[發明專利]對顆粒進行光學計數、測量尺寸的高靈敏傳感器及方法

有效

• 申請號: 201410023880.4
• 申請日: 2003-06-18
• 公開（公告）號: CN103792168A
• 公開（公告）日: 2014-05-14
• 發明（設計）人: D·F·尼科利;P·托姆巴斯
• 申請（專利權）人: 安捷倫科技有限公司
• 主分類號: G01N15/06
• 分類號: G01N15/06;G01N21/49;G01N21/85
• 代理公司: 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258
• 代理人: 李曉冬

1.一種通過補償濃的流體懸浮物樣本的混濁從而對單顆粒光學測量尺寸傳感器進行補償的方法，其中該單顆粒光學測量尺寸傳感器用于測量所述懸浮物樣本中的顆粒尺寸，所述傳感器按照消光原理進行工作，由此光探測器產生具有基線電壓電平和對顆粒導致的光阻斷的響應的信號V_LE(t)，其中所述對顆粒導致的光阻斷的響應是從所述基線電壓電平向下延伸的脈沖，所述方法包含：

使非混濁懸浮物通過所述傳感器；

測量響應于所述非混濁懸浮物而產生的基線電壓電平V₀；

使所述濃的懸浮物樣本通過所述傳感器；

測量響應于所述濃的懸浮物樣本而產生的基線電壓V₀^T；

計算比值G＝V₀／V₀^T；以及

根據G調整所述傳感器，從而當所述較濃的懸浮物樣本通過所述傳感器時補償所述混濁。

2.如權利要求1所述的方法，從所述信號V_LE(t)中有效地減去所述基線電壓V₀^T，將剩余信號反轉從而產生脈沖高度信號ΔV_LE^T(t)，使用可調整增益放大裝置對所述脈沖高度信號ΔV_LE^T(t)進行放大，并且通過所述比值G控制所述可調整增益放大裝置，從而提供得到補償的脈沖高度信號ΔV_LE^T(t)。

3.如權利要求1所述的方法，其中由所述傳感器響應于所述濃的懸浮物樣本而產生的信號V_LE(t)受到可調整增益放大裝置的放大，并且通過所述比值G控制所述可調整增益放大裝置的增益，從而提供具有得到補償的基線電壓V₀的得到補償的信號V_LE(t)，從所述得到補償的信號V_LE(t)中減去所述基線電壓V₀，并且剩余信號反轉，從而產生得到補償的脈沖高度信號ΔV_LE(t)。

4.如權利要求1所述的方法，其中所述單顆粒光學測量尺寸傳感器包含產生具有可調整強度的光束的光源，其中所述強度響應于所述比值G而增加，從而補償所述混濁。