[發(fā)明專利]X線裝置及構(gòu)造物的制造方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201380076108.2 | 申請(qǐng)日: | 2013-05-10 |
| 公開(公告)號(hào): | CN105452804A | 公開(公告)日: | 2016-03-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 渡部貴志;丹尼爾希爾頓;山姆豪克 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 株式會(huì)社尼康;尼康計(jì)量公眾有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01B15/04 | 分類號(hào): | G01B15/04;G01N23/04 |
| 代理公司: | 北京中原華和知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11019 | 代理人: | 壽寧;張華輝 |
| 地址: | 日本東京都*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 線裝 構(gòu)造 制造 方法 | ||
1.一種X線裝置,是對(duì)被檢物體照射X線并檢測(cè)通過該被檢物體的X線,其特征在于具備:
X線源,從發(fā)光點(diǎn)射出X線;
載臺(tái),支承該被檢物體;
檢測(cè)器,檢測(cè)從該X線源射出、通過該被檢物體的穿透X線的至少一部分;
移動(dòng)裝置,為改變?cè)摪l(fā)光點(diǎn)與該被檢物體間的距離、或該發(fā)光點(diǎn)與該檢測(cè)器間的距離的至少一方的距離,而使該X線源、該載臺(tái)或該檢測(cè)器之一作為移動(dòng)物體移動(dòng)于第1方向;以及
第1測(cè)量裝置及第2測(cè)量裝置,是測(cè)量在該第1方向的該移動(dòng)物體的位置;
該第1測(cè)量裝置與該第2測(cè)量裝置,是配置在該移動(dòng)裝置的可移動(dòng)區(qū)域中與該第1方向交叉的第2方向;
該第1測(cè)量裝置及該第2測(cè)量裝置夾著該X線源的光軸配置;
該第1測(cè)量裝置的測(cè)量位置與該第2測(cè)量裝置的測(cè)量位置加以連結(jié)的線,是配置在以該檢測(cè)器檢測(cè)通過該被檢物體的穿透X線的區(qū)域內(nèi)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X線裝置,其特征在于,該第1測(cè)量裝置及該第2測(cè)量裝置被該移動(dòng)裝置支承。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的X線裝置,其特征在于進(jìn)一步裝備了具有排列于該第1方向的圖案、固定配置的第1標(biāo)尺及第2標(biāo)尺;
該第1測(cè)量裝置檢測(cè)該第1標(biāo)尺的圖案,并且該第2測(cè)量裝置檢測(cè)該第2標(biāo)尺的圖案,據(jù)以測(cè)量該移動(dòng)物體在該第1方向的位置。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的X線裝置,其特征在于進(jìn)一步具備引導(dǎo)該移動(dòng)裝置在該第1方向移動(dòng)的引導(dǎo)面;
在與支承該被檢物體的支承面正交方向,該第1測(cè)量裝置的該第1標(biāo)尺的測(cè)量位置及該第2測(cè)量裝置的該第2標(biāo)尺的測(cè)量位置與該引導(dǎo)面相同。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的X線裝置,其特征在于,該引導(dǎo)面進(jìn)一步具備第1引導(dǎo)面與第2引導(dǎo)面;
該第1引導(dǎo)面及該第2引導(dǎo)面夾著該X線源的光軸配置。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的X線裝置,其特征在于,在連結(jié)該X線源的發(fā)光點(diǎn)與該檢測(cè)器接受該X線的受光面的外緣而形成的面、與該受光面圍繞的區(qū)域外側(cè),配置該第1測(cè)量裝置及該第2測(cè)量裝置。
7.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的X線裝置,其特征在于具有運(yùn)算裝置,此運(yùn)算裝置是從該X線源對(duì)該載臺(tái)所保持的該被檢物體照射X線,該檢測(cè)器檢測(cè)通過該被檢物體的穿透X線的結(jié)果,算出該被檢物體的形狀。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的X線裝置,其特征在于具有運(yùn)算裝置,此運(yùn)算裝置是從該X線源對(duì)該載臺(tái)所保持的該被檢物體照射X線,該檢測(cè)器檢測(cè)通過該被檢物體的穿透X線的結(jié)果,算出該被檢物體的形狀。
9.一種構(gòu)造物的制造方法,其特征在于包含:
作成關(guān)于構(gòu)造物形狀的設(shè)計(jì)信息;
根據(jù)該設(shè)計(jì)信息制作該構(gòu)造物;
以制作的該構(gòu)造物為被檢物體,使用權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的X線裝置測(cè)量所制作的該構(gòu)造物的形狀;以及
比較該測(cè)量所得的形狀信息與該設(shè)計(jì)信息。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的構(gòu)造物的制造方法,其特征在于,是根據(jù)比較該形狀信息與該設(shè)計(jì)信息的比較結(jié)果,實(shí)施該構(gòu)造物的再加工。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的構(gòu)造物的制造方法,其特征在于,該再加工是根據(jù)該設(shè)計(jì)信息再制作該構(gòu)造物。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于株式會(huì)社尼康;尼康計(jì)量公眾有限公司,未經(jīng)株式會(huì)社尼康;尼康計(jì)量公眾有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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