[發(fā)明專利]光纖預(yù)制件和由初級預(yù)制件制造此類光纖預(yù)制件的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201380080197.8 | 申請日: | 2013-08-13 |
| 公開(公告)號: | CN105636917B | 公開(公告)日: | 2018-11-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | C·戈內(nèi)特;埃馬紐埃爾·柏迪特弗萊瑞;L·卡爾沃;O·德爾瓦爾 | 申請(專利權(quán))人: | 德拉克通信科技公司 |
| 主分類號: | C03B37/012 | 分類號: | C03B37/012;C03C3/06;C03C13/04;G02B6/02 |
| 代理公司: | 北京林達(dá)劉知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 劉新宇;李茂家 |
| 地址: | 荷蘭阿*** | 國省代碼: | 荷蘭;NL |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光纖 預(yù)制件 初級 制造 方法 | ||
1.一種光纖預(yù)制件(20),其包括初級預(yù)制件(21)和圍繞所述初級預(yù)制件(21)的至少一個精制二氧化硅系包覆層(22),所述至少一個精制二氧化硅系包覆層(22)包括鋰和鋁,其特征在于,所述至少一個精制二氧化硅系包覆層(22)具有滿足下述不等式的鋰濃度[Li]與鋁濃度[Al]之間的比:
4×10-3≤[Li]/[Al]≤10×10-3。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光纖預(yù)制件,其中所述鋰濃度[Li]與鋁濃度[Al]之間的比滿足下述不等式:
4×10-3≤[Li]/[Al]≤6×10-3。
3.一種由光纖預(yù)制件(20)制作的光纖,其中所述光纖預(yù)制件包括初級預(yù)制件(21)和圍繞所述初級預(yù)制件(21)的至少一個精制二氧化硅系包覆層(22),所述至少一個精制二氧化硅系包覆層(22)包括鋰和鋁,其特征在于,所述至少一個精制二氧化硅系包覆層(22)具有滿足下述不等式的鋰濃度[Li]與鋁濃度[Al]之間的比:
4×10-3≤[Li]/[Al]≤10×10-3。
4.一種由初級預(yù)制件(21)制造光纖預(yù)制件(20)的方法,其包括下述步驟:
-通過將天然二氧化硅粉末(11)注射至由等離子體源提供的等離子體(4)使至少一個二氧化硅系包覆層(22)沉積在所述初級預(yù)制件上,
-將精制氣體(15)注射至等離子體(4)以與鋰反應(yīng),
所述方法的特征在于其還包括調(diào)整至少一種精制氣體注射參數(shù)的步驟以使沉積在所述初級預(yù)制件(21)上的包括鋰和鋁的所述至少一個二氧化硅系包覆層(22)具有滿足下述不等式的鋰濃度[Li]與鋁濃度[Al]之間的比:
4×10-3≤[Li]/[Al]≤10×10-3。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其中所述鋰濃度[Li]與鋁濃度[Al]之間的比滿足下述不等式:
4×10-3≤[Li]/[Al]≤6×10-3。
6.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的方法,其中其還包括控制沉積在所述初級預(yù)制件(21)上的所述至少一個二氧化硅系包覆層(22)中的鋰濃度[Li]和鋁濃度[Al]的控制步驟,其中作為所述控制步驟的結(jié)果的函數(shù)而進(jìn)行所述調(diào)整至少一種精制氣體注射參數(shù)的步驟。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其中其還包括將作為所述控制步驟結(jié)果的函數(shù)調(diào)整的鋰量注射入等離子體(4)的步驟。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法,其中其還包括將作為所述控制步驟結(jié)果的函數(shù)調(diào)整的鋁量注射入等離子體(4)的步驟。
9.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的方法,其中所述至少一種精制氣體注射參數(shù)包括精制氣體流速。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法,其中所述精制氣體流速設(shè)定為0至5000sccm。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法,其中所述精制氣體流速設(shè)定為0至800sccm。
12.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的方法,其中所述精制氣體(15)屬于包括以下的組:SF6、C2F6、Cl2、CF4、NF3、CF3Cl、C2Cl3CF3。
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