[發明專利]比濁計及檢測比濁計的樣品試管污染的方法

有效

• 申請號: 201380080343.7
• 申請日: 2013-09-30
• 公開（公告）號: CN105637342B
• 公開（公告）日: 2019-03-26
• 發明（設計）人: M.巴特費爾德;M.庫斯曼;B.德海;B.加斯納;F.斯坦豪爾;H-J.孔普赫;A.萊耶;M.庫珀斯;A.格利茨;A.米特賴特;C.漢施克;L.海德曼斯
• 申請（專利權）人: 哈克蘭格有限責任公司
• 主分類號: G01N21/15
• 分類號: G01N21/15;G01N21/51
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 曲瑩

1.一種用于測量樣品試管(40)中的液體樣品(49)的濁度的比濁計(10)，該比濁計(10)包括：

用于向樣品試管(40)發射軸向平行光束(60)的測量光源(20)；

布置為從樣品試管(40)接收散射光(66)的散射光檢測器(30)；

具有漫射器本體(52)和漫射器致動裝置(54)的漫射器(50)，所述漫射器致動裝置(54)用于把漫射器本體(52、52')在停放位置和測試位置之間移動，在所述停放位置時，漫射器本體(52)不與軸向平行光束(60)干涉，在所述測試位置時，漫射器本體位于測量光源(20)與樣品試管(40)之間，使得漫射器本體(52')與軸向平行光束(60)干涉并產生進入樣品試管(40)的漫射測試光(63)；以及

清潔裝置；

其中，所述樣品試管(40)是圓筒狀的，并具有圓筒壁(42)和平坦的底壁(41)；以及

清潔裝置布置在樣品試管的上方，并用于對樣品試管的圓筒壁(42)和平坦的底壁進行機械清潔。

2.如權利要求1所述的比濁計(10)，其中，所述測量光源(20)在平坦的底壁(41)的下方相對于樣品試管(40)軸向布置。

3.如權利要求1所述的比濁計(10)，其中，所述測量光源(20)具有LED(22)。

4.如權利要求3所述的比濁計(10)，其中，所述測量光源(20)具有激光LED。

5.如權利要求1所述的比濁計(10)，其中，所述漫射器本體(52)包括填充有散射顆粒的透明基體材料。

6.如權利要求1所述的比濁計(10)，其中，所述漫射器本體(52)包括毛玻璃。

7.如權利要求1所述的比濁計(10)，其中，還包括配備給漫射器本體(52')的光源檢測器(38)，用以在漫射器本體處于所述測試位置時從漫射器本體(52')直接接收漫射測試光(63)。