[發明專利]成像設備和成像方法無效
| 申請號: | 201410011476.5 | 申請日: | 2014-01-10 |
| 公開(公告)號: | CN103945147A | 公開(公告)日: | 2014-07-23 |
| 發明(設計)人: | 鈴木飛鳥;中村真備;吉松敬仁郎;久保學 | 申請(專利權)人: | 索尼公司 |
| 主分類號: | H04N5/367 | 分類號: | H04N5/367;H04N5/232;H04N9/04;G02B7/34;G03B13/36 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038 | 代理人: | 張榮海 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 成像 設備 方法 | ||
1.一種成像設備,包括:
成像裝置,所述成像裝置包括多對相差檢測像素,其中在與光瞳分割方向正交的正交方向上布置沿著光瞳分割方向的多個相差線;
檢測單元,所述檢測單元根據所述多個相差線之間的輸出值的比較結果,檢測所述相差檢測像素輸出的輸出值之中的異常值;以及
相差線確定單元,所述相差線確定單元根據利用檢測單元獲得的檢測結果,把相差檢測區域中的多個相差線之中的用于相差檢測的多個相差線確定為使用線。
2.按照權利要求1所述的成像設備,其中所述相差線確定單元通過從所述多個相差線中排除異常值線,確定使用線,所述異常值線是包含輸出異常值的相差檢測像素的相差線。
3.按照權利要求2所述的成像設備,其中所述檢測單元通過利用包含在相差線中的相差檢測像素的輸出值進行計算,計算每個相差線的線總和值,并基于所述線總和值之間的比較結果,檢測異常值線。
4.按照權利要求3所述的成像設備,其中所述檢測單元基于預定閾值和所述線總和值之間的比較結果,檢測異常值線,當檢測到多個異常值線時,設定新的區域,并基于所述新區域中的線總和值之間的比較結果,檢測異常值線。
5.按照權利要求3所述的成像設備,其中所述檢測單元計算為了在包括所述多個相差線的相差檢測目標區域中進行相關性計算而設定的基準區域和參照區域中的每一個的線總和值,并對于基準區域和參照區域中的每一個檢測異常值線。
6.按照權利要求5所述的成像設備,其中所述檢測單元基于通過相加一對相差檢測像素中的一個像素的輸出值而獲得的線總和值,檢測基準區域中的異常值線,并基于通過相加所述一對相差檢測像素中的另一個像素的輸出值而獲得的線總和值,檢測參照區域中的異常值線。
7.按照權利要求1所述的成像設備,其中所述相差線確定單元判定是否能夠利用作為布置在作為包含輸出異常值的相差檢測像素的相差線的異常值線附近的相差線的輸出值的替代候選值,而不是異常值線的輸出值,進行相差檢測,并且當判定能夠進行相差檢測時,基于利用檢測單元獲得的檢測結果,把包括異常值線的多個相差線確定為使用線。
8.按照權利要求7所述的成像設備,
其中在成像裝置中,布置與在光軸方向上位置不同的多個出射光瞳中的任意一個對應的多個相差檢測像素,
其中在相差線中,相差檢測像素被布置成以致一個相差線對應于在一個位置處的出射光瞳,并且相差線被布置成分別對應于與和在正交方向相鄰的相差線對應的出射光瞳不同的出射光瞳,以及
其中聚焦判定單元把在正交方向上與異常值線相鄰的兩個相差線中的對應的出射光瞳更接近對應于異常值線的出射光瞳的相差線的輸出值,設定為所述替代候選值。
9.按照權利要求7所述的成像設備,
其中在成像裝置中,布置與在光軸方向上位置不同的多個出射光瞳中的任意一個對應的多個相差檢測像素,
其中在相差線中,相差檢測像素被布置成以致一個相差線對應于在一個位置處的出射光瞳,并且相差線被布置成分別對應于與和在正交方向上相鄰的相差線對應的出射光瞳不同的出射光瞳,以及
其中相差線確定單元通過計算在正交方向上與異常值線相鄰的兩個相差線的輸出值,計算所述替代候選值。
10.一種成像方法,包括:
獲得由包含多對相差檢測像素的成像裝置的相差檢測像素輸出的輸出值,其中沿著光瞳分割方向的多個相差線被布置在與光瞳分割方向正交的正交方向上;
基于所述多個相差線之間的輸出值的比較結果,檢測所述相差檢測像素輸出的輸出值之中的異常值;以及
基于在異常值的檢測中獲得的檢測結果,把相差檢測區域中的多個相差線之中的用于相差檢測的多個相差線確定為使用線。
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