[發明專利]用來檢測物質的器件和產生這樣的器件的方法

在審

• 申請號: 201380076206.6
• 申請日: 2013-03-14
• 公開（公告）號: CN105143858A
• 公開（公告）日: 2015-12-09
• 發明（設計）人: 李智勇;葛寧;S.J.巴塞羅;郭惠沛
• 申請（專利權）人: 惠普發展公司;有限責任合伙企業
• 主分類號: G01N21/65
• 分類號: G01N21/65;G01V8/10
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 王岳;張濤

1.一種用來檢測物質的器件，包括：

孔板，其限定第一室；

基底，其耦合到所述孔板，所述基底包括定位于所述第一室內的納米結構，所述納米結構在暴露于所述物質時對所述物質起反應；以及

密封，其圍住所述第一室的至少一部分以保護所述納米結構免受過早的暴露。

2.如權利要求1所述的器件，其中所述孔板包括鎳、金、鉑、鈀或銠中的至少一個。

3.如權利要求1所述的器件，其中所述納米結構包括柱狀結構或圓錐形結構中的至少一個。

4.如權利要求1所述的器件，其中所述孔板電鍍有金、鈀或銠中的至少一個。

5.如權利要求1所述的器件，其中所述密封包括聚合物材料、柔性材料或可移除材料中的至少一個。

6.如權利要求1所述的器件，其中所述密封包括氣密封。

7.如權利要求1所述的器件，其中所述密封包括聚合物帶、塑料、箔、薄膜、蠟或聚二甲基硅氧烷中的至少一個。

8.如權利要求1所述的器件，其中所述基底包括表面增強拉曼光譜學基底、自激表面增強拉曼光譜學基底、增強熒光光譜學基底或增強冷光光譜學基底中的至少一個。

9.如權利要求1所述的器件，其中所述孔板限定從所述第一室密封的第二室，所述納米結構中的至少一些定位于所述第二室內，第二密封圍住所述第二室的至少一部分以保護所述納米結構免受過早的暴露。

10.一種產生用來檢測物質的器件的方法，包括：

將心軸浸沒在電鍍浴中以形成金屬殼體，所述心軸包括對應于所述殼體的孔或結構的圖案或結構；

從所述心軸移除所述殼體；以及

將所述殼體耦合到基底，所述殼體限定所述基底的納米結構所定位于的室，所述納米結構如果暴露于所述物質則證實對所述物質的暴露。

11.如權利要求9所述的方法，其中所述電鍍浴包括鎳、金或鉑。

12.如權利要求9所述的方法，還包括用金、鉑或銠電鍍所述殼體。

13.如權利要求9所述的方法，其中所述殼體包括孔板。

14.如權利要求9所述的方法，其中所述心軸包括不銹鋼層或鉻層中的至少一個。

15.如權利要求9所述的方法，還包括將密封耦合到所述殼體以覆蓋所述殼體的孔并保護所述納米粒子免受過早的暴露。