[發明專利]曲軸加工過程中主軸頸空間位置測量的極坐標方法及裝置

有效

• 申請號: 201410001995.3
• 申請日: 2014-01-02
• 公開（公告）號: CN103743311A
• 公開（公告）日: 2014-04-23
• 發明（設計）人: 姚振強;汪學棟;許勝;孫姚飛;張滿潮;王雨詩
• 申請（專利權）人: 上海交通大學
• 主分類號: G01B5/004
• 分類號: G01B5/004
• 代理公司: 上海漢聲知識產權代理有限公司 31236
• 代理人: 郭國中

技術領域

本發明涉及機械工程中機械測試技術領域，尤其是一種快曲軸加工過程中主軸頸空間位置測量的極坐標方法，具體涉及曲軸加工過程中主軸頸空間位置測量的極坐標方法。

背景技術

目前，在曲軸加工過程中，工件裝夾之后的位置測量主要通過L型測量架實現。該測量機構為懸臂結構，在大批量、快速加工過程中，由于測量架運動的加速度大和懸臂結構剛度較低等原因，極易出現測量結構震蕩。震蕩在經過L型結構放大之后，安裝在結構末端的測量頭振動十分明顯，嚴重影響測量結果。

發明內容

針對現有技術中的缺陷，本發明的目的是提供一種曲軸加工過程中主軸頸空間位置測量的極坐標方法。

根據本發明提供的曲軸加工過程中主軸頸空間位置測量的測量裝置，包括：工作臺、校準裝置、測量桿、刻度盤、角度指針、標尺、位移指針、運動副；

校準裝置、測量桿設置在工作臺上，測量桿通過運動副連接刻度盤，角度指針設置在刻度盤上，位移指針設置在標尺上；

其中，刻度盤用于測量桿轉動的相位角，標尺用于測量測量桿移動的極半徑。

優選地，所述運動副為復合運動副，測量桿通過復合運動副能夠自由轉動和沿軸向移動，標尺設置在測量桿上。

優選地，還包括位移測量裝置，其中，位移測量裝置設置在工作臺上，標尺設置在位移測量裝置上，所述運動副為轉動副，測量桿能夠在工作臺上自由轉動和移動。

優選地，測量桿包括直桿部、分叉部，直桿部的一端連接分叉部，直桿部連接刻度盤。

根據本發明提供的曲軸加工過程中主軸頸空間位置測量的測量方法，利用上述的曲軸加工過程中主軸頸空間位置測量的測量裝置，執行如下步驟：

步驟一，用所述測量裝置測量校準裝置，獲得校準裝置極坐標；

步驟二，根據校準裝置極坐標調教所述測量裝置；

步驟三，用所述測量裝置測量被測對象，獲得被測對象極坐標。

與現有技術相比，本發明具有如下的有益效果：

本發明的測量結構不易震蕩，能夠降低振動對測量結果的影響。

附圖說明

通過閱讀參照以下附圖對非限制性實施例所作的詳細描述，本發明的其它特征、目的和優點將會變得更明顯：

圖1為本發明的一個原理示意圖；

圖2為本發明的另一個原理示意圖；

圖3為本發明的一個結構示意圖；

圖4為本發明的另一個結構示意圖。

圖中：

1???為刻度盤；

2???為測量桿和標度尺；

3???為校準裝置；

4???為復合運動副；

5???為第一被測對象；

6???為機架；

7???為位移測量裝置；

8???為轉動副；

9???為校準塊；

10??為第二被測對象。

具體實施方式

下面結合具體實施例對本發明進行詳細說明。以下實施例將有助于本領域的技術人員進一步理解本發明，但不以任何形式限制本發明。應當指出的是，對本領域的普通技術人員來說，在不脫離本發明構思的前提下，還可以做出若干變形和改進。這些都屬于本發明的保護范圍。

本發明是通過以下技術方案實現的。

在圖1中，校準裝置3的作用為標定測量原點；標度尺安裝在測量桿上，兩者共同用于測量被測對象的極半徑；測量桿通過復合運動副4連接刻度盤1；測量桿上設置有指針，指針依靠刻度盤1測量被測對象的相位角,其中刻度盤在第二個結構示意圖中安裝在轉動副8上，可以隨轉動副相對于機架移動，但是相對于機架不轉動。通過極半徑和相位角確定被測曲軸的空間位置。本發明標定簡單、結構簡單、所需測量值較少，能有效提高測量效率。

在圖2中，測量桿通過轉動副8安裝在機架6上。測量桿可以自由轉動和移動。測量桿的轉動角度即相位角，通過刻度盤1測量得到；測量桿的位移值即極半徑，通過標度尺測量。校準塊9固定安裝在機架6上，通過對校準塊9的測量，實現對位移測量裝置7的校準操作。

在此原理上的極坐標測量方法如下：

步驟一，用測量裝置測量校準裝置，獲得校準裝置極坐標；

步驟二，根據校準裝置極坐標調教測量裝置；

步驟三，用測量裝置測量被測對象，獲得被測對象極坐標。

以上對本發明的具體實施例進行了描述。需要理解的是，本發明并不局限于上述特定實施方式，本領域技術人員可以在權利要求的范圍內做出各種變形或修改，這并不影響本發明的實質內容。