[發明專利]一種多孔硅模板的制備方法無效
| 申請號: | 201410011017.7 | 申請日: | 2014-01-09 |
| 公開(公告)號: | CN103746038A | 公開(公告)日: | 2014-04-23 |
| 發明(設計)人: | 黃其煜;鄭一胄 | 申請(專利權)人: | 上海交通大學 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;H01L31/0216 |
| 代理公司: | 上海漢聲知識產權代理有限公司 31236 | 代理人: | 牛山;陳少凌 |
| 地址: | 200240 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 多孔 模板 制備 方法 | ||
1.一種多孔硅模板的制備方法,其特征在于,所述方法包括如下步驟:
步驟一,取HF、H2O2、去離子水,充分混合,得刻蝕液;
步驟二,無光照條件下,將硅襯底放入所述刻蝕液中,之后放在熱板上保持恒溫,浸泡;
步驟三,將硅襯底取出,用去離子水反復沖洗,吹干,即可得到多孔硅模板。
2.如權利要求1所述的多孔硅模板的制備方法,其特征在于,步驟一中,所述HF、H2O2、去離子水的體積比為1:4:8~4:1:8。
3.如權利要求1所述的多孔硅模板的制備方法,其特征在于,步驟二中,所述硅襯底的晶向為100。
4.如權利要求1所述的多孔硅模板的制備方法,其特征在于,步驟二中,所述硅襯底為表面沉積金屬銀的硅襯底。
5.如權利要求1所述的多孔硅模板的制備方法,其特征在于,步驟二中,所述硅襯底的制備方法具體步驟如下:
步驟A:清洗硅片:將硅片切成小塊,依次經丙酮超聲清洗、無水乙醇清洗、去離子水超聲清洗,然后用去離子水沖洗,吹干;
步驟B:配制沉積金屬Ag溶液:稱取AgNO3放入燒杯中,取HF放入AgNO3中,用去離子水定容到60ml,攪勻,得混合溶液;
步驟C:硅襯底上沉積金屬:在室溫無光照條件下,將清洗好后的硅片放入所述混合溶液中,浸泡;取出后用去離子水沖洗干凈,并用普氮將硅片吹干,即可得表面沉積金屬銀的硅襯底。
6.如權利要求5所述的多孔硅模板的制備方法,其特征在于,步驟A中,所述硅片的電阻率為0.001~1Ω·cm。
7.如權利要求5所述的多孔硅模板的制備方法,其特征在于,步驟A中,所述小塊的尺寸規格為1.5×1.5cm2。
8.如權利要求5所述的多孔硅模板的制備方法,其特征在于,步驟A中,所述丙酮超聲清洗時間為5~10分鐘、無水乙醇清洗時間為5~10分鐘、去離子水超聲清洗時間為5~10分鐘。
9.如權利要求5所述的多孔硅模板的制備方法,其特征在于,步驟B中,所述AgNO3為0.0102g,所述HF為0.1ml。
10.如權利要求5所述的多孔硅模板的制備方法,其特征在于,步驟C中,所述浸泡時間為1分鐘。
11.如權利要求1所述的多孔硅模板的制備方法,其特征在于,步驟二中,所述恒溫的溫度為35~45℃,所述浸泡時間為60~150分鐘,所述吹干具體為用氮氣吹干。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





