[發明專利]基于高阻ZnO單晶的光電導型X射線探測器及其制備方法有效
| 申請號: | 201410014550.9 | 申請日: | 2014-01-13 |
| 公開(公告)號: | CN103794674A | 公開(公告)日: | 2014-05-14 |
| 發明(設計)人: | 賀永寧;陳亮;趙小龍;劉晗;歐陽曉平 | 申請(專利權)人: | 西安交通大學 |
| 主分類號: | H01L31/102 | 分類號: | H01L31/102;H01L31/0296;H01L31/0224;H01L31/18 |
| 代理公司: | 西安通大專利代理有限責任公司 61200 | 代理人: | 陸萬壽 |
| 地址: | 710049 陜*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 zno 電導 射線 探測器 及其 制備 方法 | ||
1.一種基于高阻ZnO單晶的光電導型X射線探測器,其特征在于,包括ZnO單晶基片(1),ZnO單晶基片(1)的上表面鍍有上電極(7)及環形結構的保護環(6),上電極(7)位于保護環(6)的中部,保護環(6)與上電極(7)之間設為均勻間隙,ZnO單晶基片(1)的下表面鍍有下電極(8),上電極(7)及保護環(6)自上到下依次均包括第一Al膜層(3)及第一AZO膜層(2),下電極(8)自上到下依次包括第二AZO膜層(4)及第二Al膜層(5)。
2.根據權利要求1所述的基于高阻ZnO單晶的光電導型X射線探測器,其特征在于,所述間隙的寬度為150μm。
3.根據權利要求1所述的基于高阻ZnO單晶的光電導型X射線探測器,其特征在于,
所述第一AZO膜層(2)的厚度與第二AZ0膜層(4)的厚度均為30nm;
所述第一Al膜層(3)的厚度與第二Al膜層(5)的厚度均為100nm。
4.一種基于高阻ZnO單晶的光電導型X射線探測器的制備方法,基于權利要求1所述的所述的器件,其特征在于,包括以下步驟:
1)將ZnO單晶基片(1)放置到燒杯中,在超聲環境中依次放置到丙酮、乙醇和去離子水中各10min,然后通過氮氣吹干;
2)將步驟1)得到的ZnO單晶基片(1)進行熱處理,然后在ZnO單晶基片(1)的上表面進行旋轉涂膠、曝光及顯影后,在ZnO單晶基片(1)的上表面采用濺射的方法依次鍍第一AZO膜層(2)及第一Al膜層(3),得樣品,其中熱處理過程中的溫度為1000~1200℃;
3)將步驟2)得到的樣品進行去膠處理,然后通過濺射的方法在ZnO單晶基片(1)的下表面依次鍍第二AZ0膜層(4)及第二Al膜層(5),得基于高阻ZnO單晶的光電導型X射線探測器。
5.根據權利要求4所述的基于高阻ZnO單晶的光電導型X射線探測器的制備方法,其特征在于,
步驟2)中對ZnO單晶基片(1)進行熱處理的過程為:將ZnO單晶基片(1)放置到高溫爐中,加熱至1000~1200℃,同時往高溫爐中通入流量40sccm的氬氣及流量為10sccm的氧氣,使高溫爐內的氣壓為900~1100Pa,并保持60min;
步驟2)中在ZnO單晶基片(1)上表面進行旋轉涂膠的處理過程為:采用甩膠機將型號為KMPC?5315的正性光刻膠涂抹在ZnO單晶基片(1)的上表面,其中甩膠機在甩膠的過程中先以轉速為900~1100rpm甩膠15s,然后以轉速為2500~3500rpm甩膠50s;
步驟2)中在ZnO單晶基片(1)的上表面進行曝光及顯影的處理過程為:將旋轉涂膠處理后的ZnO單晶基片(1)放置到紫外光下50~100s,然后采用型號為KMP?PD238-II的正膠顯影液顯影40~50s。
6.根據權利要求4所述的基于高阻ZnO單晶的光電導型X射線探測器的制備方法,其特征在于,步驟2)中采用濺射的方法在ZnO單晶基片(1)上表面鍍第一AZO膜層(2)的具體操作過程為:將ZnO單晶基片(1)放置到真空度大于3.0×10-4Pa的環境中,然后通入流量為10sccm的Ar氣體,再用AZO陶瓷靶材濺射15min,濺射的氣壓為0.9~1.0Pa,濺射功率為50W。
7.根據權利要求4所述的基于高阻ZnO單晶的光電導型X射線探測器的制備方法,其特征在于,步驟2)中采用濺射的方法在第一AZO膜層(2)上鍍第一Al膜層(3)的具體過程為:將ZnO單晶基片(1)放置到真空度大于3.0×10-4Pa環境中,然后通入流量為10sccm的Ar氣體,并采用濺射的方法在第一AZO膜層(2)上鍍第一Al膜層(3),其中,濺射氣壓為1.1~1.2Pa,濺射功率為120W,濺射時間為15min。
8.根據權利要求6所述的基于高阻ZnO單晶的光電導型X射線探測器的制備方法,其特征在于,步驟3)中往ZnO單晶基片(1)的下表面鍍第二AZO膜層(4)的過程與往ZnO單晶基片(1)的上表面鍍第一AZO膜層(2)的過程相同。
9.根據權利要求7所述的基于高阻ZnO單晶的光電導型X射線探測器的制備方法,其特征在于,步驟3)中往ZnO單晶基片(1)的下表面鍍第二Al膜層(5)的過程與往ZnO單晶基片(1)的上表面鍍第一Al膜層(3)的過程相同。
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