[發(fā)明專利]具有背面場板結(jié)構(gòu)的HEMT器件及其制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410008455.8 | 申請日: | 2014-01-09 |
| 公開(公告)號: | CN103715257B | 公開(公告)日: | 2017-01-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 董志華;蔡勇;于國浩;張寶順 | 申請(專利權(quán))人: | 杭州電子科技大學(xué) |
| 主分類號: | H01L29/778 | 分類號: | H01L29/778;H01L29/40;H01L21/335 |
| 代理公司: | 南京利豐知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙)32256 | 代理人: | 王鋒 |
| 地址: | 310018 浙*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 背面 板結(jié) hemt 器件 及其 制備 方法 | ||
1.一種具有背面場板結(jié)構(gòu)的HEMT器件,包括源極(5)、漏極(4)以及異質(zhì)結(jié)構(gòu),所述源極(5)與漏極(4)通過形成于異質(zhì)結(jié)構(gòu)中的二維電子氣電連接,且所述源極(5)和漏極(4)與異質(zhì)結(jié)構(gòu)形成歐姆接觸,所述異質(zhì)結(jié)構(gòu)包括沿設(shè)定方向依次設(shè)置的第一半導(dǎo)體層(3)和第二半導(dǎo)體層(2),第一半導(dǎo)體層(3)設(shè)置于源極(5)和漏極(4)之間,且第一半導(dǎo)體層(3)表面還設(shè)有柵極(6),所述柵極(6)與第一半導(dǎo)體層(3)形成肖特基接觸,其特征在于,它還包括背場板電極(9),所述背場板電極(9)設(shè)置于第二半導(dǎo)體層(2)的遠(yuǎn)離第一半導(dǎo)體層(3)的一側(cè)表面。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述具有背面場板結(jié)構(gòu)的HEMT器件,其特征在于,至少所述背場板電極(9)的一側(cè)邊緣向源極(5)或漏極(4)方向延伸,同時所述背場板電極(9)的正投影與柵極(6)兩側(cè)邊緣均交疊。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述具有背面場板結(jié)構(gòu)的HEMT器件,其特征在于,所述背場板電極(9)與柵極(6)或源極(5)電連接形成背柵場板或背源場板。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述具有背面場板結(jié)構(gòu)的HEMT器件,其特征在于,所述源極(5)和漏極(4)分別與電源的低電位和高電位連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述具有背面場板結(jié)構(gòu)的HEMT器件,其特征在于,所述背場板電極(9)的兩側(cè)邊緣分別向源極(5)和漏極(4)方向延伸,或者所述背場板電極(9)僅有一側(cè)邊緣向源極(5)或漏極(4)方向延伸。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述具有背面場板結(jié)構(gòu)的HEMT器件,其特征在于,在所述HEMT器件工作時,所述柵極(6)和背場板電極(9)分別由一控制信號控制。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述具有背面場板結(jié)構(gòu)的HEMT器件,其特征在于,它還包括支撐基座,所述支撐基座包括支撐基板(7),所述支撐基板(7)上設(shè)有次源極(5’)、次漏極(4’)和次柵極(6’),所述次源極(5’)、次漏極(4’)和次柵極(6’)分別與所述源極(5)、漏極(4)和柵極(6)電連接。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述具有背面場板結(jié)構(gòu)的HEMT器件,其特征在于,所述第一半導(dǎo)體層(3)層包括AlGaN層,所述第二半導(dǎo)體層(2)包括GaN層。
9.根據(jù)權(quán)利要求1或8所述具有背面場板結(jié)構(gòu)的HEMT器件,其特征在于,所述第二半導(dǎo)體層(2)的厚度小于現(xiàn)有HEMT器件中相應(yīng)第二半導(dǎo)體層的厚度。
10.一種具有背面場板結(jié)構(gòu)的HEMT器件的制備方法,其特征在于,包括如下步驟:
(1)在選定襯底(1)上形成主要由第一半導(dǎo)體層(3)和第二半導(dǎo)體層(2)組成的異質(zhì)結(jié)構(gòu)、與異質(zhì)結(jié)構(gòu)形成歐姆接觸的源極(5)和漏極(4),以及形成于第一半導(dǎo)體層(3)表面的、并與第一半導(dǎo)體層(3)形成肖特基接觸的柵極(6),從而獲得HEMT基體結(jié)構(gòu);
(2)去除所述選定襯底(1),并在該第二半導(dǎo)體層(2)的遠(yuǎn)離第一半導(dǎo)體層(3)的一側(cè)表面設(shè)置背場板電極(9)。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述具有背面場板結(jié)構(gòu)的HEMT器件的制備方法,其特征在于,步驟(2)還包括:在去除所述選定襯底(1)后,對該第二半導(dǎo)體層(2)進(jìn)行減薄處理,而后在該第二半導(dǎo)體層(2)上設(shè)置背場板電極(9)。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述具有背面場板結(jié)構(gòu)的HEMT器件的制備方法,其特征在于,它還包括:將該HEMT基體結(jié)構(gòu)與主要由支撐基板(7)組成的支撐基座連接,且使分布在所述支撐基板(7)上的次源極(5’)、次漏極(4’)和次柵極(6’)分別與所述源極(5)、漏極(4)和柵極(6)電連接,而后進(jìn)行去除所述選定襯底(1)的操作。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于杭州電子科技大學(xué),未經(jīng)杭州電子科技大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410008455.8/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的





