[發明專利]微粒分析設備和微粒分析系統

有效

• 申請號: 201380072075.4
• 申請日: 2013-12-26
• 公開（公告）號: CN104969063B
• 公開（公告）日: 2018-05-22
• 發明（設計）人: 馬爾科雷勒·布蘭;佐藤一雅;大森真二;勝本洋一
• 申請（專利權）人: 索尼公司
• 主分類號: G01N27/02
• 分類號: G01N27/02;G01N15/12;G01N37/00
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 田喜慶;吳孟秋

1.一種微粒分析裝置，包括：

樣本通道，被配置為接收包含多個微粒的液體；

第一電極對，被配置為在所述樣本通道的至少一部分中形成交變電場；

測量部，被配置為測量所述第一電極對之間的阻抗；

分析部，被配置為根據在所述測量部中測量出的所述阻抗計算所述微粒的屬性值；以及

確定部，被配置為確定在所述測量部中測量出的所述阻抗的數據是否來源于所述微粒，

其中，所述分析部針對在所述確定部中被確定為來源于所述微粒的所述數據計算所述屬性值。

2.根據權利要求1所述的微粒分析裝置，其中，所述確定部根據所述阻抗的所述數據檢測所述微粒通過所述交變電場，并基于檢測結果做出確定。

3.根據權利要求2所述的微粒分析裝置，其中，所述確定部根據從所述阻抗獲得的電導的峰值位置和峰值高度來檢測所述微粒的通過。

4.根據權利要求2所述的微粒分析裝置，其中，當從所述阻抗獲得的電容的值和/或電導的值超過閥值時，所述確定部開始檢測所述微粒的通過，并且當所述電容的值和/或所述電導的值小于或等于所述閥值時，所述確定部停止檢測所述微粒的通過。

5.根據權利要求4所述的微粒分析裝置，其中，只有當所述電容的值和/或所述電導的值在預定時段內超過所述閥值時，所述確定部確定所述阻抗的所述數據來源于所述微粒。

6.根據權利要求1所述的微粒分析裝置，其中，所述分析部通過將在所述測量部中測量出的所述數據與特定模型進行比較或者適配來計算所述屬性值。

7.根據權利要求6所述的微粒分析裝置，其中，所述特定模型是基于復介電譜的介電松弛現象模型。

8.根據權利要求1所述的微粒分析裝置，包括：

分選部，被配置為基于在所述分析部中計算出的所述屬性值對所述微粒進行分選。

9.根據權利要求8所述的微粒分析裝置，包括：

第二電極對，被配置為在所述樣本通道中的形成所述交變電場的區域的下游形成電場，

其中，由所述第二電極對形成的電場產生介電泳以改變所述微粒的流向。

10.根據權利要求8所述的微粒分析裝置，包括：

與所述樣本通道連通的兩個或更多個分支通道，

其中，所述分選部改變所述微粒的流向，并且所述微粒被引入任意的所述分支通道。

11.根據權利要求1所述的微粒分析裝置，其中，所述樣本通道包括狹窄部，并且所述第一電極對被設置為將所述狹窄部夾在中間。

12.根據權利要求1所述的微粒分析裝置，進一步包括：

成像部，被配置為對穿過所述交變電場的所述微粒成像。

13.根據權利要求1所述的微粒分析裝置，其中，所述微粒是細胞。

14.根據權利要求13所述的微粒分析裝置，其中，所述屬性值包括從由膜電容、細胞質的導電性、及顆粒大小組成的組中選擇的至少一個值。

15.根據權利要求13所述的微粒分析裝置，其中，所述測量部測量在從0.1MHz至50MHz的頻率范圍內的多個點處的復阻抗。