[發(fā)明專利]對象內(nèi)物品的衍射特征的生成

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201380078724.1
• 申請日: 2013-07-25
• 公開（公告）號: CN105612416B
• 公開（公告）日: 2019-01-01
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 戴維·謝弗;約翰·P·奧康納
• 申請（專利權(quán)）人: 模擬技術(shù)公司
• 主分類號: G01N23/20
• 分類號: G01N23/20;G01V5/00
• 代理公司: 北京派特恩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11270
• 代理人: 徐川;武晨燕

1.一種用于生成對象內(nèi)物品的衍射特征的系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括：

輻射源，該輻射源包括被配置成將所述物品暴露于輻射中的放射性影像同位素；

探測器陣列，被配置成對與所述物品相互作用的輻射進(jìn)行探測；以及

衍射特征部件，被配置成基于與所述物品相互作用的所述輻射的角出射來生成所述物品的所述衍射特征，其中，針對所述探測器陣列的多個探測器單元中的每個探測器單元，所述衍射特征描述了該探測器單元所探測到的光子的數(shù)量。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括：

衍射特征比較部件，被配置成將所述衍射特征與受關(guān)注物品的一組衍射特征進(jìn)行比較，以確定所述物品是否為受關(guān)注物品。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，所述衍射特征指示所述物品的分子組成。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括：

威脅探測部件，被配置成對指示所述對象的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析以識別出所述物品。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的系統(tǒng)，所述數(shù)據(jù)包括對所述對象進(jìn)行計算機(jī)斷層掃描CT檢查所生成的體數(shù)據(jù)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括：

CT裝置，被配置成生成所述體數(shù)據(jù)，所述CT裝置包括：

第二輻射源；

第二探測器陣列，被配置成對所述第二輻射源所發(fā)射的輻射進(jìn)行探測；

旋轉(zhuǎn)機(jī)架，被配置成使所述第二輻射源和所述第二探測器陣列相對于所述對象旋轉(zhuǎn)。

7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的系統(tǒng)，所述數(shù)據(jù)包括對所述對象進(jìn)行線掃描檢查所生成的二維數(shù)據(jù)。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括：

線掃描裝置，被配置成生成所述二維數(shù)據(jù)，所述線掃描裝置包括：

第二輻射源；以及

第二探測器陣列，被配置成對所述第二輻射源所發(fā)射的輻射進(jìn)行探測；

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中，與所述物品相互作用的所述輻射是鉛筆尖狀的輻射線束。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，所述探測器陣列包括能量出射探測器陣列，該能量出射探測器陣列被配置成對與所述物品相互作用的所述輻射的能量進(jìn)行測量以區(qū)分非相干散射和相干散射。

11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，所述放射性影像同位素包括銫-137和鈷-57中的至少一種。

12.一種用于確定對象內(nèi)物品的分子組成的方法，包括：

通過第一輻射來對對象執(zhí)行第一檢查，以生成指示所述對象的數(shù)據(jù)；

分析所述數(shù)據(jù)以識別出所述對象內(nèi)的所述物品；

通過由放射性影像同位素的衰減所生成的第二輻射來對所述物品執(zhí)行第二檢查；

基于所述第二輻射與所述物品相互作用時的角出射來生成所述物品的衍射特征，其中，針對探測器陣列的多個探測器單元中的每個探測器單元，所述衍射特征描述了該探測器單元所探測到的光子的數(shù)量；以及

使用所述衍射特征來確定所述物品的分子組成。

13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，所述第一輻射包括具有一系列能級的輻射光子，并且所述第二輻射是單能的。

14.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，所述執(zhí)行第一檢查包括：

從多個視角來檢查所述對象。

15.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，所述執(zhí)行第二檢查包括：

將指示所述第二輻射的非相干散射的數(shù)據(jù)與指示所述第二輻射的相干散射的數(shù)據(jù)進(jìn)行篩分。