[發明專利]票面特征檢測設備和方法

有效

• 申請號: 201410004818.0
• 申請日: 2014-01-06
• 公開（公告）號: CN103776370A
• 公開（公告）日: 2014-05-07
• 發明（設計）人: 鄒耀增;江和平;譚衛清;唐水林;李躍進;王連珍;李鵬
• 申請（專利權）人: 湖南豐匯銀佳科技有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00;G01B11/30
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 李志剛;吳貴明

1.一種票面特征檢測設備，其特征在于，包括：

光學系統，用于發射測量光斑到待測票面上；

成像系統，用于接收所述待測票面反射的測量光斑，并基于所述反射的測量光斑進行成像，輸出成像結果；以及

信號處理系統，與所述光學系統和所述成像系統分別相連接，所述信號處理系統用于接收所述成像結果，并基于所述成像結果檢測所述待測票面的凹凸特征。

2.根據權利要求1所述的票面特征檢測設備，其特征在于，所述信號處理系統包括：

圖像傳感器，與所述成像系統相連接，用于采集所述成像結果；

AD轉換器，與所述圖像傳感器相連接，用于將采集的所述成像結果轉換成圖像數據；以及

處理器，與所述光學系統和所述AD轉換器分別相連接，用于控制所述光學系統發射所述測量光斑和對所述圖像數據進行處理得到所述待測票面的凹凸特征。

3.根據權利要求2所述的票面特征檢測設備，其特征在于，所述信號處理系統還包括：

圖像存儲器，用于存儲所述圖像數據；以及

像素采集控制模塊，與所述圖像傳感器、所述AD轉換器和所述圖像存儲器分別相連接，用于對所述圖像傳感器、所述AD轉換器和所述圖像存儲器進行控制。

4.根據權利要求1所述的票面特征檢測設備，其特征在于，所述光學系統包括：

激光器，與所述信號處理系統相連接，用于發射所述測量光斑；以及

聚光透鏡組，設置在所述激光器的所述測量光斑的發射方向。

5.根據權利要求4所述的票面特征檢測設備，其特征在于，所述激光器包括激光二極管和激光發射電路，其中，所述激光發射電路與所述信號處理系統和所述激光二極管分別相連接，用于觸發所述激光二極管發射所述測量光斑。

6.根據權利要求4所述的票面特征檢測設備，其特征在于，所述聚光透鏡組包括：

針孔、柱面鏡和球面透鏡，其中，所述針孔、所述柱面鏡和所述球面透鏡間隔設置，并依次設置在所述激光器的所述測量光斑的發射方向。

7.根據權利要求5所述的票面特征檢測設備，其特征在于，所述激光二極管用于發射測量光束，所述測量光束經過所述聚光透鏡組之后形成線狀的測量光斑，其中，所述線狀的測量光斑為寬度小于25um和長度小于1750um的光斑。

8.根據權利要求1所述的票面特征檢測設備，其特征在于，所述成像系統包括：

成像探測器，與所述信號處理系統相連接，用于對所述反射的測量光斑進行成像，并輸出所述成像結果；以及

成像透鏡，設置在所述成像探測器與所述待測票面之間。

9.根據權利要求8所述的票面特征檢測設備，其特征在于，所述成像探測器為線性CMOS陣列傳感器或線性CCD陣列傳感器。

10.一種票面特征檢測方法，其特征在于，用于通過票面特征檢測設備對待測票面進行檢測，票面特征檢測設備包括：

光學系統，用于發射測量光斑到所述待測票面上；

成像系統，用于接收所述待測票面反射的測量光斑，并基于所述反射的測量光斑進行成像，輸出成像結果；以及

信號處理系統，與所述光學系統和所述成像系統分別相連接，

其中，所述票面特征檢測方法包括：

獲取所述成像結果；

確定所述反射的測量光斑在所述成像結果中的位置；以及

根據所述反射的測量光斑在所述成像結果中的位置得到所述待測票面的凹凸特征。

11.根據權利要求10所述的票面特征檢測方法，其特征在于，根據所述反射的測量光斑在所述成像結果中的位置得到所述待測票面的凹凸特征包括：

獲取測量基準坐標點的位置；

獲取所述反射的測量光斑在所述成像結果中的位置相對于所述測量基準坐標點的位置的偏移量；以及

通過所述偏移量計算所述待測票面的凹凸量，將所述凹凸量作為所述待測票面的凹凸特征。