[發(fā)明專利]測定密封環(huán)隙內(nèi)的壓力在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201380080011.9 | 申請日： | 2013-10-31 |
| 公開（公告）號： | CN105874161A | 公開（公告）日： | 2016-08-17 |
| 發(fā)明（設計）人： | R·米歇爾 | 申請（專利權）人： | 界標制圖有限公司 |
| 主分類號： | E21B47/06 | 分類號： | E21B47/06 |
| 代理公司： | 上海專利商標事務所有限公司 31100 | 代理人： | 張欣 |
| 地址： | 美國得*** | 國省代碼： | 美國;US |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測定 密封 環(huán)隙內(nèi) 壓力 | ||
【說明書】：
下載完整專利技術內(nèi)容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于界標制圖有限公司，未經(jīng)界標制圖有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權和技術合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201380080011.9/2.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
