[發明專利]保偏光纖光軸熔接角度誤差的評價方法及裝置

有效

• 申請號: 201410009630.5
• 申請日: 2014-01-08
• 公開（公告）號: CN103776393A
• 公開（公告）日: 2014-05-07
• 發明（設計）人: 張登偉;趙宇翔;舒曉武;劉承
• 申請（專利權）人: 浙江大學
• 主分類號: G01B11/26
• 分類號: G01B11/26
• 代理公司: 杭州求是專利事務所有限公司 33200
• 代理人: 林松海

1.一種保偏光纖光軸熔接角度誤差的評價方法，其特征在于，基于單色偏振光在保偏光纖中傳輸時偏振態的變化與兩段保偏光纖光軸0°或45°熔接角度誤差具有直接的依賴關系，通過檢測熔接后保偏光纖輸出光的偏振度，實現對保偏光纖光軸0°或45°熔接角度誤差的測量。

2.如權利要求1所述的評價方法，其特征在于，具體步驟如下：

1）測量Y波導集成光學芯片（4）的出射端的尾纖一（5）和出射端的尾纖二（6）的長度，分別記為l₁、l₂，設l₁＞l₂，若l₁＝l₂，則用光纖切割刀切去適當長度的出射端的尾纖二（6），使滿足l₁＞l₂，此時長度為l₁的出射端的尾纖一（5）為參考臂，長度為l₂的出射端的尾纖二（6）為測量臂；

2）取一段材料的線性雙折射、纖芯、包層半徑參數與Y波導集成光學芯片（4）的出射端的尾纖一（5）和出射端的尾纖二（6）一致的保偏光纖（8），使用保偏光纖熔接機與測量臂的尾纖進行0°或45°熔接，得到待測熔接點（7），測量附加的保偏光纖（8）的長度，記為l₃，用光纖切割刀切掉多余部分，使得l₂+l₃＝l₁，即此時測量臂與參考臂長度相等；

3）將Y波導集成光學芯片（4）和熔接后的光纖整體置于第一顯微鏡物鏡（2）和第二顯微鏡物鏡（9）之間，打開He-Ne激光光源（1），調整第一顯微鏡物鏡（2），將光線耦合進Y波導集成光學芯片（4）的入射端的尾纖（3）中，由于Y波導集成光學芯片（4）的光學特性，在其出射端的尾纖一（5）和出射端的尾纖二（6）中的光已經為沿著慢軸傳播的線偏振光；

4）第二顯微鏡物鏡（9）、夾具（11）和光強探測器（12）先放置于參考臂一側，微調第二顯微鏡物鏡（9）、夾具（11）和光強探測器（12）的相對位置，使三者的連線與參考臂出射的光線重合；

5）旋轉夾具（11）一周，線偏振片（10）的透光軸方向隨之轉動360°，觀察光強探測器（12）的讀數，記錄最大的光強讀數值，記為I₁；

6）第二顯微鏡物鏡（9）、夾具（11）和光強探測器（12）然后放置于測量臂一側，微調第二顯微鏡物鏡（9）、夾具（11）和光強探測器（12）的相對位置，使三者的連線與測量臂出射的光線重合；

7）重復步驟5），記錄測量臂的最大光強讀數值，記為I₂，同時記下此時夾具（11）上指針指向的刻度值α；

8）旋轉夾具（11），使夾具（11）上指針指向的刻度值為α+45°，記錄光強探測器（12）讀數I₃；

9）對測得數據進行計算，由以下兩式可得M和C的值：

M=2I2-I1I1]]>

C=2I3-I1I1]]>

10）由下式評價實際保偏光纖0°或45°熔接角度誤差：

11）重復上述測量步驟4）—10），得到誤差平均值：

Δθ‾=1NΣi=1N|Δθi|]]>

式中，N為檢測次數。