[發明專利]內表面形狀測量裝置

有效

• 申請號: 201410013637.4
• 申請日: 2014-01-10
• 公開（公告）號: CN103968777B
• 公開（公告）日: 2018-01-26
• 發明（設計）人: 橫田政義
• 申請（專利權）人: 奧林巴斯株式會社
• 主分類號: G01B11/24
• 分類號: G01B11/24
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙)11277
• 代理人: 劉新宇,張會華

1.一種內表面形狀測量裝置，其使用光切割法對被檢物的內表面形狀進行測量，該內表面形狀測量裝置包括：

投影部，其具有光源單元和筒狀的外周部，該外周部具有光能夠透過并且沿周向設置的狹縫，該光源單元具有發光元件并配置在上述外周部內，從上述光源單元發射的光直接穿過上述狹縫從而對上述被檢物投影預定厚度的光束；以及

攝像部，其對上述被檢物的投影有上述光束的內表面進行攝像。

2.根據權利要求1所述的內表面形狀測量裝置，其中，

上述外周部包括遮蔽部和具有透明性的筒狀的主體，該遮蔽部以能夠滑動的方式安裝于上述主體，且該遮蔽部的至少一部分具有遮光性。

3.根據權利要求2所述的內表面形狀測量裝置，其中，

上述遮蔽部由具有遮光性的多個遮蔽管構成。

4.根據權利要求1所述的內表面形狀測量裝置，其中，

上述外周部的至少一部分具有遮光性，

上述光源單元以能夠滑動的方式安裝于上述外周部。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的內表面形狀測量裝置，其中，

上述發光元件在上述外周部內沿上述投影部的周向排列配置有多個。

6.根據權利要求1至4中任一項所述的內表面形狀測量裝置，其中，

上述發光元件以自身的發光面朝向上述外周部的頂端側的方式配置在上述投影部的中心軸線上。

7.一種內表面形狀測量裝置，其使用光切割法對被檢物的內表面形狀進行測量，該內表面形狀測量裝置包括：

投影部，其具有光源單元和筒狀的外周部，該外周部具有遮擋光并且沿周向設置的遮光區域，該光源單元具有一個以上的發光元件并配置在上述外周部內，上述投影部對上述被檢物投影預定厚度的影子；以及

攝像部，其對上述被檢物的投影有上述影子的內表面進行攝像。

8.根據權利要求7所述的內表面形狀測量裝置，其中，

上述外周部包括主體和以能夠滑動的方式安裝于上述主體的上述遮光區域，該主體為筒狀并具有透明性。

9.根據權利要求8所述的內表面形狀測量裝置，其中，

上述遮光區域由具有遮光性的多個遮蔽管構成。

10.根據權利要求7所述的內表面形狀測量裝置，其中，

上述光源單元以能夠滑動的方式安裝于上述外周部。

11.根據權利要求7至10中任一項所述的內表面形狀測量裝置，其中，

上述發光元件在上述外周部內沿上述投影部的周向排列配置有多個。

12.根據權利要求7至10中任一項所述的內表面形狀測量裝置，其中，

上述發光元件以自身的發光面朝向上述外周部的頂端側的方式配置在上述投影部的中心軸線上。