 201410025824.4
• 申請日: 2014-01-21
• 公開（公告）號: CN103761174A
• 公開（公告）日: 2014-04-30
• 發明（設計）人: 葉豐華
• 申請（專利權）人: 浪潮電子信息產業股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

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技術領域

????本發明涉及服務器測試技術領域,?具體地說是一種開機過程中對內存信號進行邊緣測試的設計方法。

背景技術

?????內存邊緣測試是通過調整內存參考電壓來對內存的工作信號進行邊緣測試，以驗證內存工作的可靠性。常規的測試方法是通過修改電阻的形式手動調整內存的參考電壓，然后進行邊緣測試，這種做法需要重復修改電阻，效率很低，不利于在多內存的板卡系統測試。

發明內容

????本發明提供一種一種開機過程中對內存信號進行邊緣測試的設計方法，能夠在開機時，內存控制器通過軟件的形式調整內存參考電壓來進行內存邊緣測試，可以在短時間內完成大量內存的信號邊緣測試，極大的提高了工作效率和增加產品的穩定性。

本發明的技術方案為：

???一種開機過程中對內存信號進行邊緣測試的設計方法，利用數字滑動變阻器對內存參考電壓進行動態調整，來進行內存信號邊緣測試，數字滑動變阻器需要具備I2C?slave功能，內存控制器通過I2C總線連接數字滑動變阻器，可以通過軟件的形式修改滑動變阻器的阻值，數字滑動變阻器輸出端連接到LDO的正輸入端的分壓電阻進行并聯,正輸入端電壓受數字滑動變阻器調節阻值而變化，從而LD0輸出的內存參考電壓也會得到變化。

????所述的設計方法，其數字滑動變阻器在上電時滑動片初始值設置為滑動電阻的中心點，上電完成后，系統會通過I2C總線訪問wiper?register，并可修改wiper?register的形式來控制滑動片的位置。

本發明的有益效果是：

能夠在開機時，內存控制器通過軟件的形式調整內存參考電壓來進行內存邊緣測試，可以在短時間內完成大量內存的信號邊緣測試，極大的提高了工作效率和增加產品的穩定性?。

附圖說明

附圖1為線路連接示意圖；

附圖2為數字滑動變阻器原理；

附圖3為控制內存參考電壓在參考值一定范圍內上下變化的示意圖。

具體實施方式

下面參照附圖，對本發明的內容以具體實例來描述其實現方式及工作過程。

內存控制器通過I2C總線連接數字滑動變阻器，可以通過軟件的形式修改滑動變阻器的阻值，數字滑動變阻器輸出端連接到LDO的正輸入端的分壓電阻進行并聯,正輸入端電壓受數字滑動變阻器調節阻值而變化，從而LD0輸出的內存參考電壓也會得到變化，如圖1所示。

數字滑動變阻器在上電時滑動片初始值設置為滑動電阻的中心點，上電完成后，系統會通過I2C總線訪問wiper?register，并可修改wiper?register的形式來控制滑動片的位置。數字滑動變阻器原理見圖2。

1）系統在開機時，因為數字滑動變阻器的還未工作，滑動片處于中心點，內存參考電壓為初始電壓，一般為內存工作電壓的一半，此時內存開始工作。

2）內存控制器通過I2C總線訪問數字滑動變阻器來控制內存參考電壓在參考值一定范圍內上下變化（見圖3），并通過數據寫入、讀回判斷的方式來進行內存的信號的邊緣測試。

3）如果參考電壓在一定范圍內調整后，數據讀回錯誤，則可以判斷邊緣測試fail。?????????????????????????????????????????????????????

4）如果參考電壓在參考值在上下某一側調整時邊緣裕量較大，內存控制器可以根據實測值去重新計算一個中心點，使內存的參考電壓工作在調整后的電壓值，從而可以提高內存工作可靠性。