[發明專利]一種石墨烯基碲鎘汞復合薄膜材料及其制備方法有效
| 申請號: | 201410005364.9 | 申請日: | 2014-01-06 |
| 公開(公告)號: | CN103730523A | 公開(公告)日: | 2014-04-16 |
| 發明(設計)人: | 劉玫;滿寶元;畢冬 | 申請(專利權)人: | 山東師范大學 |
| 主分類號: | H01L31/0296 | 分類號: | H01L31/0296;H01L31/18 |
| 代理公司: | 濟南圣達知識產權代理有限公司 37221 | 代理人: | 崔苗苗 |
| 地址: | 250014 山*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 石墨 烯基碲鎘汞 復合 薄膜 材料 及其 制備 方法 | ||
1.一種石墨烯基碲鎘汞復合薄膜材料,其特征是,包括襯底層,襯底層上有單層或多層石墨烯層,石墨烯層上面沉積有碲鎘汞薄膜層,Hg1-xCdxTe,,0.2≤x≤0.3。
2.根據權利要求1所述的一種石墨烯基碲鎘汞復合薄膜材料,其特征是,所述的襯底層為CdZnTe、CdTe、GaAs、Al2O3、Si、石英或非晶玻璃。
3.根據權利要求1所述的一種石墨烯基碲鎘汞復合薄膜材料,其特征是,采用化學氣相沉積方法在銅箔上制備單層石墨烯薄膜,采用濕法轉移石墨烯層至所需襯底層上,利用激光分子束外延生長方法在石墨烯層上沉積制備碲鎘汞薄膜。
4.一種石墨烯基碲鎘汞復合薄膜材料的制備方法,其特征是,包括步驟如下:
(1)石墨烯層的制備:將銅箔清洗烘干后放入真空化學氣相沉積系統中,將系統密閉抽至10Pa以下,開始升溫,隨溫度升高在小于300℃時首先通入H2,繼續升溫至1050℃,保持恒溫,后通入CH4,保持恒溫40-50分鐘,之后先后關閉CH4、H2,并迅速冷卻得到單層石墨烯;
(2)石墨烯層的轉移:將沉積有石墨烯的銅箔剪切成小正方形,在附有石墨烯的方形銅箔上均勻旋涂PMMA,加熱烘烤,然后放入腐蝕性溶液中室溫浸泡,將銅完全腐蝕,得到石墨烯/PMMA結構材料,將石墨烯+PMMA膜遷移至所需襯底材料上,待自然干燥,加熱烘烤,將烘干的PMMA+石墨烯+襯底置于丙酮溶液中,去除PMMA,然后利用乙醇清洗并自然干燥,得到單層石墨烯/襯底結構材料;重復所述轉移操作可得多層石墨烯/襯底結構材料;
(3)碲鎘汞薄膜層的制備:選擇Hg1-xCdxTe,,0.2≤x≤0.3材料制成體靶,采用激光分子束外延(LMBE)設備,將高能量脈沖激光聚焦在靶材表面,以步驟(2)得到的石墨烯/襯底結構材料為基片,激光濺射沉積得碲鎘汞薄膜。
5.根據權利要求4所述的一種石墨烯基碲鎘汞復合薄膜材料的制備方法,其特征是,步驟(1)所述的H2流量50sccm,CH4流量50sccm。
6.根據權利要求4所述的一種石墨烯基碲鎘汞復合薄膜材料的制備方法,其特征是,步驟(2)所述的腐蝕性溶液為1-2mol/l的FeCl3溶液的。
7.根據權利要求4所述的一種石墨烯基碲鎘汞復合薄膜材料的制備方法,其特征是,步驟(2)所述的加熱烘烤均為在100-300℃的加熱板上烘烤5-50min。
8.根據權利要求4所述的一種石墨烯基碲鎘汞復合薄膜材料的制備方法,其特征是,步驟(3)所述激光沉積:激光波長為:248nm,能量:100-150mJ,激光頻率:2-10Hz,沉積溫度100-150℃,沉積時背景壓強范圍10-2-101Pa,沉積時間10-120分鐘。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





