[發(fā)明專利]清洗方法和清洗裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201380076677.7 | 申請(qǐng)日: | 2013-11-29 |
| 公開(公告)號(hào): | CN105210177B | 公開(公告)日: | 2018-08-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 星子貴廣;齊藤正廣 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 株式會(huì)社DALTON |
| 主分類號(hào): | H01L21/306 | 分類號(hào): | H01L21/306;H01L21/304 |
| 代理公司: | 北京三幸商標(biāo)專利事務(wù)所(普通合伙) 11216 | 代理人: | 劉淼 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 清洗 方法 裝置 | ||
本發(fā)明的課題在于提供一種方法和裝置,在清洗半導(dǎo)體基板等被清洗部件時(shí),可抑制混于該清洗介質(zhì)中的被清洗物的再次附著,并且可實(shí)現(xiàn)高的處理能力。上述課題通過下述方法解決,該方法包括:噴射步驟(B),其中,將多個(gè)被清洗部件(1)沉降于充滿處理液(2)的處理槽(11)內(nèi),在保持該狀態(tài)的同時(shí),朝向多個(gè)被清洗部件(1)噴射與充滿于上述處理槽(11)中的處理液(2)相同的處理液(2);排出步驟(C),其中,在對(duì)沉降有多個(gè)被清洗部件(1)的處理槽(11)內(nèi)的處理液(2)以及朝向多個(gè)被清洗部件(1)噴射的處理液(2)進(jìn)行排出時(shí),為了一邊保持將多個(gè)被清洗部件(1)沉降于處理液(2)中的狀態(tài),一邊從處理槽(11)內(nèi)排出處理液(2),在連續(xù)噴射處理液(2)的同時(shí),將其排出。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體基板等的被清洗部件的清洗方法和清洗裝置。更具體來說,本發(fā)明涉及一種清洗方法和清洗裝置,其中,控制基于噴淋的清洗介質(zhì)的導(dǎo)入和已導(dǎo)入的清洗介質(zhì)的導(dǎo)出,由此可在清洗半導(dǎo)體基板等的被清洗部件時(shí)抑制混合于該清洗介質(zhì)中的被清洗物的再次附著。
背景技術(shù)
在半導(dǎo)體基板上制作金屬薄膜圖案的方法之一包括剝離法。剝離法為下述的方法,在該方法中,在半導(dǎo)體基板上形成抗蝕圖案后,進(jìn)一步形成金屬薄膜,然后,將形成于半導(dǎo)體基板上的抗蝕圖案與形成于該抗蝕圖案上的金屬薄膜同時(shí)剝離,由此,制作金屬薄膜圖案。
作為用于這樣的剝離法的抗蝕圖案與金屬薄膜的剝離機(jī)構(gòu),進(jìn)行每片的單片(枚葉)處理。比如,在專利文獻(xiàn)1中,提出下述的單片處理技術(shù),其中,在使每片半導(dǎo)體基板旋轉(zhuǎn)的同時(shí),涂敷抗蝕劑剝離液,接著在使半導(dǎo)體基板旋轉(zhuǎn)的同時(shí),從噴嘴噴射處理液,由此使抗蝕劑膨潤,將抗蝕劑和形成于抗蝕劑上的金屬薄膜同時(shí)剝離。在該單片處理技術(shù)中,為了將金屬薄膜排出到半導(dǎo)體基板的外部,或?yàn)榱朔乐拱雽?dǎo)體基板的表面干燥的情況,將純水等的清洗液供給到半導(dǎo)體基板上。但是,在該單片處理技術(shù)中,會(huì)產(chǎn)生如下問題:用于使抗蝕劑膨潤并剝離的處理液會(huì)與將金屬薄膜排出到外部的清洗液碰撞,產(chǎn)生兩種液體的液滴、霧。該問題會(huì)引起從半導(dǎo)體基板剝離了的不需要的金屬薄膜再次附著于半導(dǎo)體基板上的問題。
針對(duì)這樣的問題,在專利文獻(xiàn)2中提出有下述單片處理技術(shù),其中,設(shè)置氣體噴射噴嘴,該噴嘴吹走流過旋轉(zhuǎn)的半導(dǎo)體基板的表面的清洗液,防止清洗液與從噴射噴嘴而噴射的處理液碰撞的情況。在該單片處理技術(shù)中,由于從氣體噴射噴嘴噴射氣體從而吹走清洗液,防止了處理液與清洗液的碰撞,故可防止因處理液與清洗液的碰撞而產(chǎn)生的液滴和霧的飛散。
另一方面,作為剝離法的抗蝕圖案與金屬薄膜的其它剝離機(jī)構(gòu),進(jìn)行批量單片處理。批量單片處理為下述的技術(shù),與上述那樣的每片的單片處理不同,其是將多個(gè)半導(dǎo)體基板收納于盒中并通過批量處理將其浸漬于剝離槽中,從槽的側(cè)面或內(nèi)面施加超聲波從而使抗蝕劑膨潤,然后,每次一片地從盒中取出半導(dǎo)體基板,在保持于旋轉(zhuǎn)夾具上而旋轉(zhuǎn)的同時(shí),噴射噴氣水流,由此,將抗蝕圖案和抗蝕圖案上的金屬薄膜同時(shí)去除。
在該批量單片處理技術(shù)中,伴隨半導(dǎo)體基板的近年的大口徑化,難以均勻地對(duì)全部的半導(dǎo)體基板施加超聲波,抗蝕劑的膨潤效果有時(shí)會(huì)產(chǎn)生不均勻。另外,如果剝離槽形成為溢流結(jié)構(gòu),則已剝離的金屬薄膜在槽內(nèi)浮游,在將半導(dǎo)體基板從剝離槽中取出時(shí),該薄膜有時(shí)會(huì)再次附著于半導(dǎo)體基板上。由此,在將半導(dǎo)體基板吸接于旋轉(zhuǎn)夾具上進(jìn)行清洗之前,必須預(yù)先對(duì)半導(dǎo)體基板的內(nèi)面進(jìn)行清洗。
針對(duì)這樣的問題,在專利文獻(xiàn)3中,提出有批量單片處理裝置,其中,使剝離槽與置換槽鄰接,構(gòu)成通過腔而覆蓋其頂面的浸漬槽單元,在該腔內(nèi)設(shè)置可將半導(dǎo)體基板保持于水平狀態(tài)和直立狀態(tài)的保持架。在該批量單片處理裝置中,保持架可進(jìn)行上下移動(dòng)和橫移,半導(dǎo)體基板以直立狀態(tài)浸漬于剝離槽內(nèi),在抗蝕劑膨潤后,對(duì)基板面照射超聲波,然后一口氣排除剝離液,在進(jìn)行清潔的剝離液的噴淋的同時(shí),從剝離槽中取出半導(dǎo)體基板。通過這樣的批量單片處理技術(shù),即使為大尺寸的半導(dǎo)體基板,仍可對(duì)整個(gè)面進(jìn)行剝離處理,剝離液、置換液的量也少,還可解決已剝離的金屬膜的再次附著的問題。
現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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