[發明專利]一種降低外界振動對轉子動平衡測量系統動態重復測量精度影響的方法

在審

• 申請號: 201410013387.4
• 申請日: 2014-01-13
• 公開（公告）號: CN103776586A
• 公開（公告）日: 2014-05-07
• 發明（設計）人: 王繼鎖;楚鵬飛;王向委;曹寧波
• 申請（專利權）人: 西安昆侖汽車電子有限公司
• 主分類號: G01M1/02
• 分類號: G01M1/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

?本發明屬于測量技術領域，尤其涉及一種降低外界振動對轉子動平衡測量系統動態重復測量精度影響的方法。

背景技術

在轉子動平衡測試機中，其測量系統測量精度受到諸多因素影響，雖然其靜態測量精度較高，但其動態的重復測量精度卻較低，不能真實地反映轉子動平衡測試機的技術狀態，不利于轉子動平衡測試機在自動化生產線上在線測量。

發明內容

本發明的目的在于提供一種降低外界振動對轉子動平衡測量系統動態重復測量精度影響的方法，旨在解決轉子動平衡測試機測量系統重復測量精度受外界振動影響的問題。

本發明是這樣實現的，一種降低外界振動對轉子動平衡測量系統動態重復測量精度影響的方法包括以下步驟：

步驟一、在測量系統底板下部邊緣對稱加工四個直徑和深度一致的孔；

步驟二、在動平衡測試機平板上加工直徑相同四個通孔，直徑和位置與測量系統底板上的孔一致；

步驟三、采用聚氨酯材料，注塑加工四個聚氨酯柔性支撐；

步驟四、分別將四個柔性支撐軸端放入動平衡測試機平板的四個孔中；

步驟五、將測量系統底板四個孔對準四個柔性支撐軸端后放置；

步驟六、在測量系統底板的四周，分別安裝一個定位擋塊，完成動平衡測試機測量系統定位在動平衡測試機平板。

進一步，對于聚氨酯柔性支撐，通過改變圖中的直徑D?和d的值來改變其支撐剛度，從而減少外界對測試機平板沖擊干擾，降低平板固有頻率對測量系統的影響，達到減振效果。效果匯總

本發明通過在測量系統的底板下部邊緣和測試機的平板上加工對應的孔，將四個聚氨酯柔性支撐放置在孔中，用定位擋塊有間隙的定位，實現降低外界振動對轉子動平衡測試機測量系統動態重復精度影響的，對于聚氨酯柔性支撐，通過改變孔的直徑來改變其支撐剛度，從而減少外界對測試機平板沖擊干擾，降低平板固有頻率對測量系統的影響，達到減振效果。

附圖說明

圖1是本發明實施例提供的動平衡測試機測量系統通過柔性支撐和定位擋塊定位在動平衡測試機平板上的示意圖；

圖中：1.、動平衡測試機平板；2、聚氨酯柔性支撐；3、定位擋塊；4、測量系統底板。具體實施方式

為了使本發明的目的、技術方案及優點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本發明進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發明，并不用于限定本發明。

本發明是這樣實現的，一種降低外界振動對轉子動平衡測量系統動態重復測量精度影響的方法包括以下步驟：

步驟一、在測量系統底板4上四個角，距離邊緣10mm處各加工直徑10mm的通孔；

步驟二、在動平衡測試機平板1上加工四個直徑為10mm的通孔，與測量系統底板上的孔位置一致；

步驟三、按照直徑D=14mm、d=10mm，臺階厚度H=10mm，采用聚氨酯材料，注塑加工四個聚氨酯柔性支撐2；

步驟四、分別將四個柔性支撐軸端（直徑d=10mm）放入動平衡測試機平板1的四個孔（d=10mm）中；

步驟五、再將測量系統底板4的四個孔（d=10mm）對準四個柔性支撐軸端（直徑d=10mm）后放置；

步驟六、在測量系統底板4的四周，分別安裝一個定位擋塊3，完成動平衡測試機測量系統定位在動平衡測試機平板。

進一步，對于聚氨酯柔性支撐，通過改變圖中的直徑D?和d的值來改變其支撐剛度，從而減少外界對測試機平板沖擊干擾，降低平板固有頻率對測量系統的影響，達到減振效果。

通過在測量系統的底板4下部邊緣對稱加工四個深度一致的孔，在測試機的平板1上也對應加工四個孔，然后將四個聚氨酯柔性支撐2放置在孔中，靠測量系統的自重放置在測試機的平板1上，在測量系統底板4的四周用定位擋塊3有間隙的定位，實現降低外界振動對轉子動平衡測試機測量系統動態重復精度影響的目的。

對于聚氨酯柔性支撐2，通過改變圖1中的直徑D?和d?的值來改變其支撐剛度，從而減少外界對測試機平板1沖擊干擾，降低平板固有頻率對測量系統的影響，達到減振效果。

上述雖然結合附圖對本發明的具體實施方式進行了描述，但并非對本發明保護范圍的限制，所屬領域技術人員應該明白，在本發明的技術方案的基礎上，本領域技術人員不需要付出創造性的勞動即可做出的各種修改或變形仍在本發明的保護范圍之內。