[發(fā)明專利]具有快速視場運動的MPI裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201380079521.4
• 申請日: 2013-09-11
• 公開（公告）號: CN105530861A
• 公開（公告）日: 2016-04-27
• 發(fā)明（設(shè)計）人: J·E·拉米爾;B·格萊希
• 申請（專利權(quán)）人: 皇家飛利浦有限公司
• 主分類號: A61B5/05
• 分類號: A61B5/05
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 李光穎;王英

1.一種用于影響和/或檢測視場(28)中的磁性顆粒的裝置(100)，所述裝置包括：

-選擇元件，其包括選擇場信號發(fā)生器單元(110)和選擇場元件(116)，所述選擇元件用 于生成磁選擇場(50)，所述磁選擇場具有其磁場強度的空間樣式，使得在所述視場(28)中 形成具有低磁場強度的第一子區(qū)帶(52)和具有較高磁場強度的第二子區(qū)帶(54)，在所述第 一子區(qū)帶中所述磁性顆粒的磁化不飽和，在所述第二子區(qū)帶中所述磁性顆粒的磁化飽和，

-驅(qū)動元件(120)，其包括驅(qū)動場信號發(fā)生器單元(122)和驅(qū)動場線圈(124；125、126、 127)，所述驅(qū)動元件用于借助于磁驅(qū)動場來改變兩個子區(qū)帶(52、54)在所述視場(28)中的 空間位置，使得磁性材料的磁化局部地改變，

-聚焦元件，其包括聚焦場信號發(fā)生器單元(110)和聚焦場元件(116)，所述聚焦元件用 于借助于磁聚焦場來改變所述視場(28)的空間位置，

-接收元件(148)，其用于采集檢測信號，所述檢測信號取決于所述視場(28)中的磁化， 所述磁化受所述第一子區(qū)帶(52)和所述第二子區(qū)帶(54)的所述空間位置的變化影響，

-存儲元件(151)，其用于存儲在沒有磁聚焦場的情況下獲得的所述裝置的靜態(tài)系統(tǒng)函 數(shù)，

-處理元件(152)，其用于通過使所述靜態(tài)系統(tǒng)函數(shù)的時域表示以與由所述磁聚焦場的 施加引起的所述視場的位置的變化成比例的方式進行移位來生成擴展的系統(tǒng)函數(shù)，并且所 述處理單元用于根據(jù)所述檢測信號和所述擴展的系統(tǒng)函數(shù)來重建所述視場中所述磁性顆 粒的空間分布。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其中，所述存儲元件(151)被配置為存儲所述靜態(tài)系統(tǒng) 函數(shù)的頻域表示，并且其中，所述處理元件(152)被配置為將所述靜態(tài)系統(tǒng)函數(shù)的所述頻域 表示轉(zhuǎn)換成在使所述靜態(tài)系統(tǒng)函數(shù)的所述時域表示進行移位之前的時域表示，以生成所述 擴展的系統(tǒng)函數(shù)并將所述擴展的系統(tǒng)函數(shù)轉(zhuǎn)換成用于重建所述磁性顆粒的所述空間分布 的頻域表示。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，還包括用于測量所述磁聚焦場的測量元件(160)，其中， 所述處理元件(152)被配置為使用測得的磁聚焦場來使所述靜態(tài)系統(tǒng)函數(shù)的所述時域表示 以與由測得的磁聚焦場引起的所述視場的位置的變化成比例的方式進行移位。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其中，所述處理元件(152)被配置為通過在所述磁聚焦 場的運動方向上進行填補來生成所述擴展的系統(tǒng)函數(shù)，其中，經(jīng)填補的體素被填充為零或 被填充有鄰近體素的值的外插值。