[發明專利]變品質因數和變波長高靈敏度微觀探測裝置

有效

• 申請號: 201410000067.5
• 申請日: 2014-01-02
• 公開（公告）號: CN103743422A
• 公開（公告）日: 2014-04-23
• 發明（設計）人: 金石琦;雷波;何翔欣;蔡孟超;雷湘杰;施文彥;吳明紅
• 申請（專利權）人: 上海大學
• 主分類號: G01D5/26
• 分類號: G01D5/26
• 代理公司: 上海上大專利事務所(普通合伙) 31205
• 代理人: 陸聰明

1.一種變品質因數和變波長高靈敏度微觀探測裝置，其特征在于，包括第一激光器（1）、電光調制器（2）、第一分光器（3）、微腔左壁（4）、波導（5）、第一反射器（6）、第二激光器（7）、微腔右壁（8）、輸出耦合器（9）、第二分光器（10）、第一探測器（11）、數據處理器（12）、第二探測器（13）、第二反射器（14）和第三反射器（15）；所述電光調制器（2）介于第一激光器（1）和第一分光器（3）之間，所述第一分光器（3）位于微腔左壁（4）前，所述波導（5）置于微腔左壁（4）和微腔右壁（8）中間，所述第二激光器（7）位于第一反射器（6）之后，所述輸出耦合器（9）緊靠波導（5），所述第二分光器（10）位于輸出耦合器（9）之后，第二反射器（14）之前以及第一探測器（11）之側，所述第二反射器（14）置于第二分光器（10）和第二探測器（13）之間，所述第三反射器（15）置于第一分光器（3）和第二探測器（13）之間，所述數據處理器（12）連接第一探測器（11）和第二探測器（13）。

2.根據權利要求1所述的變品質因數和變波長高靈敏度微觀探測裝置，其特征在于，所述第一激光器（1）和第二激光器（7）為可變波長的半導體固體激光，光纖激光，氣體激光，準分子激光，染料液體激光或激光二極管。

3.根據權利要求1所述的變品質因數和變波長高靈敏度微觀探測裝置，其特征在于，所述電光調制器（2）為相位控制器、分布耦合器、折射率分布控制器、電光光柵控制器、分支干涉調制器、行進波型光調制器或平衡型橋型光調制器。

4.根據權利要求1所述的變品質因數和變波長高靈敏度微觀探測裝置，其特征在于，所述第一分光器（3）和第二分光器（10）為平面鍍膜光學元件、波導支叉元件或光纖分束元件。

5.根據權利要求1所述的變品質因數和變波長高靈敏度微觀探測裝置，其特征在于，所述微腔左壁（4）和微腔右壁（8）組成的微腔為法布里-珀羅干涉儀、半導體量子阱、平凹腔或雙凹腔。

6.根據權利要求1所述的變品質因數和變波長高靈敏度微觀探測裝置，其特征在于，所述波導（5）為半導體材料、玻璃或有機材料，橫截面形狀為圓形、方形、梯形或多邊形的長條元件。

7.根據權利要求1所述的變品質因數和變波長高靈敏度微觀探測裝置，其特征在于，所述第一反射器（6）、第二反射器（14）和第三反射器（15）為鍍膜平面光學元件、波導元件或反射光柵。

8.根據權利要求1所述的變品質因數和變波長高靈敏度微觀探測裝置，其特征在于，所述輸出耦合器（9）為光柵、棱鏡、波導或光纖。

9.根據權利要求1所述的變品質因數和變波長高靈敏度微觀探測裝置，其特征在于，所述第一探測器（11）和第二探測器（13）為光電二極管、二極管列陣探測器、光電倍增管或多通道板。

10.根據權利要求1所述的變品質因數和變波長高靈敏度微觀探測裝置，其特征在于，所述數據處理器（12）為光譜儀、示波器或計算機。