[發明專利]用于存儲器裝置中的讀出放大器的自定時器

有效

• 申請號: 201380075447.9
• 申請日: 2013-03-15
• 公開（公告）號: CN105378842B
• 公開（公告）日: 2019-01-29
• 發明（設計）人: Y.周;K.岳;X.錢;B.盛
• 申請（專利權）人: 硅存儲技術公司
• 主分類號: G11C7/08
• 分類號: G11C7/08;G11C7/22
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 徐紅燕;王傳道

本發明公開了一種用于存儲器裝置中的讀出放大器的自定時器。

技術領域

本發明公開了一種用于存儲器裝置中的讀出放大器的自定時器。

背景技術

使用浮柵而在其上存儲電荷的非易失性半導體存儲器單元及形成于半導體襯底中的此類非易失性存儲器單元的存儲器陣列在本領域中是熟知的。通常，此類浮柵存儲器單元一直是分裂柵類型或層柵類型的。

讀操作通常使用讀出放大器在浮柵存儲器單元上進行。用于該目的的讀出放大器在美國專利No.5,386,158(“’158專利”)中有所公開，該專利以引用方式并入本文以用于所有目的。’158專利公開了使用汲取已知量的電流的參考單元。’158專利依賴于鏡射由參考單元汲取的電流的電流鏡，以及鏡射由所選存儲器單元汲取的電流的另一電流鏡。然后對每個電流鏡中的電流進行比較，并可基于哪一電流更大來確定存儲在存儲器單元中的值(例如0或1)。

另一種讀出放大器在美國專利No.5,910,914(“’914專利”)中有所公開，該專利以引用方式并入本文以用于所有目的。’914專利公開了用于可存儲多于一位數據的多層浮柵存儲器單元或MLC的讀出電路。其公開了多個參考單元的使用，這些參考單元用來確定存儲器單元中存儲的值(例如00、01、10或11)。

讀出放大器通常利用與所選存儲器單元進行比較以確定所選存儲器單元的內容的參考存儲器單元。所選存儲器單元部分地通過斷定相應的位線來選擇。位線將包括固有電容。這可影響讀出放大器的時序和準確度。

需要的是改進的讀出放大器，其補償位線的固有電容以提高閃存裝置中讀出放大器的準確度。

發明內容

上述問題和需求通過下述實施例得到解決。本發明公開了一種時序發生器。時序發生器接收預充電的位線和仿真實際的所選存儲器單元的參考單元。時序發生器生成可用于啟用讀出數據操作的信號。

附圖說明

圖1示出使用時序發生器生成讀出放大器控制信號的實施例。

圖2示出與讀出放大器一起使用的時序發生器的實施例。

圖3示出與讀出放大器一起使用的時序發生器的另一個實施例。

圖4示出與讀出放大器一起使用的時序發生器的另一個實施例。

具體實施方式

現在將參考圖1描述實施例。控制電路10接收ATD信號90，其為指示已將地址提供給從閃存陣列(未示出)進行的讀操作的“地址轉變檢測”信號。控制電路10包括預充電塊30，其接收作為電壓源的偏壓20。預充電塊在節點40輸出電壓。控制電路10還包括參考單元60，其為“虛擬”存儲器單元，該存儲器單元仿真讀出放大器將與之一起使用的閃存陣列(未示出)中的存儲器單元。參考存儲器單元60耦合到YMUX(Y多路復用器)50，其繼而連接到節點40。YMUX 50與用于從閃存陣列讀取數據的多路復用器的類型相同。

控制電路10還包括接收節點40以作為輸入的時序發生器100。時序發生器100的輸出耦合到邏輯控件70，并且邏輯控件70的輸出為讀出放大器控制信號80。讀出放大器控制信號80用于觸發從閃存陣列的讀操作。

使用讀出放大器控制信號80代替ATD信號90(現有技術中就是這種情況)可導致更準確的讀出操作，因為讀出放大器控制信號80的時序受參考單元60的參考單元電流和YMUX50的電容的影響，它們仿真在從存儲器陣列進行讀操作期間所選存儲器單元和位線的作用。因此，讀出放大器控制信號80包含從存儲器陣列讀出數據時固有的相同時序變化，并因此將更好地匹配于數據讀出操作。