[發明專利]石墨導熱片的制備系統及其檢測裝置

有效

• 申請號: 201410014156.5
• 申請日: 2014-01-13
• 公開（公告）號: CN104764767B
• 公開（公告）日: 2017-07-11
• 發明（設計）人: 魏榮宗;邱智輝;陳孟偉;謝建德;林友復
• 申請（專利權）人: 魏榮宗;邱智輝;陳孟偉;謝建德;林友復
• 主分類號: G01N25/20
• 分類號: G01N25/20;G01N25/72
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司11240
• 代理人: 余剛,李靜

1.一種石墨導熱片的檢測裝置，適用于所述石墨導熱片的一制備系統，所述制備系統包括一燒結單元、一滾壓單元與一控制單元，所述燒結單元用以對一石墨鱗片進行連續高溫鍛燒以產生一石墨蓬松片，所述滾壓單元用以將所述石墨蓬松片滾壓成具有預定厚度的所述石墨導熱片，所述控制單元用以控制所述燒結單元及所述滾壓單元的運作狀態，其特征在于，所述檢測裝置包括：

一加熱單元，具有多個沿一第一方向延伸的線加熱區，所述線加熱區用以對所述石墨導熱片執行一側邊加熱程序或一均勻加熱程序，其中所述加熱單元設置于所述石墨導熱片的下方；以及

一溫度檢測單元，用以檢測所述石墨導熱片的溫度變化，以產生一檢測信號；

其中，所述加熱單元與所述溫度檢測單元受控于所述控制單元，其中當所述加熱單元執行所述側邊加熱程序時，所述控制單元依據所述石墨導熱片沿一第二方向的溫度變化以計算出所述石墨導熱片的一表面熱擴散系數，以及當所述加熱單元執行所述均勻加熱程序時，所述石墨導熱片被加熱至一第一預設溫度后停止加熱，所述控制單元依據所述石墨導熱片在停止加熱一預定時間后的溫度變化以檢測出所述石墨導熱片的瑕疵位置。

2.根據權利要求1所述的石墨導熱片的檢測裝置，其特征在于，在所述側邊加熱程序中，所述控制單元啟動所述線加熱區的其中之一，以對所述石墨導熱片的一第一側邊區域進行加熱，直至所述第一側邊區域的溫度上升至一第二預設溫度，所述控制單元依據所述石墨導熱片沿所述第二方向的溫度變化以計算出一第一熱擴散系數，以及所述控制單元啟動所述線加熱區的其中之一，以對所述石墨導熱片的一第二側邊區域進行加熱，直至所述第二側邊區域的溫度上升至所述第二預設溫度，所述控制單元依據所述石墨導熱片沿所述第二方向的溫度變化以計算出一第二熱擴散系數，其中所述控制單元根據所述第一熱擴散系數及所述第二熱擴散系數來計算所述表面熱擴散系數。

3.根據權利要求2所述的石墨導熱片的檢測裝置，其特征在于，所述控制單元將所述石墨導熱片分為多個沿所述第二方向排列的線狀區域，并且根據各個所述線狀區域的平均溫度以計算出所述石墨導熱片沿所述第二方向的一溫度變化梯度，并且根據所述溫度變化梯度來計算所述第一熱擴散系數與所述第二熱擴散系數。

4.根據權利要求1所述的石墨導熱片的檢測裝置，其特征在于，在所述均勻加熱程序中，所述控制單元控制所述線加熱區并同步對所述石墨導熱片進行加熱，直至所述石墨導熱片的整體溫度到達所述第一預設溫度，并且在所述石墨導熱片的整體溫度到達所述第一預設溫度后，停止對所述石墨導熱片加熱，所述控制單元依據所述石墨導熱片在停止加熱所述預定時間后的溫度變化以檢測出所述石墨導熱片的瑕疵位置。

5.根據權利要求1所述的石墨導熱片的檢測裝置，其特征在于，所述檢測裝置還包括：

一加熱腔體，用以容置所述加熱單元與所述溫度檢測單元；

一散熱單元，設置于所述加熱腔體內，用以對所述加熱腔體進行降溫，以保持所述石墨導熱片在檢測時的環境條件一致。

6.根據權利要求1所述的石墨導熱片的檢測裝置，其特征在于，所述加熱單元包括：

多個加熱燈管，所述加熱燈管分別對應于所述線加熱區；以及

多個陶瓷底座，分別具有一溝槽，所述溝槽用以設置所述加熱燈管。

7.根據權利要求1所述的石墨導熱片的檢測裝置，其特征在于，所述石墨導熱片固定于一夾具中，并且所述夾具的底部貼附有多個導熱板，其中當所述石墨導熱片固定于所述夾具中時，所述導熱板與所述石墨導熱片相接觸。

8.根據權利要求1所述的石墨導熱片的檢測裝置，其特征在于，所述第一方向與所述第二方向垂直。