[發明專利]通過計算機斷層掃描成像系統的投射影像的生成

在審

• 申請號: 201380079071.9
• 申請日: 2013-06-25
• 公開（公告）號: CN105493142A
• 公開（公告）日: 2016-04-13
• 發明（設計）人: A·利特溫;R·奈杜;S·希馬諾夫斯基
• 申請（專利權）人: 模擬技術公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T11/00
• 代理公司: 深圳市百瑞專利商標事務所(普通合伙) 44240
• 代理人: 金輝

1.一種用于根據體積計算機斷層掃描(CT)數據生成投射影像的方法，包括：

通過輻射螺旋形地檢查一對象，以便當輻射源和檢測器陣列沿一旋轉軸在一平面和所 述對象之間改變相對位置時，輻射源和檢測器陣列關于所述旋轉軸在所述平面內旋轉；

限定一表面，投射影像關于所述表面聚焦；

對于第一視角，識別檢測器陣列的第一檢測器單元所產生的第一數據，所述第一數據 對應于貫穿空間上與所述表面重合的第一直線路徑的第一射線；

對于第二視角，識別檢測器陣列的第二檢測器單元所產生的第二數據，所述第二數據 對應于貫穿所述第一直線路徑的第二射線，且其中：

所述第一檢測器單元和第二檢測器單元包含于第一行檢測器單元內，所述第一行檢測 器單元在基本垂直于所述旋轉軸的方向上延伸；和

利用第一數據和第二數據生成投射影像。

2.根據權利要求1所述的方法，所述利用包括：

利用第一數據和第二數據以確定投射影像的第一像素的強度。

3.根據權利要求1所述的方法，其中所述表面為平面的。

4.根據權利要求1所述的方法，其中所述第一檢測器單元與第二檢測器單元為不同的 檢測器單元。

5.根據權利要求1所述的方法，包括：

對于第一視角，識別檢測器陣列的第三檢測器單元所產生的第三數據，所述第三數據 對應于貫穿所述第一直線路徑的第三射線；以及

對于第二視角，識別檢測器陣列的第四檢測器單元所產生的第四數據，所述第四數據 對應于貫穿所述第一直線路徑的第四射線，且其中：

第三檢測器單元和第四檢測器單元包含于第二行檢測器單元內。

6.根據權利要求5所述的方法，所述利用包括：

根據第一數據、第二數據、第三數據和第四數據生成投射線。

7.根據權利要求6所述的方法，其中所述投射線表示貫穿第一直線路徑的射線的衰減 的變化。

8.根據權利要求6所述的方法，包括將第一數據、第二數據、第三數據和第四數據分選 為兩個或更多分選組，所述兩個或更多分選組中的第一分選組具有第一空間寬度，其等于 所述兩個或更多分選組中的第二分選組的第二空間寬度。

9.根據權利要求1所述的方法，所述限定包括：

識別對象內的關注區域，且限定所述表面以接觸所述關注區域。

10.根據權利要求10所述的方法，其中所述關注區域對應于潛在威脅物品。

11.根據權利要求1所述的方法，所述表面在平行于旋轉軸的方向上延伸。

12.根據權利要求1所述的方法，包括：

對于第三視角，識別檢測器陣列的第三檢測器單元所產生的第三數據，所述第三數據 對應于貫穿第二直線路徑的第三射線，第二直線路徑平行于第一直線路徑，且在空間上與 所述表面重合；以及

對于第四視角，識別檢測器陣列的第四檢測器單元所產生的第四數據，所述第四數據 對應于貫穿所述第二直線路徑的第四射線，且其中：

第三檢測器單元和第四檢測器單元包含于第一行檢測器單元內；以及

利用第三數據和第四數據生成投射影像。