[發(fā)明專利]HART儀表老化測試智能檢測裝置及檢測方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410003877.6
• 申請日: 2014-01-06
• 公開（公告）號: CN103697930A
• 公開（公告）日: 2014-04-02
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 陳俊杰;何斌
• 申請（專利權(quán)）人: 上海工業(yè)自動化儀表研究院
• 主分類號: G01D18/00
• 分類號: G01D18/00;G05B19/042
• 代理公司: 上海申匯專利代理有限公司 31001
• 代理人: 吳寶根

1.一種HART儀表老化測試智能檢測裝置，其特征在于，包括底板、主CPU板、HART通信板、模擬量采集板、液晶顯示屏、電源調(diào)整模塊、繼電器模塊、通信模塊，模擬量采集板采集模擬量處理后送主CPU板，?HART儀表依次通過模擬量采集板、HART通信板與主CPU板進行信息通訊；主CPU板輸出信號到繼電器模塊控制高低溫實驗箱；主CPU板與通信模塊交換數(shù)據(jù)，通信模塊接PC機，主CPU板輸出數(shù)據(jù)到液晶顯示屏顯示，繼電器模塊和電源調(diào)整模塊固定在底板上，其他部分通過連接模塊與底板連接，電源調(diào)整模塊給各部分提供電源。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述HART儀表老化測試智能檢測裝置，其特征在于，所述模擬量采集板包括HART通道和模擬量通道，HART通道依次包括保護電路、HART通信電阻、直流隔離、HART多路選擇開關(guān)、光耦隔離；模擬量通道依次包括保護電路、電流采樣電阻、濾波電路、模擬通道多路選擇開關(guān)、儀表運放電路、AD芯片、磁耦隔離電路，模擬量采集板與整個裝置的底板完全隔離。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述HART儀表老化測試智能檢測裝置，其特征在于，所述主CPU板包括ARM微處理器、EEPROM儲存器、RAM芯片、以太網(wǎng)物理層芯片、以及與底板連接模塊，ARM微處理器通過以太網(wǎng)物理層芯片接以太網(wǎng)隔離變壓器與PC機通訊，ARM微處理器通過RS485隔離通信電路與PC機通訊。

4.一種HART儀表老化測試智能檢測方法，包括HART儀表老化測試智能檢測裝置，其特征在于，具體包括如下步驟：

1）裝置上電，開始執(zhí)行上電自檢和參數(shù)初始化，準(zhǔn)備完畢后開始等待檢測開始；

2）當(dāng)接收到開始測量的指令后，執(zhí)行通道掃描，開始切換通道，并判斷該通道是否有HART儀表；

3）當(dāng)某通道檢測到有儀表接入的話，就會執(zhí)行讀取儀表的ID，并存入RAM芯片，當(dāng)所有通道都掃描完畢的時候，就開始進入儀表檢測程序；

4）首先判斷當(dāng)前通道是否存在儀表，如果存在的話，則設(shè)置儀表4mA固定輸出，然后檢測電流值；再設(shè)置儀表固定輸出20mA，檢測電流值，并把結(jié)果存入RAM芯片；

5）當(dāng)前通道檢測完畢后，判斷是否所有通道都檢測完畢，當(dāng)所有通道都檢測完畢的時候，通過控制繼電器輸出打開高低溫老化箱的加熱功能，開始加熱儀表；

6）等待一段時間后，重回步驟4）進行儀表檢測程序，直到檢測完畢，最后執(zhí)行計算并輸出檢測結(jié)果。