[發明專利]一種基于FPGA生成RFC2544測試數據流的方法及裝置

有效

• 申請號: 201410014613.0
• 申請日: 2014-01-13
• 公開（公告）號: CN103731321B
• 公開（公告）日: 2017-05-03
• 發明（設計）人: 杜威;彭良川
• 申請（專利權）人: 加弘科技咨詢（上海）有限公司
• 主分類號: H04L12/26
• 分類號: H04L12/26
• 代理公司: 上海光華專利事務所31219
• 代理人: 余明偉

技術領域

本發明涉及一種數據設備的測試領域，特別是涉及一種基于FPGA生成RFC2544測試數據流的方法及裝置。

背景技術

RFC2544協議是RFC組織提出的用于評測網絡互聯設備（防火墻、IDS、Switch等）的國際標準。主要是對RFC1242中定義的性能評測參數的具體測試方法、結果的提交形式作了較詳細的規定。RFC2544中規定了許多測試不同網絡設備的參數，主要包括吞吐率(Throughput)，丟包率(Lost Rate)，時延(Latency)，背靠背(Back-to-Back)4個最為重要的參數。其中，吞吐率反映被測試設備所能夠處理(不丟失數據包)的最大的數據流量；丟包率反映被測設備承受特定負載的能力；時延反映被測設備處理數據包的速度；背靠背反映被測設備處理突發數據的能力（數據緩存能力）。網絡交換設備的入網認證一般都要經過RFC2544性能測試。

FPGA（Field－Programmable Gate Array），即現場可編程門陣列，它是在PAL、GAL、CPLD等可編程器件的基礎上進一步發展的產物。它是作為專用集成電路（ASIC）領域中的一種半定制電路而出現的，既解決了定制電路的不足，又克服了原有可編程器件門電路數有限的缺點。以硬件描述語言（Verilog或VHDL）所完成的電路設計，可以經過簡單的綜合與布局，快速的燒錄至FPGA上進行測試，是現代IC設計驗證的技術主流。系統設計師可以根據需要通過可編輯的連接把FPGA內部的邏輯塊連接起來，就好像一個電路試驗板被放在了一個芯片里。一個出廠后的成品FPGA的邏輯塊和連接可以按照設計者而改變，所以FPGA可以完成所需要的邏輯功能。

為進行RFC2544測試，需要測試設備發送不同長度、速率、突發、測試時長的以太網數據包，而目前沒有生成RFC2544測試數據流的專用芯片。因此，如何根據用戶設置的長度、速率、突發、測試時長等測試要求，基于FPGA生成RFC2544測試數據流成為需要解決的問題。

發明內容

鑒于以上所述現有技術的缺點，本發明的目的在于提供一種基于FPGA生成RFC2544測試數據流的方法及裝置，用于解決現有技術中如何根據用戶設置的長度、速率、突發、測試時長等測試要求，基于FPGA生成RFC2544測試數據流的問題。

為實現上述目的及其他相關目的，本發明提供一種基于FPGA生成RFC2544測試數據流的方法，所述方法至少包括：用戶設置測試配置信息；根據所述測試配置信息生成測試請求序列；每個所述測試請求對應生成一個測試數據包，所述測試請求序列對應形成測試數據流。

優選地，所述測試配置信息包括目的MAC地址，源MAC地址，數據包長，發送速率，突發長度，測試時長，虛擬局域網，網絡維護實體組等級，標簽協議標識，測試數據流類型，負載內容，數據流測試使能。

優選地，根據所述測試配置信息生成測試請求序列具體實現過程包括：根據所述測試配置信息得到關鍵配置信息；根據所述關鍵配置信息生成所述測試請求序列。

優選地，所述關鍵配置信息包括目的數據包長，發送速率，突發長度，測試時長。

優選地，所述方法還包括：將所述測試請求序列緩存。

優選地，根據所述測試配置信息生成測試請求序列具體實現過程包括：根據所述測試配置信息確定數據包長；確定測試時長；確定生成測試請求的頻率；根據突發長度確定每秒測試請求數，生成測試請求序列。

優選地，所述方法還包括：將所述測試數據流緩存輸出。

本發明還包括一種基于FPGA生成RFC2544測試數據流的裝置，所述裝置包括：多組測試請求生成模塊，用于生成多組測試請求序列；每組測試請求生成模塊包括一個測試信息設置單元以及一個測試請求生成單元，所述測試信息設置單元用于設置測試配置信息，測試請求生成單元與所述測試信息設置單元相連，用于根據所述測試配置信息生成一組所述測試請求序列；一個測試數據流生成模塊，與所述多組測試請求生成模塊相連，用于根據多組所述測試請求序列生成多組測試數據流并輸出；所述測試數據流生成模塊包括一個測試數據包生成單元，所述測試數據包生成單元根據每個所述測試請求生成一個測試數據包，每組所述測試請求序列對應形成一組測試數據流。

優選地，每組所述測試請求生成模塊還包括一個關鍵配置信息單元，所述關鍵配置信息單元與所述測試信息設置單元以及測試請求生成單元相連，用于從所述測試信息設置單元獲取所述測試配置信息中的關鍵信息，并輸出到所述測試請求生成單元。