[發明專利]用于支持協議無關器件測試系統中協議重新配置的基于云的基礎設施

有效

• 申請號: 201380075598.4
• 申請日: 2013-02-28
• 公開（公告）號: CN105378493B
• 公開（公告）日: 2018-11-27
• 發明（設計）人: 杰拉德·陳;艾瑞克·沃克里克
• 申請（專利權）人: 愛德萬測試公司
• 主分類號: G01R31/3183
• 分類號: G01R31/3183
• 代理公司: 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258
• 代理人: 李曉冬

提供了一種用于使用自動測試設備(ATE)執行測試的方法。該方法包括：使用圖形用戶界面(GUI)獲取用于編程可編程測試儀模塊的協議選擇。該方法還包括：通過網絡從遠程計算機訪問與協議相關聯的配置文件。隨后，該方法包括：利用應用于至少一個被測器件(DUT)的使用該配置文件的通信協議來配置可編程測試儀模塊。最后，該方法包括：向可編程測試儀模塊發送用于執行程序流程的指令，其中程序流程包括用于測試至少一個DUT的測試序列；以及從可編程測試儀模塊接收這些測試的結果。

技術領域

本公開一般涉及自動測試設備的領域，并且更具體地，涉及控制此類設備的技術。

背景技術

自動測試設備(ATE)可以是對半導體片或管芯、集成電路(IC)、電路板或諸如固態驅動器之類的封裝器件執行測試的任何測試組件。ATE組件可用于執行快速執行測量并生成隨后可被分析的測試結果的自動測試。ATE組件可以是來自耦接至儀表、復雜的自動測試組件的計算機系統的任何東西，復雜的自動測試組件可包括定制的專用計算機控制系統以及能夠自動測試電子零件和/或進行半導體片測試(例如，片上系統(SOC)測試或集成電路測試)的許多不同測試器具。ATE系統既減少測試器件所花費的時間量以確保器件如設計那樣起作用，又用作診斷工具以在給定器件到達客戶之前確定給定器件內故障部件的存在。

當典型ATE系統測試某器件(通常稱為被測器件或DUT)時，ATE系統向該器件施加刺激(例如，電信號)并檢查器件的響應(例如，電流和電壓)。典型地，測試的最終結果是：“合格”，如果器件成功地提供了在預先建立的容差內的某些預期響應；或“不合格”，如果器件未提供在預先建立的容差內的預期響應。更尖端ATE系統能夠評估不合格器件以潛在地確定不合格的一個或多個原因。

ATE系統通常包括指導ATE系統操作的計算機。典型地，計算機運行一個或多個專用軟件程序以提供(i)測試開發環境和(ii)器件測試環境。在測試開發環境中，用戶典型地創建測試程序，即基于軟件構建控制ATE系統的各個部分的一個或多個文件。在器件測試環境中，用戶典型地向ATE系統提供一個或多個器件以進行測試，并指導ATE系統根據測試程序測試每個器件。用戶可通過簡單地向ATE系統提供另外的器件并指導ATE系統根據測試程序測試另外的器件來測試另外的器件。因此，ATE系統使得用戶能夠基于測試程序以一致且自動的方式測試許多器件。

圖1是用于測試某種典型DUT(例如，諸如DRAM之類的半導體存儲器器件)的常規自動測試設備主體111的示意框圖，常規自動測試設備主體111由通過通信總線102與ATE儀器111通信的系統控制器101控制。系統控制器101運行提供測試開發環境和器件測試環境以便運行用戶的測試所需的軟件程序。

ATE主體111包括硬件總線適配器卡座108A-108N。特定通信協議(例如PCIe、USB、SAS、SATA等)所特定的硬件總線適配器卡連接至設置在ATE主體上的硬件總線適配器卡座108A-108N并且通過相應協議所特定的纜線與DUT 109A-109N接口接合。ATE主體111還包括具有相關聯存儲器105的測試儀處理器101，以控制內置于ATE主體111中的硬件部件并生成通過硬件總線適配器卡與正被測試的DUT通信所必需的命令和數據。測試儀處理器101通過系統總線106與硬件總線適配器卡通信。

ATE主體111測試通過插接到ATE主體的硬件總線適配器卡座的硬件總線適配器而連接至ATE主體111的DUT 109A-109N的電子功能。因此，測試儀處理器101被編程以使用對于硬件總線適配器唯一的協議將需要運行的測試程序傳達至DUT。