[發明專利]波形數據處理裝置及波形數據處理方法

在審

• 申請號: 201380080053.2
• 申請日: 2013-10-04
• 公開（公告）號: CN105593678A
• 公開（公告）日: 2016-05-18
• 發明（設計）人: 小澤弘明
• 申請（專利權）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: G01N30/86
• 分類號: G01N30/86
• 代理公司: 北京中原華和知識產權代理有限責任公司 11019
• 代理人: 壽寧;張華輝

本發明是一種波形數據處理裝置及波形數據處理方法。波形數據處理裝置可訪問存儲有色譜圖等的測定波形的數據、及包含測定波形上所存在的相接近的多個波峰的波峰群的開始點及結束點的信息、波峰群中所含的各波峰的位置及正負方向的相關信息的存儲裝置，波形數據處理裝置基于存儲裝置中存儲的數據及信息，針對波峰群，將波峰群的開始點及結束點作為起點及終點，求出滿足以下所有條件的最短直線或折線，將直線或折線確定為波峰群的基線。在正波峰連續的區域內，基線穿過測定波形的下側，成為直線或向下凸出的折線；在負波峰連續的區域內，基線穿過測定波形的上側，成為直線或向上凸出的折線；在正負波峰鄰接的區域內，基線的形狀不受測定波形的影響。

技術領域

本發明涉及一種通過對利用色譜儀(chromatograph)等試料測定裝置所獲取的測定波形的數據進行處理，而針對包含所述測定波形上的鄰接的多個波峰的波峰群確定基線的波形數據處理裝置及波形數據處理方法。

背景技術

在液相色譜儀(LC(liquid chromatograph))或氣相色譜儀(GC(gaschromatograph))中，將試料導入至管柱(column)并根據時間對所述試料中所含的成分進行分離，依次對這些成分進行檢測，由此獲取將橫軸設為保持時間，將縱軸設為信號強度的色譜圖。然后，從色譜圖中提取波峰，根據與峰頂的位置相對應的保持時間對成分進行鑒定，并且，根據波峰面積對所述成分進行定量。

當如上所述為了成分的定量而求出波峰面積時，需要確定所述波峰的基線。但是，如專利文獻1所述，如果在GC中進行升溫分析，或在LC中進行梯度(gradient)分析而獲取色譜圖，則多會產生基線隨時間發生變動的所謂基線漂移(drift)。

因此，在這種情況下，并非遍及色譜圖的整個區域地將基線設為固定的值，而是針對各波峰分別進行基線的確定。作為一般的方法，是在色譜圖上檢測出作為對象的波峰的開始點及結束點，將連結這些點的線段當作所述波峰的基線。并且，算出由所述開始點至結束點之間的波峰波形及所述基線所圍成的區域的面積作為波峰面積。

再者，在這里是舉出色譜圖作為一例，但有時在利用其它測定裝置所獲得的波形中同樣也會產生基線的漂移。例如，如專利文獻3所述，在分光測定中，在計算不配置試料而獲取的參考數據(reference data)與配置試料而獲取的測定數據的差分所獲得的光譜中，有時會產生因獲取參考數據時的測定環境與獲取測定數據時的測定環境的不同(光學系統的變化、溫度變化等)所引起的基線的漂移。因此，與色譜圖的情況相同，在確定光譜的基線的情況下，也可以如上所述通過針對各波峰分別進行基線的確定來排除基線漂移的影響。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本專利特開2004-271422號公報

專利文獻2：美國專利第6694265號說明書([0095]，[0096]，圖7A、7B)

專利文獻3：日本專利特開2001-343324號公報

發明內容

[發明所要解決的問題]

基線確定的精度會直接影響到波峰面積的值，因此在基于色譜圖或光譜等的測定波形對試料中的成分進行定量時，需要常常進行適當的基線確定。然而，例如，如圖8所示，在測定波形上多個波峰p1、p2相接近的情況下，利用所述方法針對每個波峰確定基線b1、b2時，有可能各波峰的基線會高于實際，結果在波峰的定量值中產生大的誤差。因此，在這種情況下，常采用如下方法：將這些波峰p1、p2設為未分離波峰群而檢測出共同的基線b3，然后，進行從所述未分離波峰群的波形減去基線的處理(去除背景)之后，進行波峰的分離處理及波峰面積的計算。