[發(fā)明專利]具有內部校準的測定

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201380075848.4
• 申請日: 2013-12-20
• 公開（公告）號: CN105164533A
• 公開（公告）日: 2015-12-16
• 發(fā)明（設計）人: S·給達;Q·阮;J·P·斯金納;S·Y·特亭
• 申請（專利權）人: 雅培實驗室
• 主分類號: G01N33/543
• 分類號: G01N33/543
• 代理公司: 北京市中倫律師事務所 11410
• 代理人: 程芳

1.一種試劑盒，其包含：包含第一標記物的示蹤分析物、捕獲分析物結合分子和包含第二標記物的檢測分析物結合分子，其中所述捕獲分析物結合分子和所述檢測分析物結合分子能夠同時與所述示蹤分析物結合。

2.根據權利要求1所述的試劑盒，其中所述捕獲分析物結合分子附接至固體支持物上。

3.根據權利要求2所述的試劑盒，其中所述固體支持物選自顆粒、微粒、珠子、電極和多孔板。

4.根據權利要求1至3中任意一項所述的試劑盒，其中所述捕獲分析物結合分子和/或所述檢測分析物結合分子之一或兩者是抗體或其片段。

5.根據權利要求1至4中任意一項所述的試劑盒，其中所述第一標記物和所述第二標記物之一或兩者是發(fā)色團。

6.根據權利要求5所述的試劑盒，其中所述第一標記物和所述第二標記物之一或兩者是熒光團。

7.一種對測定進行內部校準的方法，其包括：

a)使捕獲分析物結合分子與預定濃度的用第一標記物標記的示蹤分析物及預定濃度的用第二標記物標記的檢測分析物結合分子接觸，其中所述捕獲分析物結合分子和所述檢測分析物結合分子同時與所述示蹤分析物結合；

b)測量所獲得的第一標記物的信號強度(I1₀)和第二標記物的信號強度(I2₀)；

c)將校正因子(F)確定為第二標記物的強度(I2₀)與第一標記物的強度(I1₀)的比值；由此該校正因子的確定用于對所述測定進行內部校準。

8.一種確定一個或多個測試樣品中的分析物濃度的方法，其包括：

a)在不存在或存在可能包含測試分析物的一個或多個測試樣品的情況下，使捕獲分析物結合分子與預定濃度的用第一標記物標記的示蹤分析物及預定濃度的用第二標記物標記的檢測分析物結合分子接觸，其中所述捕獲分析物結合分子和所述檢測分析物結合分子同時與所述示蹤分析物結合，并且如果存在的話，同時與所述一個或多個測試樣品中的測試分析物結合；

b)測量在不存在所述一個或多個測試樣品時獲得的第一標記物的信號強度(I1₀)和第二標記物的信號強度(I2₀)；

c)將校正因子(F)確定為第二標記物的強度(I2₀)與第一標記物的強度(I1₀)的比值；

d)測量在存在所述一個或多個測試樣品時獲得的第一標記物的信號強度(I1)和第二標記物的信號強度(I2)；以及

e)通過將第二標記物的強度(I2)與第一標記物的強度(I1)的比值除以校正因子(F)并減去示蹤分析物的預定濃度來確定在所述一個或多個測試樣品中的測試分析物的濃度。

9.根據權利要求7至8中任意一項所述的方法，其中示蹤分析物的預定濃度在所述捕獲分析物結合分子的結合容量的飽和度以下。

10.根據權利要求8至9中任意一項所述的方法，其中示蹤分析物的預定濃度的范圍為從低于預期的測試分析物濃度至高于預期的目標測試分析物濃度約5倍。

11.根據權利要求7至10中任意一項所述的方法，其中使用兩步測定形式。

12.根據權利要求11所述的方法，其中當使用兩步測定形式時，檢測分析物結合分子的預定濃度等于或超過在第一步中捕獲的分析物和示蹤分析物的濃度。

13.根據權利要求7至10中任意一項所述的方法，其中使用一步測定形式。

14.根據權利要求13所述的方法，其中當使用一步測定形式時，檢測分析物結合分子的預定濃度超過分析物和示蹤分析物的濃度。

15.根據權利要求7至14中任意一項所述的方法，其中所述方法使用自動化或半自動化系統來進行。

16.根據權利要求7至15中任意一項所述的方法，其中所述捕獲分析物結合分子附接至固體支持物上。

17.根據權利要求16所述的方法，其中所述固體支持物選自顆粒、微粒、珠子、電極和多孔板。

18.根據權利要求7至17中任意一項所述的方法，其中所述捕獲分析物結合分子和/或檢測分析物結合分子之一或兩者是抗體或其片段。