[發明專利]一種光纖用四氯化鍺中痕量砷的檢驗方法無效
| 申請號： | 201410015792.X | 申請日： | 2014-01-14 |
| 公開（公告）號： | CN103743736A | 公開（公告）日： | 2014-04-23 |
| 發明（設計）人： | 普世坤;莫正輝;鮑開宏;浦勇;張國穎;田毅凡;祁君芳 | 申請（專利權）人： | 云南臨滄鑫圓鍺業股份有限公司;武漢云晶飛光纖材料有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/78 | 分類號： | G01N21/78 |
| 代理公司： | 昆明祥和知識產權代理有限公司 53114 | 代理人： | 和琳 |
| 地址： | 677000 云南省臨滄市*** | 國省代碼： | 云南;53 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 光纖 氯化 痕量 檢驗 方法 | ||
【權利要求書】：
1.本發明一種光纖用四氯化鍺中痕量砷的檢驗方法，其特征在于該方法是通過以下的步驟實現的：
（1）在鹽酸溶液中用過氧化氫（H2O2）在低溫下氧化四氯化鍺中的痕量砷（Ⅲ）為砷（Ⅴ）；
（2）在低溫下蒸發除去四氯化鍺基體；
（3）?蒸干以后再在鹽酸溶液中用氯化亞錫（SnCl2）把砷（Ⅴ）還原成砷（Ⅲ）；
（4）再用無砷鋅粒將砷（Ⅲ）還原成砷化氫；
（5）所生成的砷化氫氣體與溴化汞試紙片作用，生成黃棕色的砷化汞斑點，斑點顏色的深淺與砷含量成正比，與標準色階進行比較后得出試樣砷量；
（6）配制砷標準溶液，獲得一系列不同顏色深度的溴化汞紙片作為標準色階，并從標準色階上查得空白砷量；
（7）按下式計算砷的質量分數wAs，數值以百分含量表示：????????????????????????????????????????????????
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式中：
ｍ1為從標準色階上查得的試樣砷量，單位μg；
ｍ2為從標準色階上查得的空白砷量，單位μg；
V為被測痕量砷的樣品體積，單位mL。
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