[發明專利]二片罐用層合金屬板及二片層合罐體

有效

• 申請號: 201380073942.6
• 申請日: 2013-12-26
• 公開（公告）號: CN105008232B
• 公開（公告）日: 2019-08-13
• 發明（設計）人: 中川祐介;北川淳一;山中洋一郎;飛山洋一
• 申請（專利權）人: 杰富意鋼鐵株式會社
• 主分類號: B32B15/09
• 分類號: B32B15/09;B65D25/34;B65D25/14
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 楊宏軍

1.一種二片罐用層合金屬板，其特征在于，具備：

金屬板；

在容器成型后成為容器外面側的形成于所述金屬板的表面的第1聚酯樹脂層；和

在容器成型后成為容器內面側的形成于所述金屬板的表面的第2聚酯樹脂層，

所述第1聚酯樹脂層以30質量％以上且60質量％以下的比例含有聚對苯二甲酸乙二醇酯或共聚成分的含有率小于6mol％的共聚聚對苯二甲酸乙二醇酯，以40質量％以上且70質量％以下的比例含有聚對苯二甲酸丁二醇酯或共聚成分的含有率小于5mol％的共聚聚對苯二甲酸丁二醇酯，并且以外比例為0.01％以上且3.0％以下的比例含有聚烯烴系蠟，

所述第2聚酯樹脂層是共聚成分的含有率小于22mol％的共聚聚對苯二甲酸乙二醇酯，

所述第1聚酯樹脂層的殘留取向度小于30％，所述第2聚酯樹脂層的殘留取向度為4％以下，

所述殘留取向度是通過下述步驟(1)～(4)而得到的：

(1)針對層合前的取向聚酯樹脂或取向聚酯薄膜和層合后的樹脂或薄膜，在2θ＝20～30°的范圍內測定X射線衍射強度；

(2)用直線連接2θ＝20°、2θ＝30°處的X射線衍射強度并將該直線作為基線；

(3)由基線測定在2θ＝22～28°附近出現的最高峰的高度；

(4)在將層合前的薄膜的最高峰的高度記為P1、將層合后的薄膜的最高峰記為P2時，將P2/P1×100作為殘留取向度(％)。

2.如權利要求1所述的二片罐用層合金屬板，其特征在于，所述第1聚酯樹脂層的表面的中心線表面粗糙度Ra在0.4μm以上且2.0μm以下的范圍內。

3.一種二片層合罐體，其特征在于，其是使用權利要求1或2所述的二片罐用層合金屬板制造的。