[發明專利]HART儀表老化測試智能檢測裝置及檢測方法

無效

• 申請號: 201410003877.6
• 申請日: 2014-01-06
• 公開（公告）號: CN103697930A
• 公開（公告）日: 2014-04-02
• 發明（設計）人: 陳俊杰;何斌
• 申請（專利權）人: 上海工業自動化儀表研究院
• 主分類號: G01D18/00
• 分類號: G01D18/00;G05B19/042
• 代理公司: 上海申匯專利代理有限公司 31001
• 代理人: 吳寶根

1.一種HART儀表老化測試智能檢測裝置，其特征在于，包括底板、主CPU板、HART通信板、模擬量采集板、液晶顯示屏、電源調整模塊、繼電器模塊、通信模塊，模擬量采集板采集模擬量處理后送主CPU板，?HART儀表依次通過模擬量采集板、HART通信板與主CPU板進行信息通訊；主CPU板輸出信號到繼電器模塊控制高低溫實驗箱；主CPU板與通信模塊交換數據，通信模塊接PC機，主CPU板輸出數據到液晶顯示屏顯示，繼電器模塊和電源調整模塊固定在底板上，其他部分通過連接模塊與底板連接，電源調整模塊給各部分提供電源。

2.根據權利要求1所述HART儀表老化測試智能檢測裝置，其特征在于，所述模擬量采集板包括HART通道和模擬量通道，HART通道依次包括保護電路、HART通信電阻、直流隔離、HART多路選擇開關、光耦隔離；模擬量通道依次包括保護電路、電流采樣電阻、濾波電路、模擬通道多路選擇開關、儀表運放電路、AD芯片、磁耦隔離電路，模擬量采集板與整個裝置的底板完全隔離。

3.根據權利要求1所述HART儀表老化測試智能檢測裝置，其特征在于，所述主CPU板包括ARM微處理器、EEPROM儲存器、RAM芯片、以太網物理層芯片、以及與底板連接模塊，ARM微處理器通過以太網物理層芯片接以太網隔離變壓器與PC機通訊，ARM微處理器通過RS485隔離通信電路與PC機通訊。

4.一種HART儀表老化測試智能檢測方法，包括HART儀表老化測試智能檢測裝置，其特征在于，具體包括如下步驟：

1）裝置上電，開始執行上電自檢和參數初始化，準備完畢后開始等待檢測開始；

2）當接收到開始測量的指令后，執行通道掃描，開始切換通道，并判斷該通道是否有HART儀表；

3）當某通道檢測到有儀表接入的話，就會執行讀取儀表的ID，并存入RAM芯片，當所有通道都掃描完畢的時候，就開始進入儀表檢測程序；

4）首先判斷當前通道是否存在儀表，如果存在的話，則設置儀表4mA固定輸出，然后檢測電流值；再設置儀表固定輸出20mA，檢測電流值，并把結果存入RAM芯片；

5）當前通道檢測完畢后，判斷是否所有通道都檢測完畢，當所有通道都檢測完畢的時候，通過控制繼電器輸出打開高低溫老化箱的加熱功能，開始加熱儀表；

6）等待一段時間后，重回步驟4）進行儀表檢測程序，直到檢測完畢，最后執行計算并輸出檢測結果。