[發明專利]一種具有低溫電荷檢測器的顆粒離子阱質譜儀

有效

• 申請號: 201410005139.5
• 申請日: 2014-01-06
• 公開（公告）號: CN103745905A
• 公開（公告）日: 2014-04-23
• 發明（設計）人: 聶宗秀;占鈴鵬;熊彩僑;張寧;劉保湘
• 申請（專利權）人: 中國科學院化學研究所
• 主分類號: H01J49/02
• 分類號: H01J49/02;H01J49/26
• 代理公司: 北京紀凱知識產權代理有限公司 11245
• 代理人: 關暢;王春霞

1.一種具有低溫電荷檢測器的顆粒離子阱質譜儀，包括離子阱質量分析器、激光誘導聲波解吸電離源和電荷檢測器；所述離子阱質量分析器包括上端電極、環電極和下端電極；所述上端電極和所述下端電極分別設于所述環電極的兩端,且所述環電極與所述上端電極和所述下端電極之間均設有絕緣陶瓷環；所述上端電極和所述下端電極的軸向上均設有通孔a；所述環電極的中心位置處設有通孔b；

所述電荷檢測器設于所述離子阱質量分析器的下部，且所述離子阱質量分析器與所述電荷檢測器之間設有絕緣陶瓷環；所述電荷檢測器表面設有一電磁屏蔽罩，所述電磁屏蔽罩與所述通孔a的位置相應處設有通孔c；所述激光誘導聲波解吸電離源包括樣品靶和激光器，所述樣品靶設于近所述通孔b處；其特征在于：

所述顆粒離子阱質譜儀還包括液氮冷卻裝置，所述液氮冷卻裝置包括一密閉腔體，所述密閉腔體與液氮流入管和液氮流出管相連通；所述密閉腔體設于所述電荷檢測器的下部，且為接觸配合。

2.根據權利要求1所述的顆粒離子阱質譜儀，其特征在于：所述密閉腔體的形狀和尺寸分別與所述電荷檢測器的形狀和尺寸相一致。

3.根據權利要求1或2所述的顆粒離子阱質譜儀，其特征在于：所述液氮流入管與所述密閉腔體的底部相連通；

所述液氮流出管與所述密閉腔體的底部相連通，且延伸至所述密閉腔體的頂部處。

4.根據權利要求3所述的顆粒離子阱質譜儀，其特征在于：所述密閉腔體的頂部設有一凹槽，所述液氮流出管延伸至所述凹槽內。

5.根據權利要求4所述的顆粒離子阱質譜儀，其特征在于：所述密閉腔體的高度為10～20mm；

所述凹槽的高度為3～5mm，所述液氮流出管的液氮入口端與所述凹槽頂部之間的距離為1～2mm。

6.根據權利要求1-5中任一項所述的顆粒離子阱質譜儀，其特征在于：所述顆粒離子阱質譜儀還包括液氮流速控制裝置；

所述液氮流速控制裝置包括液氮罐、流量計和微流閥；所述液氮流入管與所述液氮罐相連通，所述液氮罐還與一氮氣管路相連通，所述氮氣管路上依次設有所述流量計和所述微流閥，且所述流量計設于近所述液氮罐的一端。

7.根據權利要求1-6中任一項所述的顆粒離子阱質譜儀，其特征在于：所述電荷檢測器底部設有一溫度傳感器。