[發(fā)明專利]磁場測量裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410024912.2
• 申請日: 2014-01-20
• 公開（公告）號: CN103941199A
• 公開（公告）日: 2014-07-23
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 長坂公夫
• 申請（專利權(quán)）人: 精工愛普生株式會社
• 主分類號: G01R33/032
• 分類號: G01R33/032;G01R33/022
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 李逸雪

1.一種磁場測量裝置，其特征在于，具有：

探測光照射部，其照射探測光；

第1介質(zhì)，其被配置在所述探測光的光軸上，對于所述探測光在第1軸以及第2軸上示出線性二色性；

第2介質(zhì)，其在所述探測光的光軸上相對于所述第1介質(zhì)被配置在所述照射部的相反側(cè)，且對于所述探測光在與所述第1軸以及所述第2軸不同的第3軸以及第4軸上示出線性二色性；和

測量部，其基于透過了所述第1介質(zhì)以及所述第2介質(zhì)的所述探測光的偏振面的變化量，對所述第1介質(zhì)中的磁場與所述第2介質(zhì)中的磁場之差進行測量。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁場測量裝置，其特征在于，具有：

第1照射部，其向所述第1介質(zhì)照射第1泵浦光；和

第2照射部，其向所述第2介質(zhì)照射第2泵浦光，

所述第1介質(zhì)，在內(nèi)部包含通過所述第1泵浦光而被激發(fā)的多個原子所組成的原子組，

所述第2介質(zhì)，在內(nèi)部包含通過所述第2泵浦光而被激發(fā)的多個原子所組成的原子組。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的磁場測量裝置，其特征在于，

所述第1照射部，向與所述第2照射部照射所述第2泵浦光的方向不平行的方向，照射所述第1泵浦光。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁場測量裝置，其特征在于，具有：

分束器，其被配置在被所述第1介質(zhì)和所述第2介質(zhì)夾著的位置，對被照射的光進行分離，生成向該第1介質(zhì)傳播的第1泵浦光，并且生成向該第2介質(zhì)傳播的第2泵浦光；和

第3照射部，其朝向所述分束器照射所述光，

所述第1介質(zhì)，在內(nèi)部包含通過所述第1泵浦光而被激發(fā)的多個原子所組成的原子組，

所述第2介質(zhì)，在內(nèi)部包含通過所述第2泵浦光而被激發(fā)的多個原子所組成的原子組。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁場測量裝置，其特征在于，具有：

多個分束器，分別被配置在被所述第1介質(zhì)和所述第2介質(zhì)夾著的位置，對被照射的光進行分離，生成向該第1介質(zhì)傳播的第1泵浦光，并且生成向該2介質(zhì)傳播的第2泵浦光；

多個第3照射部，與所述多個分束器的每一個建立對應，朝向?qū)乃龇质髡丈渌龉猓缓?/p>

調(diào)制部，其使各所述第3照射部照射的各光的強度進行調(diào)制，

所述第1介質(zhì)，在內(nèi)部具有通過所述第1泵浦光而被激發(fā)的多個原子所組成的原子組，

所述第2介質(zhì)，在內(nèi)部具有通過所述第2泵浦光而被激發(fā)的多個原子所組成的原子組，

所述各分束器生成的各所述第1泵浦光，具有預先規(guī)定的相位差，

所述各分束器生成的各所述第2泵浦光，具有所述相位差，

所述調(diào)制部，以與所述相位差相應的頻率使所述各光的強度進行調(diào)制。