[發明專利]半導體裝置

有效

• 申請號: 201380075414.4
• 申請日: 2013-04-02
• 公開（公告）號: CN105144580B
• 公開（公告）日: 2017-12-19
• 發明（設計）人: 山本剛司;神戶伸介
• 申請（專利權）人: 三菱電機株式會社
• 主分類號: H03K17/08
• 分類號: H03K17/08;F02P3/055;H03K17/695
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司11112
• 代理人: 何立波,張天舒

1.一種半導體裝置，其特征在于，具有：

開關元件；

驅動電路，其基于從外部的控制裝置提供的控制信號，輸出用于驅動所述開關元件的驅動控制信號；以及

控制電路，其基于從所述驅動電路輸出的所述驅動控制信號，對所述開關元件的驅動進行控制，

所述驅動電路在所述控制信號是用于驅動所述開關元件的信號的情況下，將信號電平相對較低的低電平的所述驅動控制信號輸出，

所述驅動電路在所述控制信號是用于使所述開關元件的驅動停止的信號的情況下，將信號電平相對較高的高電平的所述驅動控制信號輸出，

所述控制電路具有用于蓄積電荷的電荷蓄積用電容器，

所述控制電路在從所述驅動電路輸出的所述驅動控制信號為高電平時，使所述開關元件的驅動停止，并對所述電荷蓄積用電容器進行充電，

所述控制電路在從所述驅動電路輸出的所述驅動控制信號為低電平時，使用蓄積在所述電荷蓄積用電容器中的電荷，對所述開關元件進行驅動。

2.根據權利要求1所述的半導體裝置，其特征在于，

所述控制電路具有放電阻抗調整電路，該放電阻抗調整電路在從所述驅動電路輸出的所述驅動控制信號為高電平時，對來自所述開關元件的放電阻抗進行調整。

3.根據權利要求1所述的半導體裝置，其特征在于，

所述控制電路具有：

防止電荷回流用肖特基勢壘二極管，其用于防止來自所述電荷蓄積用電容器的電荷的回流；以及

場效應型晶體管，其設置于所述防止電荷回流用肖特基勢壘二極管的陽極和陰極之間。

4.根據權利要求1所述的半導體裝置，其特征在于，

所述控制電路具有放電抑制電路，該放電抑制電路在從所述驅動電路輸出的所述驅動控制信號從高電平切換至低電平時，對蓄積在所述電荷蓄積用電容器中的電荷的放電進行抑制。

5.根據權利要求1所述的半導體裝置，其特征在于，

所述控制電路具有：

電流檢測電路，其對流過所述開關元件的電流進行檢測；以及

在從所述驅動電路輸出的所述驅動控制信號為高電平時，如果由所述電流檢測電路檢測的流過所述開關元件的電流變得高于預先確定的電流值，則使所述控制電路的消耗電流增加的電路。

6.根據權利要求1所述的半導體裝置，其特征在于，

所述控制電路具有：

電流檢測電路，其對流過所述開關元件的電流進行檢測；以及

在從所述驅動電路輸出的所述驅動控制信號為低電平時，如果由所述電流檢測電路檢測的流過所述開關元件的電流變得高于預先確定的電流值，則使用蓄積在所述電荷蓄積用電容器中的電荷，使電流向所述驅動電路流動的電路。

7.根據權利要求1所述的半導體裝置，其特征在于，

所述控制電路具有：

電流檢測電路，其對流過所述開關元件的電流進行檢測；

在從所述驅動電路輸出的所述驅動控制信號為高電平時，如果由所述電流檢測電路檢測的流過所述開關元件的電流變得高于預先確定的電流值，則使所述控制電路的消耗電流增加的電路；以及

在從所述驅動電路輸出的所述驅動控制信號為低電平時，如果由所述電流檢測電路檢測的流過所述開關元件的電流變得高于預先確定的電流值，則使用蓄積在所述電荷蓄積用電容器中的電荷，使電流向所述驅動電路流動的電路。

8.根據權利要求1所述的半導體裝置，其特征在于，

所述控制電路具有：

溫度檢測電路，其對溫度進行檢測；以及

在從所述驅動電路輸出的所述驅動控制信號為高電平時，如果由所述溫度檢測電路檢測的溫度變得高于預先確定的溫度，則使所述控制電路的消耗電流增加的電路。

9.根據權利要求1所述的半導體裝置，其特征在于，

所述控制電路具有：

溫度檢測電路，其對溫度進行檢測；以及

在從所述驅動電路輸出的所述驅動控制信號為低電平時，如果由所述溫度檢測電路檢測的溫度變得高于預先確定的溫度，則使用蓄積在所述電荷蓄積用電容器中的電荷，使電流向所述驅動電路流動的電路。