[發明專利]顯微CT中閃爍體缺陷引起的圖像偽影的修復算法有效
| 申請號: | 201410009190.3 | 申請日: | 2014-01-08 |
| 公開(公告)號: | CN103778603A | 公開(公告)日: | 2014-05-07 |
| 發明(設計)人: | 鄒晶;胡曉東;須穎;陳津平;吳瑤瑤;胡小唐 | 申請(專利權)人: | 天津大學 |
| 主分類號: | G06T5/00 | 分類號: | G06T5/00 |
| 代理公司: | 天津市北洋有限責任專利代理事務所 12201 | 代理人: | 劉國威 |
| 地址: | 300072*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 顯微 ct 閃爍 缺陷 引起 圖像 修復 算法 | ||
1.一種顯微CT中閃爍體缺陷引起的圖像偽影的修復算法,其特征是,包括下列步驟:
(1)利用顯微CT成像設備采集本底投影圖像即空掃圖像;
(2)對步驟(1)獲取的圖像進行偽影提取,得到標記出偽影區域的掩膜圖像;
(3)利用顯微CT成像設備采集樣品圖像;
(4)對步驟(3)采集的圖像進行光照不均勻校正;
(5)根據步驟(2)中標記出的偽影區域,對步驟(4)所獲取的樣品圖像中的相應區域進行修復;
(6)根據步驟(2)中標記出的偽影區域,對步驟(4)所獲取的樣品圖像中的相應區域進行擴散;
(7)交叉進行步驟(5)所述的修復過程和步驟(6)所述的擴散過程,重復此過程直到達到設定的次數。
2.如權利要求1所述的顯微CT中閃爍體缺陷引起的圖像偽影的修復算法,其特征是,步驟(2)是將本底圖像數據轉換為極坐標形式進行缺陷提取即偽影提取。
3.如權利要求1所述的顯微CT中閃爍體缺陷引起的圖像偽影的修復算法,其特征是,光照不均勻校正的方法為:將圖像平均分為大小相同的若干部分,取各個區域內像素值的平均值作為背景像素值,將各個像素都減去對應的背景像素值。
4.如權利要求1所述的顯微CT中閃爍體缺陷引起的圖像偽影的修復算法,其特征是,步驟(5)具體為:在已有的BSCB修復算法的基礎上結合CT圖像的特點,采用IBSCB(Improved?BSCB,即改進的BSCB)算法對圖像偽影進行修復,即采用log算子濾波取代傳統BSCB算法中的Laplace算子濾波。
5.如權利要求1所述的顯微CT中閃爍體缺陷引起的圖像偽影的修復算法,其特征是,步驟(7)的修復順序是,采用由外及內的修復順序對偽影區域進行修復。即先對缺陷邊緣區域進行修復,利用修復后的信息依次去修復缺陷內部區域;如果缺陷像素周圍八鄰域內沒有缺陷像素,則直接求取八鄰域的加權平均值作為缺陷像素修復后的取值,無需重復迭代;如果缺陷像素的八鄰域內存在缺陷像素,則需要重復迭代實現圖像的修復:首先對八鄰域內只有一個缺陷像素的缺陷點進行修復,然后依次對八鄰域內有2到8個缺陷像素的缺陷點進行修復;
根據待修復像素周圍缺陷像素的個數決定迭代的次數和系數,迭代次數為:Titer=N-(8-num)*n,其對應的迭代系數為:Citer=Cinset-0.2*num,其中,Titer和Citer分別代表迭代的次數和系數;N和n為參數,N根據缺陷像素區域的大小設定,用于控制總的迭代次數;n一般取值N/8;num為八鄰域內缺陷像素點的個數,num取2,3,4,5,6,7,8;Cinset為根據圖像中閃爍體缺陷的特點設置的參數,根據圖像的修復效果在1.7~2之間取值。
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