[發(fā)明專利]一種采用多個(gè)頻率同時(shí)勵(lì)磁提高磁粉探傷能力的設(shè)計(jì)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410024547.5
• 申請(qǐng)日: 2014-01-20
• 公開（公告）號(hào): CN103743812A
• 公開（公告）日: 2014-04-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 林俊明
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 愛德森（廈門）電子有限公司
• 主分類號(hào): G01N27/84
• 分類號(hào): G01N27/84
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

所屬技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種無損檢測(cè)裝置的設(shè)計(jì)方法，特別是涉及一種采用多個(gè)頻率同時(shí)勵(lì)磁提高磁粉探傷能力的設(shè)計(jì)方法。

背景技術(shù)

磁粉檢測(cè)是鐵磁性工件材料缺陷檢測(cè)的常用無損檢測(cè)方法，檢測(cè)過程中需要先將被檢工件磁化，而后再將磁粉均勻鋪在被檢工件的檢測(cè)面上進(jìn)行檢測(cè)。檢測(cè)過程中被檢工件的磁化效果直接影響到磁粉檢測(cè)的精度與檢測(cè)效果，被檢工件磁化越均勻，檢測(cè)精度與檢測(cè)效果越好。常用的磁化方法有直流磁化與交流磁化方法，直流磁化方法需要檢測(cè)后對(duì)被檢工件進(jìn)行退磁處理，交流磁化無需退磁處理。目前交流磁化多采用單一頻率的磁化電流激勵(lì)磁軛線圈產(chǎn)生感應(yīng)磁場(chǎng)，磁化感應(yīng)磁場(chǎng)中的被檢工件。但單一頻率的磁化電流有一定的磁化深度，對(duì)于某些大型被檢工件，被檢工件很難得到全面的均勻磁化，影響磁粉檢測(cè)效果。近幾年有采用變頻技術(shù)改變磁化電流的頻率的方法，參見發(fā)明專利CN201110355108.9，但該方法每次只能激發(fā)一種頻率的磁化電流，不能兼顧所有深度，也無法實(shí)現(xiàn)被檢工件的全面均勻磁化。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)之不足，提供一種采用多個(gè)頻率同時(shí)勵(lì)磁提高磁粉探傷能力的設(shè)計(jì)方法，基于不同頻率的激勵(lì)電流產(chǎn)生的感應(yīng)磁場(chǎng)對(duì)被檢工件的磁化深度不同的原理，采用多個(gè)不同頻率的激勵(lì)電流同時(shí)激勵(lì)磁軛線圈，使被檢工件獲得更加均勻的磁化效果。

本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是：交流勵(lì)磁磁粉探傷儀器中的勵(lì)磁器采用鎖相的可同時(shí)激發(fā)多個(gè)不同頻率激勵(lì)電流的功率放大器；功率放大器激發(fā)多個(gè)不同頻率的激勵(lì)電流同時(shí)激勵(lì)磁軛線圈，不同頻率的激勵(lì)電流激勵(lì)磁軛線圈產(chǎn)生的感應(yīng)磁場(chǎng)對(duì)被檢工件的滲透深度不同，即被檢工件被磁化的深度不同，由此，可使被檢工件表面和內(nèi)部獲得更加均勻有效的磁化效果，有利于被檢工件表面和內(nèi)部缺陷漏磁場(chǎng)的逸出,使磁粉更容易聚集，從而提高對(duì)缺陷的檢出能力。?

本發(fā)明的有益效果是，提供一種采用多個(gè)頻率同時(shí)勵(lì)磁提高磁粉探傷能力的設(shè)計(jì)方法，基于不同頻率的激勵(lì)電流產(chǎn)生的感應(yīng)磁場(chǎng)對(duì)被檢工件的磁化深度不同的原理，采用多個(gè)不同頻率的激勵(lì)電流同時(shí)激勵(lì)磁軛線圈，使被檢工件獲得更加全面、均勻的磁化效果，由此大大提高磁粉檢測(cè)的檢測(cè)精度與檢測(cè)效果。

以下結(jié)合實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說明，但本發(fā)明的一種采用多個(gè)頻率同時(shí)勵(lì)磁提高磁粉探傷能力的設(shè)計(jì)方法不局限于實(shí)施例。

具體實(shí)施方式

實(shí)施例，交流勵(lì)磁磁粉探傷儀器中的勵(lì)磁器采用鎖相的可同時(shí)激發(fā)多個(gè)不同頻率（例如5Hz，50Hz，100Hz等）激勵(lì)電流的功率放大器。檢測(cè)過程中，將磁粉或磁懸液均勻地撒在被檢工件的被檢面上，功率放大器激發(fā)多個(gè)不同頻率的激勵(lì)電流同時(shí)激勵(lì)磁軛線圈，由于不同頻率的激勵(lì)電流激勵(lì)磁軛線圈產(chǎn)生的感應(yīng)磁場(chǎng)對(duì)被檢工件的滲透深度不同，即被檢工件被磁化的深度不同，因此，可使被檢工件表面和內(nèi)部獲得更加均勻有效的磁化效果。而后觀察被檢面上的磁痕，判斷被檢工件缺陷情況。本發(fā)明的設(shè)計(jì)方法有利于被檢工件表面和內(nèi)部缺陷漏磁場(chǎng)的逸出、使磁粉更容易聚集，從而提高對(duì)缺陷的檢出能力。?

上述實(shí)施例僅用來進(jìn)一步說明本發(fā)明的一種采用多個(gè)頻率同時(shí)勵(lì)磁提高磁粉探傷能力的設(shè)計(jì)方法，但發(fā)明并不局限于實(shí)施例，凡是依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上實(shí)施例所作的任何簡(jiǎn)單修改、等同變化與修飾，均落入本發(fā)明技術(shù)方案的保護(hù)范圍內(nèi)。