[發(fā)明專(zhuān)利]一種智能電子設(shè)備程控測(cè)試儀

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410004821.2
• 申請(qǐng)日: 2014-01-06
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN103760436A
• 公開(kāi)（公告）日: 2014-04-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳丁劍;韓彥召;于東亮
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 蘇州太浩信息科技有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01R31/00
• 分類(lèi)號(hào): G01R31/00;G01R31/40
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及機(jī)電產(chǎn)品測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種智能電子設(shè)備程控測(cè)試儀。

背景技術(shù)

為了適應(yīng)智能電網(wǎng)發(fā)展，現(xiàn)在智能電子設(shè)備（IED）功能越來(lái)越多，也越來(lái)越復(fù)雜。IED產(chǎn)品在研發(fā)過(guò)程和生產(chǎn)中如何進(jìn)行完整的、高效的測(cè)試，是IED生產(chǎn)廠家必須解決的一個(gè)課題。

目前，在產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量檢測(cè)技術(shù)方面，已有的一些IED檢測(cè)方法主要有兩種，一種是全人工檢測(cè)，即用一些標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源，與IED手動(dòng)連接，通過(guò)手動(dòng)調(diào)整信號(hào)源參數(shù)為IED加載測(cè)試信號(hào)，然后人工觀察IED狀態(tài)從而判斷檢測(cè)項(xiàng)目是否合格。另一種是半自動(dòng)的檢測(cè)方法，就是使用測(cè)試工裝，將測(cè)試工裝與標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源連接，然后將IED與測(cè)試工裝連接。檢測(cè)的時(shí)候人工加載信號(hào)，然后由測(cè)試工裝來(lái)判斷檢測(cè)結(jié)果。在IED研發(fā)測(cè)試方面，現(xiàn)有的測(cè)試方法主要以人工搭建測(cè)試環(huán)境為主。進(jìn)行新產(chǎn)品研發(fā)或者在產(chǎn)品升級(jí)改造時(shí)，要測(cè)試某一項(xiàng)功能，也是通過(guò)使用標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源，手動(dòng)調(diào)節(jié)和輸送信號(hào)，然后人工觀察IED狀態(tài)。有時(shí)也會(huì)制作一些測(cè)試工裝來(lái)提高測(cè)試效率，但自動(dòng)化程度很低。如果某個(gè)問(wèn)題需要大量重復(fù)性測(cè)試時(shí)就難以實(shí)現(xiàn)了。

因此在產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量檢測(cè)技術(shù)方面，現(xiàn)有技術(shù)具有檢測(cè)效率低、人工成本高，容易形成錯(cuò)檢、漏檢等缺點(diǎn)，從而導(dǎo)致整個(gè)生產(chǎn)效率降低、生產(chǎn)成本升高和產(chǎn)品合格率降低，產(chǎn)品合格率的降低將更進(jìn)一步地導(dǎo)致客戶滿意度降低。在研發(fā)測(cè)試方面，進(jìn)行全面測(cè)試和重復(fù)測(cè)試時(shí)因?yàn)槊恳豁?xiàng)測(cè)試都需要人工重新配置和觀察，需要花費(fèi)大量的人力和時(shí)間。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題，就是針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種實(shí)現(xiàn)研發(fā)測(cè)試自動(dòng)化和生產(chǎn)檢測(cè)自動(dòng)化的智能電子設(shè)備程控測(cè)試儀。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的技術(shù)方案如下：

一種智能電子設(shè)備程控測(cè)試儀，包括硬件和軟件，所述硬件包括可編程信號(hào)發(fā)生裝置、可編程測(cè)量與控制平臺(tái)和檢測(cè)工裝，所述軟件包括集成式圖形化工具模塊、用戶管理模塊、任務(wù)編制與調(diào)試模塊、測(cè)試運(yùn)行模塊、通信模塊、質(zhì)量信息管理模塊、測(cè)試任務(wù)書(shū)模塊和測(cè)試數(shù)據(jù)庫(kù)模塊，所述可編程測(cè)量與控制平臺(tái)分別與可編程信號(hào)發(fā)生裝置和檢測(cè)工裝相連接。

所述可編程信號(hào)發(fā)生裝置通過(guò)通訊接口和計(jì)算機(jī)相連。在計(jì)算機(jī)指令的控制下，可以產(chǎn)生不同參數(shù)和規(guī)格的信號(hào)源。

所述可編程信號(hào)發(fā)生裝置可產(chǎn)生電壓信號(hào)、電流信號(hào)和IED檢修電源。該裝置可模擬電網(wǎng)中電流及電壓的幅值、頻率、相位、諧波等，從而也提供了功率、功率因數(shù)等相關(guān)變量。調(diào)整程控信號(hào)源各參量的變化幅度和變化時(shí)序可模擬電網(wǎng)中的過(guò)載、短路、接地、漏電、不平衡、諧波、區(qū)域連鎖等各種故障，為IED的保護(hù)功能和測(cè)量功能進(jìn)行檢測(cè)提供必需的工作條件。通過(guò)程控這些條件的變化和時(shí)序，可實(shí)現(xiàn)對(duì)IED的電源、DI/DO、時(shí)鐘、測(cè)量、保護(hù)、控制、通訊和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)等功能的檢測(cè)。

所述可編程測(cè)量與控制平臺(tái)采用通訊接口和計(jì)算機(jī)連接。測(cè)試過(guò)程都由計(jì)算機(jī)自動(dòng)控制，克服了以往傳統(tǒng)人工檢驗(yàn)方式中存在的漏檢和誤檢問(wèn)題。

所述可編程測(cè)量與控制平臺(tái)包括模擬信號(hào)輸入端(AI)、模擬信號(hào)輸出端(AO)、開(kāi)關(guān)量輸入(DI)、開(kāi)關(guān)量輸出(DO)和程控電源。可編程測(cè)量與控制平臺(tái)在計(jì)算機(jī)上的自動(dòng)化測(cè)試軟件的指令的控制下，按特定的邏輯時(shí)序?qū)⒖删幊绦盘?hào)發(fā)生裝置產(chǎn)生的各類(lèi)信號(hào)源加載到被測(cè)產(chǎn)品，同時(shí)收集控制的動(dòng)作行為反饋到計(jì)算機(jī)。

所述集成式圖形化工具模塊提供自動(dòng)化測(cè)試環(huán)境。使用集成式圖形化工具模塊可快速配置測(cè)試參數(shù)，搭建手動(dòng)或自動(dòng)化測(cè)試環(huán)境，幫助完成產(chǎn)品研發(fā)，大幅提高研發(fā)效率。

所述測(cè)試運(yùn)行模塊分別與任務(wù)編制與調(diào)試模塊、通信模塊、質(zhì)量信息管理模塊相連接。測(cè)試運(yùn)行模塊根據(jù)編寫(xiě)和調(diào)試好的任務(wù)書(shū)，通過(guò)通信模塊和可編程信號(hào)發(fā)生裝置、可編程測(cè)量與控制平臺(tái)及被測(cè)IED進(jìn)行交換，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化檢測(cè)，然后其測(cè)試數(shù)據(jù)又可用于質(zhì)量信息管理模塊。

所述測(cè)試任務(wù)書(shū)模塊和測(cè)試數(shù)據(jù)庫(kù)模塊為測(cè)試運(yùn)行模塊的基礎(chǔ)。預(yù)先提供多種行業(yè)應(yīng)用測(cè)試任務(wù)書(shū)模板，包含符合相應(yīng)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的功能測(cè)試邏輯，僅需微調(diào)通訊和精度參數(shù)即可完成任務(wù)書(shū)編輯，從而實(shí)現(xiàn)檢測(cè)系統(tǒng)在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的快速導(dǎo)入。